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【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析
STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型X線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報(原子番号を反映したコントラスト像)が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥(転位、双晶等)の情報の獲得 本事例では 「...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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