走査電子顕微鏡観察の受託サービス｜JTL

SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。

は、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡（SEM）より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。 JTLでは、SEM/FE...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

放射光用 走査型透過X線顕微鏡『STXM』

Heガス充填、UHVなど多彩な試料環境！放射光ビームラインとのハード・…

『STXM』は、コンパクトかつリジットな設計の放射光用走査型 透過X線顕微鏡です。 透過、蛍光、電子収量など検出器の組み合わせ計測。 ゾーンプレートを使用し高空間分解能20～100nmを誇ります。 当社は、使いやすいデータ取得ソフトなどお客様のご要望に応じて カスタマイズ開発いたします。 【特長】 ■ゾーンプレートを使用し高空間分解能 ■5nm以下の位置安定性 ■コン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社トヤマ