• 最大6台並列可能で三相4線も可能なインバータ「NTN-5K」 製品画像

    最大6台並列可能で三相4線も可能なインバータ「NTN-5K」

    PRAC充電器とUPS機能内蔵!最大6台並列可能な5000Wの高信頼性オフ…

    AC/DC充電器、DC/ACインバータ、ACバイパスの機能がひとつになった一体型のインバータです。 NTN-5Kは無駄なく一番活発な電流をシェアできる「アクティブカレントシェアリング機能」を内蔵しており、 より高い出力を供給するため”最大6台”まで並列接続が可能です。 今まで対応できなかった容量も、他の製品を追加利用することなく、当製品1台で より大きなシステムの構築が可能となります。 <特徴...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Earth Power 本社

  • 高加速寿命試験装置(HAST装置)『PC-422R9』 製品画像

    高加速寿命試験装置(HAST装置)『PC-422R9』

    PR優れた性能を誇る二槽式構造のHAST装置。新型コントローラーを搭載し、…

    『PC-422R9』は、試験槽と蒸気発生槽が完全に分離独立した高加速寿命試験装置(HAST装置)です。 高精度温湿度プログラムコントローラーを搭載し、HAST装置としてより高精度な加速評価を実現。また、外部端末と連携した遠隔操作も実現し、簡単に監視・操作ができます。 【特長】 ■新型温湿度プログラムコントローラーで、高精度な加速評価を実現。 ■対話式カラータッチパネルで、より操作性...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社平山製作所

  • [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法 製品画像

    [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法

    ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

    SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。 シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります。 ・ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能 ・半導体のドーパント濃度分布計測に有効 ・半導体の極性(p型/n型)の判定は不可 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 事例 製品環境でのパッケージ 熱抵抗測定技術 製品画像

    事例 製品環境でのパッケージ 熱抵抗測定技術

    半導体の熱抵抗を正しく測定できていますか?熱シミュレーション技術とコラ…

    測定用素子として良く利用されるダイオード(PN接合)の特性を理解しないと、 正しく測定できない場合があります。 製品環境でのパッケージ熱抵抗を正しく求めるためには、実デバイスを使った 熱抵抗解析を高精度に評価する技術が必要となります。 局所発熱モデルにおいて実測と熱シミュレーションの整合モデルが作成出来ていれば、 任意発熱時の熱抵抗がシミュレーションで解けます。 弊社では、実測~シミュ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology

  • 絶縁抵抗測定器『ECM-500シリーズ』 製品画像

    絶縁抵抗測定器『ECM-500シリーズ』

    500Vの印加電圧で試験可能!エレクトロケミカルマイグレーションテスタ…

    『ECM-500シリーズ』は、最大500Vの印加電圧でプリント配線板、電子材料 などの絶縁信頼性 評価試験ができる高精度テスターです。 CH毎に印加電圧設定が可能な電源出力回路は、フィードバック制御により サンプル両端電圧が設定値になるように常時コントロールします。 また、高性能、低ノイズの半導体を用い、プリント基板の配線パターンにまで 配慮した高精度で信頼性の高い専用設計の計測...

    メーカー・取り扱い企業: J-RAS株式会社

  • 【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM 製品画像

    【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM

    誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化

    積層セラミックコンデンサ(MLCC)は、内部電極(金属)/誘電体層(絶縁体)/内部電極(金属)の積層構造を有するコンデンサです。MLCCの問題の一つとして高電界かつ高温下における誘電体層の絶縁劣化(低抵抗化)、つまり電極間ショートがあります。誘電体層内に形成される低抵抗な伝導パスを可視化することは絶縁劣化現象を解明する重要な手がかりとなります。本資料では、SSRM測定(高電界)と加熱機構(高温)を...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み 製品画像

    EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

    「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高…

    では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出することもできます。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 乗用車の『重心高・慣性モーメント測定受託試験』 製品画像

    乗用車の『重心高・慣性モーメント測定受託試験』

    高価な試験装置を購入しなくても、短期間で同様の結果が得られます。 オ…

    オートマックスが所有する『重心高・慣性モーメント測定装置』にて、測定試験を受託し、データをご提供いたします。 【オートマックスの測定装置の優位性】 ・測定精度が高い 誤差0.5%(±2.5mm) ・転がり抵抗による影響無し ・車軸フリクションによる影響無し ・装置のフリクションが極小(発生してもばらつきになりづらい) 【特長】 ・熟練した計測員による測定 ・データの信頼性、...

    メーカー・取り扱い企業: オートマックス株式会社 本社・工場

  • 多CH導通信頼性評価装置『RTm-100シリーズ』 製品画像

    多CH導通信頼性評価装置『RTm-100シリーズ』

    高精度なアナログ計測回路で試験サイクル初期からの微小変化の検出も可能!

    『RTm-100シリーズ』は、回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を 高速、高精度に計測する装置です。 当シリーズの高性能計測回路はミリΩ未満の導通抵抗の変化を正確に とらえ、ヒートショックチャンバーと組み合わせ、温度サイクルに 連動したデータ計測が可能です。 更に、半導体リレーによる高速スキャン機能により、サイクル時間の 短い試験にも十分に追従し、各サイクルに対して計測のタ...

    メーカー・取り扱い企業: J-RAS株式会社

  • 【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価 製品画像

    【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価

    SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

    コスト低減の観点から、GaNを材料としたパワーデバイスの基板には高抵抗Si基板の活用が期待されています。しかしながら、高温で成膜する際にAl,GaがSi基板表面に拡散してしまうと、低抵抗層が形成されリークの原因と言われております。 そこで、Si基板中へのAl,Ga...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

    あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理-裏面研磨-  各種サンプル形態に対応します。  Siチップサイズ:200um~15mm角 ■不良箇所特定-裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析-  IR-OBIRCH...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • PV(太陽電池)各種評価事例集 製品画像

    PV(太陽電池)各種評価事例集

    太陽電池(PV)の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価など…

    定量、面内分布、深さ方向分布の評価が可能 →測定法:SIMS・ICP-MS・XRF・エッチング ○CIGS薄膜太陽電池へテロ接合界面の観察 →超高分解能STEMによるCdS/CIGS接合界面高抵抗層の結晶構造評価 →測定法:TEM ○X線によるZn系バッファ層の複合評価 →組成・結合状態・構造・密度の評価が可能 →測定法:XPS・XRD・XRR・研磨 ●その他詳細は、カタログ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • パワーデバイスのHAST試験 製品画像

    パワーデバイスのHAST試験

    パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!…

    株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。 【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモニタリングにより、リアルタイムでの試料劣化を把握...【仕様】  試験電圧 :最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン・保護抵抗110kΩ)  試験数量 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【設備紹介】エンジンダイナモ試験機 製品画像

    【設備紹介】エンジンダイナモ試験機

    エンジンを使用した各種性能、耐久試験が可能!さまざまな走行パターンを再…

    当社で保有している「エンジンダイナモ試験機」について ご紹介いたします。 各種エンジンを使用した精度の高い試験ができ、さまざまな 走行パターンを再現して各種評価が可能。 また、長時間耐久試験や、高回転耐久試験などにも対応いたします。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【対応試験】 ■エンジンを使用した各種性能、耐久試験 ■車両走行抵抗設定、テストパター...

    メーカー・取り扱い企業: ジヤトコエンジニアリング株式会社 本社

  • 技術資料『炭素・硫黄分析装置(CS計)による炭素・硫黄の分析』 製品画像

    技術資料『炭素・硫黄分析装置(CS計)による炭素・硫黄の分析』

    炭素、硫黄の含有量を迅速で高精度に分析する燃焼-赤外線吸収法を紹介した…

    技術資料『炭素・硫黄分析装置(CS計)による炭素・硫黄の分析』は、各種工業用材料の材質に大きな影響を与える、材料中の炭素・硫黄を低含有量から高含有量まで精度良く測定できる分析法について掲載した資料です。 本資料では、炭素、硫黄の含有量を迅速で高精度に分析する炭素・硫黄分析装置(CS計)を用いた燃焼-赤外線吸収法の特徴を紹介しています。 【掲載内容】 ■燃焼-赤外線吸収法 ■炭素・硫...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニケミー

  • 【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価 製品画像

    【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

    実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

    近赤外VCSEL(面発光レーザー)の実装品を解体して微小なチップを取り出し、断面加工の後にSMM計測を実施しました。 VCSELの開口部を取り囲むように、高抵抗の電流狭窄層が観察されました。また、活性層近傍では材質の異なる膜が積層しており、この組成を反映したコントラストとして計測されました。同一組成の層内にもコントラストが確認され、これはキャリア濃度差や...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価 製品画像

    【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

    真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡(SSRM)による局所抵抗分布評価

    きます。測定結果から、ナノメートルレベルの空間分解能で各層の抵抗値を計測できていることが分かります。各層の抵抗値が数桁異なり、これがキャリア濃度の違いを示しています。CIGS層はi-ZnO層よりも高抵抗であること、CdSはこれらの層よりもさらに高抵抗であることが分かりました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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