品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』

PR今更聞けない「校正の基礎」を解説。校正とは？成立条件？なぜ必要？トレー…

「ものづくり」の品質管理には、それに関わる機器の”校正”が必須です。 では、そもそも校正とは何？成立条件は？資格や校正周期は？トレーサビリティって何？など、 意味やルールを正しく理解していないと、正しい「校正」はできません。 ここでは「ものづくり」で避けて通れない「校正」についてまとめた資料を進呈中です。 後半では温湿度計・板厚計の校正事例や、校正や計測・測定関連の基礎用語も掲載しています。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レックス

【X線CT：受託計測】非破壊内部検査　

PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…

進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社　計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察　 【受託依頼　フロー】 1）　お問合せ（IPROS, ホームページ、Eメール...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室

【近赤外撮影用】テレセントリックレンズ

高倍率観察が可能！半導体デバイスの内部の観察や電気・電子部品の非破壊検…

た。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。 シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部の観察をはじめ、 ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や、ウェハーや フリップボンダー用の位置決めにお使いいただけます。 【特長】 ■近赤外撮影用 ■近赤外波長コート＠1100nmを中心に高い透過率を実現 ■赤外カメラとSWIR光源...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ケンコー光学

NIR テレセントリックレンズ『KCM-1DUMP-NIR』

固体中の異物混入や欠落品の検査などに！同軸落射のテレセントリックレンズ

株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-1DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 同軸落射で、ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や 固体中の異物混入や欠落品の検査などの用途にお使いいただけます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■光学倍率：1 ■W.D.：65mm ■被写界深...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ケンコー光学

NIR テレセントリックレンズ『KCM-4UMP-NIR』

ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査にお使いいただけ…

たします。 光学倍率は4倍、被写界深度0.08mm、分解能5.3μmなどの 仕様となっております。 固体中の異物混入や欠陥品の検査に、ソーラーパネルやLCDなどの 電気・電子部品の非破壊検査にお使いいただけます。 【仕様】 ■光学倍率：4 ■W.D.：65mm ■被写界深度（mm）：0.08 ■分解能（μm）：5.3 ■N.A.：0.12 ■光ディストーション（...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ケンコー光学