顕微鏡法 | イプロスものづくり

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

CP-MS　誘導結合プラズマ質量分析法ほか ○光電子分光法 XPS　X線光電子分光法 UPS　紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES　オージェ電子分光法 SEM　走査電子顕微鏡法 EBIC　電子線誘起電流法ほか ○振動分光 FT-IR　フーリエ変換赤外分光法 Raman　ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD　X線回折法 SAXS　X線小角散乱法 XRR...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介！

ワンストップサービスできめ細かく対応！

【技術力】日本顕微鏡学会認定、電子顕微鏡技師が実施します。【対応力】ワンストップサービスできめ細かく対応します。【スピーディー】高度な解析もスピーディーに対応します。【コストダウン】弊社に委託頂くことで、お客様の経費削減に寄与します。【秘密保持】完全独立資本ですので、外部へは洩れません。【受託例】 ■培養組織の観察による再生組織の確認 ■ナノオーダーの粉体の粒子測定 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析

透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析が可能です。

環境省アスベストモニタリングマニュアル（第4.0版）に対応した測定が可能です。 ...■アスベストの同定が可能です。 ■分散染色法やX線回折法では分析が難しいトレモライト等のアスベストを分析します。...

メーカー・取り扱い企業：環境リサーチ株式会社

散乱型近接場光赤外顕微鏡「neaSCOPE」受託測定サービス

空間分解能最高10nmのスケールで、AFM像、赤外光イメージング、赤…

日本カンタム・デザインでは、散乱型近接場赤外顕微鏡「neaSCOPE」を用いた受託測定サービスを行っております。【装置仕様】 ■測定可能波長：650cm^-1～2200mcm^-1 ■ナノFT-IRスペクトル測定 ■ブロードバンドレーザーによる白色光赤外光反射イメージング ■ハイパースペクトル赤外光反射/吸収イメージング ■ラインスキャン赤外吸収イメージング ※詳細情報...

メーカー・取り扱い企業：日本カンタム・デザイン株式会社

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

偏光顕微鏡法による定性定量分析

各種光学特性を利用し、分析精度が向上

現在、日本国内では偏光顕微鏡を用いたアスベストの分析はまだあまり知られていませんが、諸外国では当方法が一般的であり弊社でも先駆けてこの技術を取り入れ、判定判断の一助としています。...偏光顕微鏡を使用した際の特異的光学特性としては ①複屈折　②消光位　③伸長性　④多色性等があり、これらの結果を総合して判定を行う為、より精度の高い分析を行うことが可能となります。...

メーカー・取り扱い企業：環境リサーチ株式会社

免疫電顕法

タンパクなど細胞内高分子の局在を免疫法により解析します。

蛍光やレーザー顕微鏡では追いきれない細胞内のタンパクなどの局在を、免疫電顕法で解析します。...蛍光やレーザー顕微鏡では追いきれない細胞内のタンパクなどの局在を、免疫電顕法で解析します。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる・金属結晶粒観察が可能（Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm, SEM：0.5nm） ■MST所有装置の特徴・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能・FIB（集束イオンビーム）加工との組み合わせで連続的な断面SI...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【会社案内】株式会社日新環境調査センター

私たちが見つめる先は、地球と人の未来。広い分野で高い調査・分析結果を提…

ベスト診断・設計図書による事前調査、現場目視による事前調査 ■建材中のアスベスト分析・吹付け材・成形材等の定性・定量分析、天然鉱物中の石綿含有率分析、　分散染色法、X線回折法、偏光顕微鏡法 ■空気中のアスベスト測定・位相差顕微鏡法、分散染色法、偏光顕微鏡法、　EDS検出器付き走査型電子顕微鏡法 ＜土壌・廃棄物分析＞ ■工場跡地等の土壌汚染調査 ■河川・運河・港...

メーカー・取り扱い企業：株式会社日新環境調査センター

【設備紹介】物理・化学分析

ICP発光分光分析やガスクロマトグラフィー装置など！さまざまな金属とオ…

当社で保有している「物理・化学分析」についてご紹介いたします。電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)のほか、走査型電子顕微鏡(SEM)や微小部X線応力測定装置(PSPC)を保有。さまざまな金属とオイルの分析評価が可能です。詳細については、お気軽にご相談ください。【代表例(一部)】 ■金属破壊解析・SEM(走査型電子顕微鏡) ■金属組織調査・金属顕微...

メーカー・取り扱い企業：ジヤトコエンジニアリング株式会社本社

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能・オプション機能を組み合わせること...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析

SEM像の3D化でリークパスを確認

裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice＆Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice＆Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。測定法：Slice＆View・EMS 製品分野：パワーデバ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析

Slice＆Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可…

裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについてSlice＆Viewを行い、破壊を確認した箇所で拡大観察とSEM-EDX分析を行いました。反射電子像で明るいコントラストが見られる場所では、SiやNiの偏析が確認されました。リークによる破壊に伴い、SiやNiなどが一部偏析しているものと考えられます。測定法：Slice＆View・SEM-EDX・EMS 製品分野：パワーデバ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核固体NMR...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

蛍光顕微鏡法による簡易判定

アスベスト繊維の発光により、より分かり易い計測が可能です。

蛍光顕微鏡を用いたアスベストの分析法は、日本国内ではあまり一般的ではありませんが、繊維が光って見える事により、通常の方法では分かりにくい細い繊維でも、より分かり易くなります。...アスベスト繊維に特異的に結合するタンパク質試薬を使用することにより、結合したタンパクが蛍光を発するため繊維が光って見え、細い繊維でも分かり易く、アスベスト繊維含有の有無を簡易的に判定する事ができます。...

メーカー・取り扱い企業：環境リサーチ株式会社

［ED］電子回折法

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を…

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。・物質の結晶学的情報が得られます。透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶では同心円状の円環、非晶質ではブロードな円環状の電子回折図形となります。・透過電子顕微鏡で観察される微小領域の結晶構造を調べることができます。・結晶構造とEDX法での元素分析結果とを組...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能...■使用する探針シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。・測定波長領域（可視域から近赤外域）に対して透明な材料のみ評価可能・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...発光源としては、空間電荷領域でのキャリアの電界加速...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

Arイオンミリング加工

機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...1．貼り合わせサンプル同士もしくは支持基板とを接着剤で貼り合わせます。 2．切断数mmの厚みで切り出します。 3．研磨機械研磨を行い、貼り合わせ界面が中心になるように薄くします。 4．Arイオンミリング ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ロックイン発熱解析法

ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

・IR-OBIRCH機能も合わせ持ち、発熱箇所特定後、IR-OBIRCH測定により、故障箇所をさらに絞り込むことができます。・赤外線を検出するため、エッチングによる開封作業や電極の除去を行うことなく、パッケージのまま電極除去なしに非破壊での故障箇所特定が可能です。・ロックイン信号を用いることにより高いS/Nで発熱箇所を特定でき、Slice ＆ Viewなど断面解析を行うことができます。.....

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ミクロトームによる受託サービス｜JTL

切削技術で機械研磨より高精度な試料調整を実施します。

光学顕微鏡、電子顕微鏡での観察に用いる試料調整の一つであり、目的に応じたミクロトームでの試料調整を受託にて実施致します。試料調整方法は研磨法・切削法・FIB法などありますが、ミクロトームでは広範囲での対応が可能な切削法を用います。ミクロトームによる切削試料調整は機械研磨と比べると精密に加工ができる反面、観察目的により様々な技術が必要になります。JTLでは豊富な経験・知識を基に、目的に合わせた最...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります。・ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能・半導体のドーパント濃度分布計測に有効・半導体の極性（p型/n型）の判定は不可 ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。【目次】１．はじめに２．元素分析によるソフトマテリアルの可視化３．DPC-STEM法の適用４．おわ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM

Scanning Microwave Microscopy

SMM は、導電性プローブを用いて計測試料を走査し、その凹凸形状を観察します。同時に、マイクロ波を探針から試料に照射して、その反射応答を計測することで、特に半導体の場合にはキャリア濃度に相関した信号を得ることができる手法です。SMM 信号の強度はキャリア濃度に線形に相関するため、定量性が高いことが特徴です。・Si デバイスの場合、1015～1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

受託・委託測定（粒度分布、粉塵爆発、細孔分布他）

粉体機器メーカーだからできる測定がある！！　粉の物性でお困りの際はご連…

セイシン企業の粉体測定センターでは受託測定業務を行っております。単発的に発生する測定や、品質管理として断続的に行なう測定などに、便利にご利用いただけます。必要なとき、必要なデータが敏速かつ正確にえられます。セイシン企業粉体測定センターでは皆さまのご要望にお応えできる測定技術とノウハウを兼ね備えています。粉体に関することなら日本で一番の知識と経験があると自負しておりますので是非一度ご相談下さい。お待...

メーカー・取り扱い企業：株式会社セイシン企業

リポソームの多層膜の観察

脂質多層膜の観察を受託します。

リポソームなど多層膜の観察を、ネガティブ染色法によるTEM観察が可能です。その他、樹脂包埋法でも行います。...リポソームなど多層膜の観察を、ネガティブ染色法によるTEM観察が可能です。その他、樹脂包埋法でも行います。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

橋本鉄工株式会社　事業紹介

試験装置開発、特殊な受託試験、評価法のご提案など研究開発支援を行ってい…

橋本鉄工株式会社では、「機械加工部門」「製造部門」「技術部門」において、試験装置開発、特殊受託試験、評価法提案、機械加工・溶接・接合などを行っております。「技術部門」では、研究機関ならびに企業を対象とした研究開発コンサルティングを行っております。新規で研究開発プロジェクトを立ち上げたいが、"その術が分からない"、"専門性を有する人材がいない"、場合は、各工学分野に精通した専門家が、課題を迅...

メーカー・取り扱い企業：橋本鉄工株式会社臨海第一工場

ウルトラミクロトーム加工

ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができます。室温では切削が困難な生体材料や柔らかい高分子材料も、凍結固定することで超薄切片を作製することが可能です。...1．切り出し 2．樹脂包埋 3．粗トリミング ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に！単結晶GaNの測…

当社では、SEM-ECCI法によるGaNの転位観察を行っております。窒化ガリウム（GaN）等のパワー半導体において、製造時に含まれる転位はデバイス性能の低下や短寿命化の要因とされています。半導体の転位観察は主に透過電子顕微鏡（TEM）やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能となります。【測定事例】 ■供試材：単結晶GaN...

メーカー・取り扱い企業：株式会社大同分析リサーチ

金属組織観察

⾦属材料の組織観察は、その材料の特性に⼤きく影響するとても重要な要素の…

当社では、設⽴以来⻑年にわたる経験とデータ蓄積をもとに､お客様のニーズにあった様々な⾦属組織観察を⾏なっております。⾦属顕微鏡による組織観察は、⾦属材料の鋳造、圧延、熱処理など全般に関連しており､材料の品質管理だけでなく、開発実験、基礎研究、事故調査等に多⽤されております。その内容は、肉眼によるマクロ組織観察から、数十万倍にも及ぶ走査電子顕微鏡によるミクロ組織観察ま...

メーカー・取り扱い企業：川重テクノロジー株式会社