【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

技術開発室の設備紹介

マイクロスコープや電子顕微鏡などを所有！各種分析装置を用いて常に安定し…

3工場のめっき液を分析・管理、めっき作業による薬品の消費量を把握し 補給量をコントロールすることで、常に安定した品質のめっきを ご提供できるよう努めています。 また、2015年に走査型電子顕微鏡を導入し、めっき被膜の表面分析や評価を行っております。 ミクロン単位での観察により肉眼では意識できない問題点を明確にするとともに、 お客様のニーズに合わせた表面状態のめっき条件を研究。 ...

メーカー・取り扱い企業： 大森クローム工業株式会社

【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社