法令違反にならない磁界測定器【新JIS規格に適合】

PRボタン1つで簡単に電力設備周りの磁界を高精度で測定でき、軽量かつ片手で…

3次元磁界測定器TMM-3は、電力設備等から発生する磁界の強度を計測できるポータブル測定器です。電気設備に関する技術基準を定める省令では、JISに適合した測定器で測定することを要求しています。そのJIS規格が、2017年にJIS C 1910-1に置き換えられたこと受け、新JISに対応するTMM-3を開発しました。2024年内に販売予定です。 このような方にオススメです！ ・電気設備を法令...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社電力テクノシステムズ

管路曲り測定装置 孔曲り測定　削孔曲り測定　レンタルOK

PRアンカー工事、地盤改良工事等のボーリング孔の曲り測定や埋設管（水道、通…

『NEMONAVI』は、管路内にセンサーユニットを通すことにより、管路の真直度や位置を測定することができる装置です。 主にアンカー工事で地中に挿入埋設された外管の真直度の計測や、埋設物直下での自在ボーリング工法のロッドの位置計測に使われています。 ～デモンストレーション（無償）ご希望される方はご連絡下さるか、カタログをダウンロード下さいませ！～ 【特長】 ◎測定の開始から...

メーカー・取り扱い企業： 根本企画工業株式会社

ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！薄膜・…

『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルで...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！プリン…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることがで...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能…

『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』

集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と 部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された 集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。 革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな 測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。 また、フィッシャーのFP法により校正なしで単体サンプルや多層膜の 分析ができ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ