STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画…

当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析

50μm程度(目安としては肉眼で確認可能な)大きさであれば、概ねサンプ…

当社では、「フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析」を 行っております。 物質に赤外光(IR)を照射すると、物質固有の官能基の分子振動により 特定の波数領域で光が吸収されます。 広帯域のIR光を連続的に試料に照射しスペクトルを得ることにより、 物質材料を特定することが可能です。測定対象物質は主に 赤外吸収を伴う有機物質と一部の無機物質となります。 【特長】...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

EBSD（電子線後方散乱回折法）を利用した結晶解析とは

試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・…

EBSD分析とは、SEM（走査電子顕微鏡）と組み合わせて、金属結晶粒子の方位、微粒子化を解析する事で、問題点を顕在化させ、 設計・プロセス・材料の改善や、品質トラブルの未然防止に役立てることが出来ます。 また、 信頼性試験と組み合わせることにより、評価初期段階での歪み発生箇所の解明、破壊メカニズムの解明などに役立ちます。 【マッピングの例】 ■IQマップ 　パターンの良否により結晶性...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック