• トップクラスの吐出空気量を誇るオイルインジェクションコンプレッサ 製品画像

    トップクラスの吐出空気量を誇るオイルインジェクションコンプレッサ

    PRA/Eの吐出ポートの形状改善により圧力損失を低減!独自の圧縮機構を進化…

    当社で取り扱っている「INV機/一定速機」についてご紹介いたします。 先端の加工技術と解析を繰り返し世界に冠たるZスクリューの最高性能を追求。 独自の圧縮機構を進化させ吐出空気量クラス最大水準を実現。 また、吸気・排気の冷却回路見直しにより周囲温度50℃でも異常停止しない 運転が可能です。 【特長】 ■トップクラスの吐出空気量 ■トップクラスの高効率 ■オーバーヒート事前警報や非常停止スイッ...

    メーカー・取り扱い企業: 三井精機工業株式会社

  • 『三酸化アンチモン パウダー製品/ウェット製品』 製品画像

    『三酸化アンチモン パウダー製品/ウェット製品』

    PR欧州最大級のベルギーCampine社製!脱中国・BCP対策の素材原料と…

    当社では、世界各地に原料ソースを持ち、世界最大級の生産量を誇る 三酸化アンチモン製造メーカーCampine社の製品を取り扱っております。 『三酸化アンチモン』は、ハロゲン系難燃剤との併用で難燃効果を高め、 難燃剤添加量の低減に寄与します。 パウダー製品とウェット製品をご用意しており、 ウェット製品は、三酸化アンチモンに可塑剤を配合したグレードです。 作業現場でATOの発塵を抑え...

    メーカー・取り扱い企業: キンセイマテック株式会社

  • 【分析事例】ゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価 製品画像

    【分析事例】ゲート電極から基板へのBの突き抜け評価

    SSDP-SIMSによる測定面の凹凸・高濃度層の影響を避けた測定

    IMS分析(SSDP-SIMS)を行うことで、表面の凹凸・スパッタに伴う表面側高濃度層からのノックオンの影響を受けない測定が可能です。ゲート電極(BドープPoly-Si)から基板へのボロンの突き抜けを評価しました。基板側からの測定ではノックオンなどの影響が見られず、より正確な突き抜け評価が可能であることがわかります。このように、バリアメタルのバリア性・Low-k膜中への金属の入り込み・凹凸の...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TDSによるステンレス中水素脱離量の分析 製品画像

    【分析事例】TDSによるステンレス中水素脱離の分析

    TDS(昇温脱離ガス分析法)で金属中水素の脱離の評価が可能です

    鋼材など多くの金属材料は、常温で結晶格子内を拡散する拡散性水素により劣化(水素脆化)することが知られています。今回は水素を添加したステンレス板(SUS316L)について、TDSで水素の脱離を評価した例を示します。150℃付近の低温域で拡散性水素と考えられる脱ガスピークが確認されました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】海水中のTOC量評価 製品画像

    【分析事例】海水中のTOC評価

    塩を含む溶液中のTOC濃度の分析が可能です

    TOC(全有機炭素:Total Organic Carbon)計は、試料中に含まれる有機物のを評価することができます。TOCの測定値は、河川や工業用水の水質汚濁を監視・管理する指標として広く採用されています。 今回はNPOC法(不揮発性有機体炭素:Non-Purgeable Organ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】食品中の有機体・無機体炭素量測定 製品画像

    【分析事例】食品中の有機体・無機体炭素測定

    固体中の有機体・無機体炭素を評価することが可能です

    全有機体炭素測定計(TOC計)は、試料中の全炭素(TC:Total Carbon) 、無機体炭素(IC:InorganicCarbon)をそれぞれ分けて定することが可能です。サンプルは水溶液にすることなく固体のまま測定することができます。 本資料では市販の膨張剤、塩に含まれるTOC、TC、IC評価事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】洗浄リンス液中の有機物残渣量評価 製品画像

    【分析事例】洗浄リンス液中の有機物残渣評価

    TOCやLC/MS/MSによる評価が可能です!

    製造過程における有機物汚染は製品の性能に大きく影響を与えます。洗浄工程のリンス液のような液体試料中の有機物分析では、全有機体炭素(TOC)計や液体クロマトグラフ-タンデム質分析計(LC/MS/MS)を用いた評価が可能です。ここでは、工業用界面活性剤の一つであるNPnEO(ノニルフェノールエトキシレート)についてTOCとLC/MS/MSを用いた評価例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TOC]全有機体炭素測定 製品画像

    [TOC]全有機体炭素測定

    TOC計は、試料中の全炭素 、全有機体炭素、無機体炭素(IC:を…

    TOC計は、試料中の全炭素(TC:Total Carbon) 、全有機体炭素(TOC:Total Organic Carbon)、無機体炭素(IC:Inorganic Carbon)を評価することができる装置です。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    放射線測定サービス

    工業製品・大気中・水・食品など、放射線の測定はおまかせください

    製品の出荷前検査や輸出品など、放射線を測定し報告書を作成いたします。英文の報告書も作成可能です。 検体ごとに適切な測定機器をもちいて測定を行います! 【輸出コンテナや製品からの放射線率を確認】 【食品の放射能を測定】 【...

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    [AES]オージェ電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在の評価

    AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定が可能 ・微小領域(数十nm~サブミクロン程度)の定性・定が可能 ・主成分元素の深さ方向分析・線分析・面分析の測定...

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  • 【分析事例】お茶に含まれる機能性成分の定量分析 製品画像

    【分析事例】お茶に含まれる機能性成分の定分析

    茶カテキンとカフェインの濃度評価および製品比較

    MSTではLC/MS/MSを用いて茶カテキンの定性・定分析が可能です。本資料では、お茶を入れる温度・時間によるEGCGの濃度変化を観察しました(図1)。温度が高いほどEGCGの抽出効率が高く、抽出5分後までの抽出が大きいことが分かりました。また、市販...

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  • 【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価 製品画像

    【分析事例】セラミックス材料に含まれる微金属の価数評価

    ppmオーダーの微金属も評価可能です

    各種材料の特性を設計・制御するにあたって、母材に微含まれている元素の種類や、またそれらの存在状態を明らかにするのは非常に重要です。このうち元素の種類やに関してはSIMS(二次イオン質分析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質分析法)などによ...

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  • 【分析事例】有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS) 製品画像

    【分析事例】有機フィルムの昇温脱離ガス分析(TDS)

    真空環境下における有機物の脱ガス成分を評価可能

    TDSは真空環境下で試料を昇温し、脱離したガスをモニターする手法です。有機物の測定を行う場合、多の脱ガスによる装置汚染で測定が困難となる場合がありますが、あらかじめ試料や分析条件を調整し脱ガスをコントロールすることにより、分析が可能となります。 以下に有機フィルムについて、TDS分析を行...

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  • 【分析事例】レスベラトロールの血液中・尿中成分濃度分析 製品画像

    【分析事例】レスベラトロールの血液中・尿中成分濃度分析

    機能性成分の吸収算出ができます

    とされています。 レスベラトロールは摂取後に胃で吸収され、速やかに代謝されることが知られています。代謝の過程でグルクロン酸抱合体や硫酸抱合体になりますが、それら代謝物をレスベラトロールに変換して定することにより、レスベラトロールの吸収を算出できます。...

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  • [XPS]X線光電子分光法 製品画像

    [XPS]X線光電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在、化学結合状態評価に有…

    XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis とも呼ばれ...

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  • [SIMS]二次イオン質量分析法 製品画像

    [SIMS]二次イオン質分析法

    二次イオンを検出し、各質における検出を測定することで、試料中に含ま…

    イオンを試料表面に入射させると、試料表面からは電子・中性粒子・イオンなど様々な粒子が放出されます。SIMSは、これらの粒子のうちイオンを検出し、各質における検出を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定を行う手法です。 ・高感度(ppb~ppm) ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い(主成分元素から極微...

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  • 第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析 製品画像

    第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析

    点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます

    ップ半導体である窒化ガリウム(GaN)は主にパワーデバイスの分野で用いられ、近年では急速充電器や5G通信基地局用途としての需要が高まっています。高信頼性を有するGaNの開発にあたっては、結晶中の欠陥の低減や欠陥がもたらす電気/光学特性などへの影響の理解が重要です。本資料では第一原理計算を用いてGaN中の窒素欠損(VN)が形成する欠陥準位の解析を行った事例を紹介します。本解析は欠損だけでなく、元...

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