測定器(光源)のメーカーや取扱い企業、製品情報をまとめています。
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測定器(光源) - 企業45社の製品一覧

  1. 逆投影式MTF測定装置

    逆投影式MTF測定装置

    レンズの解像性能評価用装置!カメラでの誤差影響が極小!受入検査にもご使用いただけます!
    MTFとは、被写体をどの程度忠実に再現する能力があるかを、空間周波数を横軸・縦軸にコントラストを示したもの。 MTF測定技術によって、レンズの工場での全数検査、開発検討、レンズやカメラの光軸調整装置などを提供致します。 被検レンズの焦点面に配置されたレチクルをコリメート光で照射し逆投影方式にてカメラで撮像。 拡大映像を画像処理するのでカメラによる誤差影響が少ないです。 ご要望に応じてMTF測定、各種画像評価に関するチャート、光源、ソフトウェアをご提案致します。お気軽にご相談下さい。 【特徴】 ○高速並列処理  ・カメラ画像取り込みとMTF演算を並列処理化。これにより、MTF演算時間が限りなく0に近づきスピードアップが実現。 ○高精度、高安定  ・ISO12233に基づいた独自のスーパーサンプリング技術によって優れた測定安定性 ○拡大映像を処理するのでカメラでの誤差影響が少ない ○ハロゲンランプファイバ光源スペクトル補正  ※近赤外光源(オプション) ○産業用カメラ等の赤外線カメラ用レンズの測定も可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
    メーカー・取扱い企業:
    京立電機
    価格帯:
    お問い合わせ
  2. 平面形状測定装置『OptoFlat』

    平面形状測定装置『OptoFlat』

    誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両立させ、更にコストパフォーマンスにも優れた干渉計です。
    『OptoFlat』干渉計は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を裏面の影響を受けることなく簡単に測定することが可能です。LED光源のため電源ONで即時に測定可能な上、アライメント補助機構により、初めて干渉計を使う方でも操作が容易で即戦力として活躍します。 光学部品だけでなく、金属・セラミックス部品や金型の平面部など、幅広い用途でお使い頂けます。 ■裏面反射の低減(裏面キャンセル厚さ0.3mm以上) レーザー干渉計では、平行平面サンプルの測定において、表面の反射波面に裏面の反射波面が影響して測定が困難なケースがありますが、低コヒーレンス干渉原理では、短い領域でコヒーレンスを制限することにより、裏面からの干渉の抑制が可能になり、表面のみからの干渉縞が生成されます。 ■現場向きの使いやすさ アライメント補助機構があるため、初めて使用する方でも容易に測定ができます。また光量の自動調節により、反射率の大きく異なるワークでも基準板の交換の必要がありません。更にマウスを触らなくても非接触センサーで解析スタートができるため、操作による振動の心配も不要です。
    メーカー・取扱い企業:
    マブチ・エスアンドティー
    価格帯:
    お問い合わせ

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