• <無料サンプル進呈> 電子基板用 防水防湿コーティング 製品画像

    <無料サンプル進呈> 電子基板用 防水防湿コーティング

    PR非有機溶剤で安心安全。電子部品の防水や絶縁など、コンフォーマルコーティ…

    電子基板用保護コーティング剤『フロロサーフFG-3650シリーズ』は、 電子部品の防水や絶縁保護、実装基板の防湿防水コーティング(コンフォーマルコーティング)に適しています。 ▼フロロサーフFG-3650シリーズの優れた性能 高防湿・防水性 / 耐リチウム電池電解液  / 耐酸性・耐酸化ガス 高絶縁抵抗・低誘電率 / 非引火性・非危険物 ~    法人様限定で【無料サンプル】を進呈しています!...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フロロテクノロジー

  • 【落雷対策ソリューション】落雷から電子機器を守りデータ損失を防ぐ 製品画像

    【落雷対策ソリューション】落雷から電子機器を守りデータ損失を防ぐ

    PR「雷を発生させない」落雷対策ソリューション!落雷・雷サージによる業務停…

    近年の激しい落雷により製造機器やサーバPC、監視カメラ、PBXなどへの被害が発生するリスクに対し、 事業やデータ・情報機器などを守るための総合的な落雷対策をご紹介します。 大切な電子機器やデータを守るためには、侵入する雷サージから機器を保護する 「SPD(Surge Protective Device)」、「サンダーブロッカーPro」、 また落雷現象を"発生させない" 避雷針「dinnteco」...

    • 避雷針『dinnteco 100plus』5.JPG
    • 避雷針『dinnteco 100plus』3.JPG
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    メーカー・取り扱い企業: 大興電子通信株式会社

  • 卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』 製品画像

    卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

    試料の観察や元素分析が可能!半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…

    当社では、日立ハイテク社製の卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』を 取り扱っています。 SEM観察が一般化されて半世紀。様々な分野にてSEM観察は重要な観察手段と なっています。 卓上型SEMの"帯電軽減モード"な...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察 製品画像

    卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

    微細なクラックが見やすい!導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…

    『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。 製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。 光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ダイヤモンドのクラリティ観察 製品画像

    ダイヤモンドのクラリティ観察

    マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

    一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電子部品...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 超音波顕微鏡『SAM』 製品画像

    超音波顕微鏡『SAM』

    非破壊にて観察が可能!内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮!

    当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • クロスビームFIBによる断面観察 製品画像

    クロスビームFIBによる断面観察

    FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

    スケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を クロスビームFIBによる断面観察で行います。 1)FIB加工をリアルタイムで観察できるため目的の箇所を確実に捉えます。 2)2つの二次電子検出器(In-Lens/チャンバーSE)により試料から様々な情報が得られます。 3)加工用FIBと観察用低加速SEMを1つのチャンバーに集約し大気に曝すことなく観察。 4)拡散層:PN界面の可視...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察 製品画像

    【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察

    明視野モードと通常/標準モードの断面観察などを掲載しています!

    当資料では、卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察に ついてご紹介しています。 ネオジム磁石など磁性を帯びた試料は、着磁状態でSEM観察はできませんが、 脱磁処理を施すことで、SEM観察や元素分析を行う...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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