【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

PFOA対策のテフロン潤滑無電解ニッケルめっきで外観不良が発生

サン工業では既に多くのPFOA対策品を評価！量産対応ができるように進め…

テフロン潤滑無電解ニッケルめっきのPFOA対策品をトライしたが、 見た目の光沢がなく凸凹しているといったお困りごとがありました。 サン工業では既に多くのPFOA対策品を評価しており、量産対応が できるように進めております。 PFOA対策を行ったテフロン潤滑無電解ニッケルめっきは従来品と外観や 管理ポイントが違うケースが多く発生するため、多くの薬品を試験し テフロン粒子の分散状態...

メーカー・取り扱い企業： サン工業株式会社