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20件 - メーカー・取り扱い企業
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PR圧力をあげても極力粒子にダメージを与えない構造!クロスコンタミを抑制で…
『ナノヴェイタ NVL-ES』は、乳化・分散・解繊・破砕など様々なシーンに 対応できる、メディアレス湿式微粒化装置です。 数十μmの粒子をナノオーダーにし、特性の向上や新たな特性を付与する 目的で使用されています。 処理条件を数値制御できるためデータ管理が容易で再現性が高いのも魅力。 タッチパネルは操作性が良く、感覚的に操作することができます。 【特長】 ■乳化・分散・解...
メーカー・取り扱い企業: 吉田機械興業株式会社 三重ナノテク生産技術センター
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PR【安全対策】工場・倉庫内の安全性向上に大活躍!足元の低い位置で発生する…
アクセレントのX-Protect(エックス・プロテクト)衝撃保護システムに、フロアバリアが登場! 単体での設置も、同シリーズの他の製品と組み合わせての設置も、どちらも可能です。 X-Protectシリーズの組立はとても簡単! 支柱の間にレールをスライドさせるだけで、最低限の工具での設置が可能です。 またレイアウト変更や拡張が必要な際にも、モジュラー設計により、既存の構成を簡単に変更する...
メーカー・取り扱い企業: アクセレントジャパン株式会社
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研磨の仕上がりにご不満、疑問をお持ちの際は、アイテスにご相談ください!
当資料は、機械研磨法による加工ダメージについてのご紹介をしています。 機械研磨は歴史の長い断面作製手法であり、断面作製領域が最大で数cmから 10cm程度と広範囲で断面を作製することが出来ます。 しかし、加工に伴う変質層...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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FIB:集束イオンビーム加工
FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン(加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減す...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能
半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ダメージを抑えたパッケージ開封方法の開発により、ボンディング形状の観察…
Agワイヤ使用ICの樹脂除去においては、ワイヤの薬品ダメージが 大きいことが問題となります。 当社では、飽和法の原理を用い、ダメージを抑えたパッケージ 開封方法の開発により、ボンディング形状の観察を可能といたしました。 下記カタログでは、樹...
メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社
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低価格・高精度・正確な非破壊検査 15万円~/1 検体
● 非破壊検査: サンプルに損傷を与えることなく内部構造を直接観察するため、サンプルへのダメージを大幅に軽減します。 ● 高解像度: 解像度はミクロンレベルに達し、金属材料の内部微細構造を表示できます。 ● 立体観察: 材料内部の 3 次元画像を取得して、内部構造を完全に反映する...
メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社
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低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円~/1 検体
● 非破壊検査: サンプルに損傷を与えることなく内部構造を直接観察するため、サンプルへのダメージを大幅に軽減します。 ● 高解像度: 解像度はミクロンレベルに達し、金属材料の内部微細構造を表示できます。 ● 立体観察: 材料内部の 3 次元画像を取得して、内部構造を完全に反映する...
メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社
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SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…
外製SiC MOSFETをESDにより、 G-(D,S)間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多数の 発光を検出。 発光箇所をTEM観察したところ、SiO2膜の破壊、SiC結晶にダメージが 認められました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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皮膚常在菌など菌叢解析用の採取キット「メタフロキーパー(皮膚)」
採取した検体を保存液により常温で保管可能/スワブタイプで取り扱いが容易…
〇本キットでは、生理食塩水に浸された綿棒を皮膚上で回転させながら擦ることで皮膚常在菌を採取し、拭き取った綿棒を保存液に浸すことで、菌叢の変化を抑えます。 〇粘着テープとは異なり、角質へのダメージも少なく採取可能です。 〇検体を採取したキットを当社宛にご送付いただければ、菌叢解析(アンプリコンシーケンス解析)の受託解析も利用できます。 使用方法などについて、お気軽にお問い合わせ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社テクノスルガ・ラボ
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ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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表面汚染を除去してXPSによる評価を行います
のCが主成分レベルで検出されます。こういった有機付着物由来のCの影響を減らすことは、膜本来の組成を評価する上で重要です。 通常、有機付着物の除去にはArイオンスパッタを用いますが、スパッタによるダメージにより膜本来の組成,結合状態が評価できない場合があります。Arイオンスパッタを使用せず、表面酸化層をウェットエッチングを用いて除去することで、有機付着物由来のCの影響を低減させた例をご紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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X線CTと画像解析技術により、毛髪の定量評価が可能です
ヘアカラーや紫外線、加齢などの影響によりダメージを受けた毛髪は構造変化が起こっており、これらの構造変化を計測することはヘアケア製品の研究開発に重要です。 本事例では、X線CTを用いて毛髪の構造を観察しました。さらに、得られたCT断面像を画像解...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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GCIB(Arクラスター)を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能
とは、効率的な研究・開発に重要です。 TOF-SIMS分析では、スパッタイオンビームにGCIB(Gas Cluster Ion Beam)を用いることで、高分子材料表面のイオン照射による損傷層(ダメージ層)の成分・厚さを評価することが可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能
回、充電後のSi負極の状態を確認するために、雰囲気制御環境下で解体して冷却FIB加工を行い、SEMにて断面形状を観察しました。室温で断面観察を行った場合は、膜の収縮・観察面の荒れ・孔発生等の大きなダメージが見られる一方で、冷却しながら観察を行うことでSi負極の変質を抑えて試料本来の形状を評価できました。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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GCIBを用いた低ダメージスパッタリングで多層フィルムの層構造を明瞭に…
フィルムの機能性は素材・厚み・層構造等で決まることが知られています。 今回は食品用ラップフィルムとして一般的に用いられるポリエチレン系多層フィルムの層構造を評価しました。 FT-IRで主にポリエチレンで構成されていることを確認したフィルムに対し、GCIB(Arクラスター)をスパッタに用い、TOF-SIMSで深さ方向に測定することで、10μmの厚みの中でポリエチレンとナイロン6とが積層されてい...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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イオンポリッシュによる断面作製で微小特定箇所の広域観察が可能です
イオンポリッシュ(IP)法では、機械研磨法で問題となっていた加工ダメージ(界面の剥離・硬さの違いによる段差・研磨による傷など)が少ない断面の作製が可能です。加工位置精度も向上し、微小部位を含む広域断面作製も可能です。結晶の損傷が少ないため、綺麗な結晶パターンが得られま...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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AES:オージェ電子分光法
AES分析では、微小異物の最表面の元素組成評価を行うことが可能なため、微小領域における異物分析に有用です。しかし、電子線等のダメージの影響により異物が変化したり消失してしまう可能性があります。 特に、ハロゲン元素等を含む場合は、その影響を強く受けてしまうことがあり注意が必要です。SEM観察時やAES測定時に異物が消失してしま...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…
力容器等の破壊試験(耐圧試験、破裂試験) ●圧力容器等の疲労試験(圧力サイクル試験、加速応力試験) ●大型恒温槽を使用した供試体の温度サイクル試験 ●圧力容器の落下試験、振り子衝撃試験、表面ダメージ試験など 試験設備や委託試験に関しましてお気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人日本自動車研究所
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金属の表面にも大気圧プラズマを照射することができる金属・導電性繊維の大…
をご提供しております。 針の先端やエッジなどをプラズマ処理することや、 金属や導電性の素材表面であっても、 放電損傷を与えることなくプラズマ処理することができます。 【特長】 ■ダメージフリープラズマなので、放電痕が生じない ■塗装やコーティングと強く化学結合させることが可能 ■金属や導電性繊維などの導電体にも大気圧プラズマを連続処理が可能 ■金属線材や炭素繊維などの長尺物...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンライン
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照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です
は、熱伝導率が大きい点や高耐圧といった特性のため、LEDやパワーデバイスなどの材料として用いられます。その製造工程では、結晶欠陥の無い高品質なGaN結晶の作製が求められるため、イオン注入などによるダメージやその回復度合いの確認は重要な評価項目となっています。 本資料ではXAFSによってGaN基板へのイオン注入によるダメージを評価した事例をご紹介します。 GaN表面近傍における結晶構造の乱れや、...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能
半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されることを利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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耐候性や耐薬品性に優れたレーザーマーキングラベルを多数提供。発…
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