3DCADのシュミレーション時間を大幅短縮！AIを用いた工数削減

PR自動車、機械、電子機器などの3DCADエンジニアの方必見！シミュレーシ…

『3D Surrogate Model』は、既存のCAE解析ソルバーで実施した シミュレーション結果をAIにトレーニングさせ、そのトレーニングされた AIモデルを用いて、同様のシミュレーションをAIに実施させる意図で 開発された製品です。 シミュレーションにAIを利用しており、計算時間が早く、単純な乗算のみのため 発散により解析結果が止まることがありません。 また、メッシュをそのままAIモデル...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アストライアーソフトウエア

基板実装部品の断面観察

PR信頼性試験前後の観察や断面観察に！実装された各種部品の観察例をご紹介

当社で取り扱う『基板実装部品の各種断面観察』をご紹介いたします。 身の回りにある様々な電子機器の内部には、電子部品が搭載された 基板があります。実装基板を観察すると、多数の部品が所狭しと はんだ接合されているのが分かり、部品が正しく接合されていないと 正常に動作しないため確認が必要です。 信頼性試験前後の観察や断面観察をご検討の際はお問い合わせください。 【観察例(一部)】...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーサイクル試験装置の開発/製造/販売

複数個のDUTの同時試験が可能！要望に応じた制御方法や試験条件にカスタ…

当社では、二年間でおよそ100種類以上のパワーサイクル試験を受託しており、 この間に蓄積されたノウハウを活かしたパワーサイクル試験装置を 開発、製造、販売することになりました。 近年、HEVなどの車載用を中心に産業用機器や発電装置など、パワー半導体が 幅広い分野で使用されるよう...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

X線光電子分光法を用いた分析手法

絶縁物の測定が可能！金属・半導体・高分子等さまざまな材料の研究開発や不…

「X線光電子分光法」は、試料表面の元素分析・化学状態分析を行う手法です。 絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ ガラス等さまざまな材料に適用可能。 表面分析の中でも多用されている手法の一つであり、材料の研究開発や 不良解析に利用されています。 【分析項目】 ■表面の組成分析（定性・定量）：ワイドスキャン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

食品中のアレルゲン分析

信頼性の高い結果を迅速に報告！表示が義務化された7品目等、アレルゲン物…

法による定量検査（2日） ■3.PCR法（3日）またはウェスタンブロット法（2日）による確認検査 ■4.分析結果をお客様へ報告 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析

50μm程度(目安としては肉眼で確認可能な)大きさであれば、概ねサンプ…

当社では、「フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析」を 行っております。 物質に赤外光(IR)を照射すると、物質固有の官能基の分子振動により 特定の波数領域で光が吸収されます。 広帯域のIR光を連続的に試料に照射しスペクトルを得ることにより、 物質材料を特定することが可能です。測定対象物質は主に 赤外吸収を伴う有機物質と一部の無機物質となります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術

ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察！数値による評価が可能とな…

化合物の面積が大きければ、接合面がそれだけ広い事になり、 ボンディングOKと評価できます。 一般的な断面観察では、金属間化合物の生成状態をある1点でしか確認できず、 評価の裏付けとしては弱さの残るものでした。 クオルテックでは、ボンディングされた箇所の裏面からシリコンをエッチング する事で、金属間化合物の生成状態を、より明確に観察する技術を開発。 金属間化合物の面積を算出し、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

不具合現象：無電解NiAuランドでのはんだぬれ性不良

銅張りガラエポ板に各種表面処理を施しはんだ広がり性を調査！

当社で行った「無電解NiAuランドでのはんだぬれ性不良」の再現実験を ご紹介いたします。 予想された不良原因は、ランド表面処理の違いで、銅張りガラエポ板に 各種表面処理を施しはんだ広がり性調査を実施。 結果として、NiAuの処理方法により、はんだ広がり性が異なることを確認。 同時にそ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

不具合現象：はんだ溶融性不良

リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認！

当社で行った「はんだ溶融性不良」の再現実験をご紹介いたします。 予想された不良原因はリフロー条件の不適で、リフロー時の プリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認。 その結果、プリヒート時間の短縮により溶融性を改善できますが、 BGAでのボイドが増加。ボイド...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

パルス通電パワーサイクル試験とその応用例

実動作に近い環境での試験および評価！突入電流およびサージ電圧に影響しな…

当社は、一般的なパワーサイクル試験（及び連続通電試験）に加え、パルス状の 試験電流をサンプルへ印加させる『パルス通電パワーサイクル試験』も 実施しています。 応用例として、「IGBT/FWD 交互通電試験」では、パルス通電のノウハウを 駆使し、IGBTとFWDを交互に通電させることで、よ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

電子部品の急速温度サイクル試験

温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認…

■型式：TSD-101-W ■メーカー：エスペック株式会社 ■テストエリア内容量：100l ■テストエリア耐荷重：30kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

サンプルを高精度に観察する先進のソリューション・サービス

サンプルを高精度に観察！ウェブ会議での対応も可能ですので、お問い合わせ…

低ノイズでの観察、わずか数分での高速動作が可能な「EBSD」や「X線CT」などを ラインアップ。 3サンプルの場合、3～5営業日ほどで対応いたします。なお、「EBSD」は加工時間が プラスされます。 ウェブ会議での対応も可能ですので、まずは各技術担当者へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■X線CT ・CTデータをDVDにコピーしご提供 ・フリービュワーソフトに...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

疲労試験

高精度な試験力・変位のコントロールが可能！微小サンプルの信頼性評価に威…

ルが 可能で、電子部品など微小サンプルの信頼性評価に威力を発揮。 引張・圧縮の繰り返し応力を与えますが、治具の作製により曲げ疲労試験 にも対応します。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■材料は繰返し応力を受けると静的な引張強さや降伏応力よりも 　小さい力で破壊に至る ■繰り返しの試験力や変位を与え、製品の疲労寿命や耐久性を評価 ■治具の作製により曲げ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

プラズマFIB-SEMの加工～分析性能と実例～

100μm以上でも加工可能！ソース・ゲートがある構造物まで加工・観察・…

当社のプラズマFIBはFE-SEMを搭載しており、FIB加工しながら FE-SEM観察が可能です。 断面加工は垂直に行い、FE-SEM観察は52°傾斜させた状態での 撮影となります。 ご希望により、測長・画像の傾斜補正も可能ですので、ご用命の際は お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■1時間以内でSiCの断面加工が可能 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック