超高感度DLTS　バルク内欠陥・界面準位測定装置

不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 高感度アナログ／デジタル（測定はアナログ、データ処理はデジタル） ロックイン平均法を採用したユニークなシステ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

製造ラインの省力化・自動化に！超小型自動化ふきとりユニット

製造ラインのふきとり作業を省力化！自動化！多軸ロボット、画像認識センサ…

『JF-2500』は、従来手作業での工程に頼っていたふきとり作業を簡単に 自動化した、自動ふきとりユニットです。 金属・ガラス・樹脂等の平面凹凸面を自動ふきとり、油膜の除去、 給水・補水が可能です。 また、マイクロファイバー繊維、パルプ、各種不織布等、 多種のふきとり素材をご用意しています。 大幅なコスト削減を実現します。 【特長】 ■さまざまな素材、形状の製品を自...

メーカー・取り扱い企業： 東西商事株式会社

X線TV検査装置『SFXシリーズ』

高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現！コンパクトなX線TV検査装置

『SFXシリーズ』は、世界最小クラスの超微小焦点X線源と、 高感度軟X線I.I.カメラとのカップリングにより、 高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現したコンパクトな検査装置です。 BGAやCSP、電子デバイス等の試料内部の微小欠陥や、 プラスチックパッケージのボイド、クラック等をリアルタイムで、 より鮮明に描画する能力を備えております。 高倍率は開放管タイプ、高濃度分解能は封入管タ...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部

プローブに原子を採用した表面分析装置（CAICISSの発展版）

結晶方位・極製は15分で一目瞭然！帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パスカル

マイクコンプレッサーアンプ　ＡＬＡ-10AF

集音用高性能リミッティングアンプ

【特徴】 ○高性能の集音用マイクとして威力発揮 ○BPFフィルタON/OFF機能・モニター機能等を装備 ○一般的なマイクロホン(不平衡タイプ)を超高感度化 ●その他機能や詳細については、お問い合わせください...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ダイ・エレクトロニクス

マイクコンプレッサーアンプ　ＡＬＡ-10Ｍ

アマチュア無線用マイクコンプレッサ（リミッティング）アンプ

アマチュア無線のマイク感度を超高感度化して、マイクロホンとの距離感を気にする事なく、楽に効率の良い、 高メリット音声通信ができます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ダイ・エレクトロニクス

飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』

結晶方位・極製は15分で一目瞭然！帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パスカル