DAコンバータユニット（USB接続）『TUSB-0416DAM』

PR分解能16ビット、変換レート1MHz USBインターフェース付きDAコ…

本ユニットは、分解能16bit、変換レート1MHzの高性能DAコンバータユニット（USB接続）です。 アナログ出力はBNCコネクタ４チャンネルで、高分解能の直流電圧出力の他、FIFO方式メモリとUSBインターフェースとの組み合わせで、制限なく連続的に波形出力が可能です。 可変基準電圧源の他、ファンクションジェネレータ、任意波形発生器などとしても使用できます。...出力チャンネル数：4ch（2ch*...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社タートル工業

【セラミックヒーター】窒化アルミ製　ワトローウルトラミック(R)

PRセラミックの中でも抜群の高熱伝導率性を有する窒化アルミ基板と特殊な発熱…

ワトローウルトラミック(R)は、半導体や電気自動車(EV) 等の開発において、好適なパフォーマンスを提供する窒化アルミヒーターです。 高い熱伝導性、急速な温度変化への対応能力、高温時でも安定した電気的特性、そして正確な温度制御が可能な熱電対内蔵構造を持つ当ヒーターは、高度な熱処理ニーズに応えます。 【特長】 ○熱伝導性の高い窒化アルミ基板を採用 ○急速昇温(最大150℃/sec)・急速降温に対応...

メーカー・取り扱い企業： 坂口電熱株式会社

高電圧絶縁信頼性試験装置『HVUαシリーズ』

高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録が可能！筐体デザインも…

『HVUαシリーズ』は、部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能な 高電圧絶縁信頼性試験装置です。 最大4000Vの印加電圧で高電圧デバイスのTDDB試験、インバーター回路基板等の エレクトロケミカルマイグレーション試験、各種高電圧部品の絶縁信頼性試験 などにご...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

高電圧絶縁信頼性評価装置　HVU-3000

最大５０ＣＨの独立電源を採用！　絶縁信頼性試験、評価試験装置

最大５０チャンネルまでの、高電圧での絶縁信頼性試験ができる、評価試験装置です。 ◆特徴◆ ◇最大３０００Ｖまでの高電圧出力 　高電圧デバイスの評価が可能。 ◇独立電源を採用 　１つのサンプルが短絡しても、他のサンプル...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

絶縁抵抗測定器『ECM-500シリーズ』

500Vの印加電圧で試験可能！エレクトロケミカルマイグレーションテスタ…

『ECM-500シリーズ』は、最大500Vの印加電圧でプリント配線板、電子材料 などの絶縁信頼性 評価試験ができる高精度テスターです。 CH毎に印加電圧設定が可能な電源出力回路は、フィードバック制御により サンプル両端電圧が設定値になるよう...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

電波暗室レンタルサービス（EMC、EMI、ノイズ対策）

関西圏で電波暗室をお探しのお客様にEMI対策に特化した設備をリーズナブ…

て、電波暗室レンタルサービスでは次のシステムを一括でご利用いただけます。 ●放射エミッション測定システム　（測定範囲：9 kHz　～　6 GHz） ●雑音端子電圧※1測定システム　（測定範囲：150 kHz　～ 30 MHｚ） ●電磁波可視化システム...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

ノイズ測定・診断・対策

EMC指令に加え、低電圧指令・機械指令の支援も対応！ノイズに関する相談…

は、10m法大型電波暗室・シールドルームを完備。 お客様のご指定場所による「オンサイトテスト（現場のEMC試験）」も可能です。 また、「CEマーキング適合支援業務」では、EMC指令に加え、低電圧指令・ 機械指令の支援も承ります。 ご用命の際は、お問い合わせください。 【産業機器、情報処理装置、家電のエミッション試験】 ＜試験項目＞ ■電源端子妨害電圧 ■放射電界強度 ...

メーカー・取り扱い企業： 双信電機株式会社 東京本社

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ・加速電圧0.1～30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による） ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 　EDX検出器による元素分析が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

絶縁劣化評価システム　マイグレーションテスター

一括数百個の絶縁試験が可能、マイグレーションテスター

が行えます 　◇レポート機能を搭載しています □高性能＆高機能 　◇印加と計測はｃｈ毎に完全独立で１６ｍｓの計測間隔を達成 　◇最大４００ｃｈまでの増設が可能です 　◇各チャンネル毎に試験電圧が設定可能です □高い信頼性 　◇自己診断機能により異常計測を未然に防止 　◇データをＣＦカードへ記録するため、簡単にデータ抽出が可能 □シンプルなシステム 　◇テスター本体だけで計測が可...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

耐トラッキング性試験

白金製電極間に電圧を印加し、トラッキング破壊が生じるまで電解液を滴下す…

白金製電極間に電圧を印加し、トラッキング破壊が生じるまで電解液を滴下する。規定の滴下数で破壊しない電圧で評価する。 ・IEC60112 CTI(Comparative Tracking Index 50滴耐える...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

パワーサイクル試験受託サービス

パワーデバイスの熱疲労を評価するパワーサイクル試験を承ります

【装置スペック（一部抜粋）】 ■1号機 　・最大印加電流：800A/10A 　・最大印加電圧：5V/400V 　・チャンネル数：10 ■2号機 　・最大印加電流：532A 　・最大印加電圧：10V 　・チャンネル数：5（2素子/CH） ■3号機・4号機 　・最大印加電流：18...

メーカー・取り扱い企業： シーマ電子株式会社

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD(CDM)試験受託サービス

印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…

【装置仕様】 ■印加(充電)電圧：0～±4000V ■ステップ電圧：5V ■印加回数：1～99回 ■ピン数：最大1024ピン ■印加ユニット：JEDEC、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ方法 　・D-CDM(直...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

絶縁耐力

50Hzまたは60Hzの商用周波数の電圧を、試験片を挟んだ電極間に与え…

50Hzまたは60Hzの商用周波数の電圧を、試験片を挟んだ電極間に与え、試料の破壊する電圧を求めます。絶縁破壊強さ(max 70kV)( IEC60243, ASTM D149, JIS C2110)、測定方法　：短時間法, 段階法, 耐...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

導電体の測定

導電性のゴムの規格であるが、導電性プラスチックの抵抗測定に応用していま…

電性のゴムの規格であるが、導電性プラスチックの抵抗測定に応用しています。 測定方法：試験片の両端に向き合う形で、平行に設けた電極を用い、体積抵抗率を求めます。外側電極に微少電流を流し、内側電極間の電圧を測定し、抵抗を求めます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

１.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度が上昇し、抵抗が変化する。 ２.レーザの走査に同期して電流値（または電圧値）を読み取る。 ３.ボイド・析出物等の欠陥は配線正常部とTCRが異なるため、抵抗変化量も異なり特異な電流値（または電圧値）として検出される。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

X線透過観察サービス｜JTL

X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

【最小焦点寸法：0.25μmでの高分解能観察】 焦点寸法が最小で0.25μm（理論値）であるため、数ミクロン～数10ミクロンオーダーでの高分解能観察を行うことが可能です。 【X線管電圧：30kV～160kVの幅広い透過力】 X線管電圧が30kVから160kVまでと装置によってX線の透過力が異なり、試料のサイズ・評価目的に応じた幅広い観察に対応しております。 【多方向からの...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社