• MCA4A 4チャンネルMCA(マルチチャンネル・アナライザ ) 製品画像

    MCA4A 4チャンネルMCA(マルチチャンネル・アナライザ )

    PRPHA(パルス波高分析)モードとMCS(マルチチャンネル・スケーラ)モ…

    PHAモードでは、16ビットADCを8nsごとに4チャンネル連続して収集し、32kの分解能を実現しています。 ポールゼロ・フィルタと台形波シェーピングを備え、典型的なプリアンプ信号も処理できます。 MCSモードでは、右側の4つのBNCコネクタを用いて、Start, Stop1, Stop2, CHADVの各入力信号を処理します。 内部メモリに、最大16Mbinのスペクトルを蓄積することが...

    メーカー・取り扱い企業: 大栄無線電機株式会社

  • EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは 製品画像

    EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは

    試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・…

    EBSD分析とは、SEM(走査電子顕微鏡)と組み合わせて、金属結晶粒子の方位、微粒子化を解析する事で、問題点を顕在化させ、 設計・プロセス・材料の改善や、品質トラブルの未然防止に役立てることが出来ます。 また、 信頼性試験と...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 断面研磨 製品画像

    断面研磨

    研究開発・品質保証のスピードアップに貢献!手間を惜しまないこだわりが、…

    利な刃物を用いて材料から薄片を直接切り出す手法 ■高精度精密研磨:正確に試料を固定でき、角度補正、荷重コントロール、研磨盤の回転方向や速度等の幅広い設定が可能 <観察・測定> ■金属顕微鏡から走査電子顕微鏡まで、クラック・ボイドからウィスカやマイグレーションまで幅広く対応 ■プリント基板を中心に様々な試料を対象とした測定・測長も実施 <半導体パッケージの開封とIC特性チェック> ■ボン...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 超音波顕微鏡『Gen6』 製品画像

    超音波顕微鏡『Gen6』

    異なる複数の層の深さを同時スキャン可能!水温度コントロールユニット内蔵

    100層の計測が可能です。 また、トランスデューサー周波数が230MHz→400MHzへアップしました。 【特長】 ■Poly Gate機能搭載 ■最大100層の計測が可能 ■最大走査範囲が60%拡大(面積比) ■トランスデューサー周波数がアップ(230MHz→400MHz) ■水温度コントロールユニット内蔵 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線光電子分光法を用いた分析手法 製品画像

    X線光電子分光法を用いた分析手法

    絶縁物の測定が可能!金属・半導体・高分子等さまざまな材料の研究開発や不…

    面の組成分析(定性・定量):ワイドスキャン、ナロースキャン ■化学シフトによる結合状態評価:ナロースキャン、波形分離 ■イオンスパッタを使用した深さ方向の組成分析:デプスプロファイル ■X線を走査することにより面分析(マッピング)や線分析も可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線光電子分光法を用いた分析手法 製品画像

    X線光電子分光法を用いた分析手法

    絶縁物の測定が可能!セラミック・ガラス等さまざまな材料に適用できます

    面の組成分析(定性・定量):ワイドスキャン、ナロースキャン ■化学シフトによる結合状態評価:ナロースキャン、波形分離 ■イオンスパッタを使用した深さ方向の組成分析:デプスプロファイル ■X線を走査することにより面分析(マッピング)や線分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線CTの分析原理および特長とその観察例 製品画像

    X線CTの分析原理および特長とその観察例

    材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価!3D画像化して検査することができま…

    CTとはComputed Tomographyの省略で、コンピュータ断面撮影法と呼ばれており 物体を走査(scan)することから「X線CTスキャン」と呼ばれています。 特長としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理を 行うことにより、物体の内部構造を得ることが可能。 異な...

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