各種多芯型ハーメチックシール

PR厳しい気密・絶縁性が求められる用途に好適！試作から量産まで幅広くサポー…

『各種多芯型ハーメチックシール』は、金属とガラスで製作する 気密・絶縁性に優れたターミナル（端子）です。 気密性は1×10－9Pa・m3/s以下、 絶縁抵抗はDC500Vで1000MΩ以上に対応！ 封着・ロウ付け・鍍金加工・溶接加工のほか、 試作から量産まで用途や目的に合わせた製作が行えるのも特長です。 ◎詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。.....

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フジ電科

金属調高意匠性塗料『シャインミラーV3』

PR金属感、光輝感のある、めっき調仕上げが可能！要求性能に合わせた幅広い塗…

『シャインミラーV3』は、独自の手軽さで、金属感や特殊効果を 実現した金属調高意匠性塗料です。 複雑な形状品に「めっき」より明るい意匠を生み出す製品。 当製品は、1コート塗装で金属調の外観が得られ、 塗膜性能もメタリック塗料と同等の性能が得られます。 さらに上塗塗料として、それぞれの用途に合ったクリヤーを 使用することで、耐久性が向上した塗膜を形成します。 【特長】 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社佑光社

液晶ディスプレイ材料分析

材料と目的に応じた分析手法をご提案！液晶・封止材など部材毎の化学分析例…

【その他の化学分析例(一部)】 ＜液晶＞ ■GCMS：液晶成分分析 ■ICP-AES：液晶中の金属元素分析 ■結果 ・シアノ基を有する液晶成分が使用されており、また液晶中から金属元素が検出された ・シアノ基の分極は金属と親和し液晶駆動に影響する場合がある ＜偏光板＞ ■HS-GCMS︓...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【観察事例】トグルスイッチのX線観察

内部の⾦属板がズレている様⼦を観察！X線透視観察・直交CT観察によるト…

実装前のトグルスイッチ部品において、操作レバーが切り換わらない 不具合品が見つかりました。 X線で透視観察を行った結果、内部の金属板がズレている様子が 観察され、不具合の原因が判明しました。 当事例では、本来、金属板は中央の端子を軸にシーソーのように動き 回路を切り替える役目をするが、不具合品では金属板がズレているた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

微小異物分析のためのサンプリング技術

エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプ…

■多層膜中異物の特殊サンプリング技術 ・基板上金属膜に埋もれた異物 　金属膜エッチング⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 ・多層薄膜中の異物 　表面層の切り取り⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 　ミクロトーム/FIB　薄片化⇒...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

実装部品接合部の解析

機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…

電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。 特にはんだ接合部においては、形状のみならず、 金属組織の観察が重要になります。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

異物分析のための試料加工技術

各種の試料加工技術を駆使して迅速な分析結果をご報告！当社の試料加⼯技術…

ルの 概要についてご紹介しております。 【マイクロ切削ツール 仕様】 ■刃先の幅：50μm又は100μm ■切削可能深さ：2～300μm 程度 ■切削対象物：樹脂、ガラス、Siウェハ、金属等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】ウィスカ観察

信頼性試験から観察、3次元測長まで支援！輸送リスクを排除したウィスカ評…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する 金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを 観察するとともに、3次元測長を行い、ウィスカ成長を評価します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

超微小硬度計による材料の特性評価

超微小硬度測定の荷重変曲線から、様々な材料の顔（特性）が見えてきます！

み量が少ないガラスプレートが より硬く、押込み量の多いプラスチックケースがより軟らかいといえます。 また、回復量の多いガラスプレートとプラスチックケースは弾性の割合が高く、 回復量の少ない金属類は塑性の割合が高いといえます。 この他に、線図から分かる材料特性についても評価を行っております。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■各材料の特性評価 ■線図...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

sMIMによる半導体拡散層の解析

濃度の変化をCの変化として検出！dC／dV信号も取得でき、拡散層の解析…

による半導体拡散層の解析を行っております。 マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)は、ドーパント濃度に 線形な相関を持つ信号が特長です。 sMIM(エスミム) は、SPMに装着した金属探針の先端からマイクロ波を 照射してサンプルを走査し、その反射波を測定し拡散層の濃度に 線形な相関を持つsMIM-C像を得ることができます。 反射率から得られるZsのC成分は酸化膜容量と空...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス