• CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用) 製品画像

    CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用)

    PR少量ウェーハに対応!研究・テスト用途に便利なウェーハ販売サービス! ハ…

    【取扱商品】 *CZ・FZ・拡散ウェーハ・SiC・SOI・EPI・GaAs・SiGe・GaSb・サファイア・ゲルマニウムなど様々な半導体用ウェーハを扱っております。 *プライム・テスト・モニター用ベアウェーハ(高精度ウェーハ・パーティクルチェック用・COP対策品等) *SOIウェーハ:高抵抗デバイス層、基板も対応可、ウェーハを支給していただきSOIウェーハへ加工することも可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エナテック 東京本社

  • 粉砕機【ゴム製品などゴムの粉砕】廃棄せずに「再利用/リサイクル」 製品画像

    粉砕機【ゴム製品などゴムの粉砕】廃棄せずに「再利用/リサイクル」

    PR粉砕が困難なタイヤやチューブ等のゴム系、シリコン等の樹脂系の粉砕に適し…

    回転するカッター刃により、せん断力を与えて粉砕する一軸式の粉砕機です。 スクリーン孔径を変更することにより、チップを目的の大きさに粉砕することができます。 【特長】 ■優れたメンテナンス性 ■国内最高水準の処理能力 ■軸受の長寿命化を実現 ■軸受から機内に入る油漏れを完全防止 【実績】 ◆不合格となったゴム製品・廃棄端材の粉砕と分別による再資源化 ◆製造工程で発生するプラスチ...

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    メーカー・取り扱い企業: 寿産業株式会社 環境開発室

  • 近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』 製品画像

    近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』

    故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に威力を発揮いたします

    の透過率を維持した対物レンズです。 半導体デバイスの故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に 威力を発揮いたします。 高集積、多層配線化された半導体デバイスを、チップの裏面からシリコンを 透過してくる赤外光で観察が可能です。 ※シリコン補正対応いたしますので、ご相談ください。 【特長】 ■2000nmで80%以上の透過率を維持 ■極微弱な発光の検出に威力を発揮 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

  • 近赤外対物レンズ『PE lR Plan対物シリーズ』 製品画像

    近赤外対物レンズ『PE lR Plan対物シリーズ』

    ウェハーの裏面観察などに最適!長作動距離、高解像対物レンズです

    『PE lR Plan対物シリーズ』は、近赤外域の分光透過率を高く設計した 長作動距離、高解像対物レンズです。 シリコンを透過してウェハーの裏面観察をしたり、フォトエミッション 故障解析用レンズとして使用できます。 当社の顕微鏡「PS-888L」に取り付け、YAGレーザと併用することで レーザーリペアなど...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

  • 半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』 製品画像

    半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』

    1.3メガSWIRカメラ搭載!チップ内部のメタル配線、ダイボンディング…

    『NIR2021-200』は、赤外光の透過・反射特性を利用してシリコンウェハや チップ、MEMS、CSPなど半導体デバイス内部を観察できる顕微鏡です。 1ピクセル5μm、1.3MPのSONY製IMX990を搭載したSWIRカメラを搭載し、 近赤外画像であり...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

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