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熱中症指標計 WBGT-300シリーズ【黒球付 暑さ指数計】
PR■JIS クラス1.5適合 ■IP65の防水性能 労働現場や学校、ス…
WBGT-301/302は、測定値のメモリ機能や有線通信機能など、高性能かつ高機能なモデルです。 WBGT-301plus/302plusは、WBGT-301/302に無線通信機能を内蔵したモデルです。 洗練されたデザインにより操作性を向上させるとともに、ハンディタイプの熱中症指標計で最高基準の高精度(クラス1.5)を実現いたしました。 また、防塵防滴構造についてはIP65相当に対応しました...
メーカー・取り扱い企業: 京都電子工業株式会社 東京支店
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PR産業安全技術協会(TIIS)検定合格品でゾーン1(第一類危険箇所)とゾ…
防爆スポットクーラーは、危険場所のうちゾーン1(第一類危険箇)とゾーン2(第二類危険箇所)で使えます。 電源は三相200V、単相100Vの2種類。 冷媒回路は内圧防爆構造、制御回路は耐圧防爆構造、ユニットの装置はすべて防爆構造。 装置下部にドレンタンクを装備。 オプションにて電源コードの長さの変更可能(標準3m)本体の移動や固定に便利なキャスター・ストッパー付きです。 【特徴】 ○ゾーン1(第一...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同工業所 楠根工場
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CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…
■電流パルス印加法(JEDEC・JEITA・AEC) ■電源過電圧法(JEDEC・JEITA・AEC) ■電圧パルス印加法(AEC) ■ESDパルス印加法(参考試験) ■ラッチアップ判定法(JEDEC方式・電流定義方式) ■試験前後の保護ダイオード特...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…
り、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格(抜粋)】 ■JEDEC(JESD78E) ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・ClassI:室温、ClassII:最大使用周囲温度 ■JEITA{JEITA ED4701/302(試験方法306B)} ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・Class...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託!故障解析・分…
【装置概要】 <シーメンス(メンター)「PWT2400A」> ■加熱用電源600A×4台を装備 ■ゲート用電源-10V~20V×16台を装備 ■最大16chのデバイスを同時に試験 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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DUTボード作製から試験まで!ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…
V(Step:5V) ■単一/ステップアップ印加、ピンコンビネーション印加等の多様な印加条件に対応 ■破壊判定方法:保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、VoL/VoH特性評価、 電源ピンの特性評価の4種類に対応 ■ソケットや専用の変換基板等の手配から試験用DUTボード作製から試験まで対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに…
部品⇒変更部品(コスト削減)の置き換え時の信頼性評価 ■対応部品の例 ・能動部品(トランジスタ、ダイオード、サイリスタ、等) ・受動部品(コンデンサ、抵抗、等) ・LCD ・基板 ・電源 等...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ
太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測
造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD(静電気…
) ■単一印加、ステップアップ印加、ピンコンビネーション印加等 多様な印加条件に対応します。 ■破壊判定方法は、保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、 VoL/VoH特性評価、電源ピンの特性評価の4種類に対応します。 ■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ
太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測
造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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