セイコーフューチャークリエーション株式会社 【資料DL可：FIB】FIB集束イオンビーム加工における事例集
- 最終更新日：2024-01-11 15:15:27.0
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弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパターン描画、構造解析など)を多数ご紹介します。
弊社はFIB(集束イオンビーム加工装置)による加工を強みのひとつとしております。
当事例集では、FIBにおける事例についてご紹介します。
以下の目的、手法、結果など多数掲載しています。
・FIBによるめっき層内の異常個所発見方法
・FIBによるパターン描画
・FIBによる微小対象物の断面作製
他にも、測定データや分析事例、特長などをご紹介しております。
ぜひ、ご一読ください。
【掲載内容】
■FIBによるめっき層内の異常個所発見方法
■FIBによるパターン描画
■FIBによる微小対象物の断面作製
■ナノレベル高精度加工
■AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報【資料DL可：FIB】FIB集束イオンビーム加工における事例集
【掲載内容詳細（抜粋）】
■FIBによるめっき層内の異常個所発見方法
・目的：めっき層内の表面からでは分からない異常個所を発見する
・手法：FIB装置の連続自動断面作製機能を用いる
■FIBによるパターン描画
・目的：FIB装置によるマスクレスでのパターン描画の紹介
・手法：FIB装置
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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