【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察セイコーフューチャークリエーション

クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可能です

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。

また、クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の超薄切片作製が可能です。
このAFMとクライオミクロトームを使いポリイソプレンゴムをいろいろな角度から観察しています。

ぜひPDF資料をご一読ください。

本技術はゴム以外にも樹脂、プラスチック、各種高分子材料に応用可能です。

また、弊社では本分析装置に加えXPS、AES、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。

お気軽にご相談いただければ幸いです。
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基本情報【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察

本技術の概要は以下です。
●クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の超薄切片作製が可能
●切片の表面は極めて平滑であるため、AFMを主とした多機能モード評価にも活用が可能
●SISモードの位相測定を用いることで、サンプル内部のドメイン構造の高分解能観察が可能

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