• フッ素膜【フッ素薄膜処理における真空蒸着法とスプレー法の違い】 製品画像

    フッ素膜【フッ素薄膜処理における真空蒸着法とスプレー法の違い】

    PR各処理方法のメリット・デメリットを分かりやすく紹介した資料進呈。受託加…

    本資料では、ガラスや金属に撥水性・撥油性・防汚性・離型性などを付与できる フッ素薄膜処理について、真空蒸着法とスプレー法の違いを説明しています。 フッ素薄膜処理は、基材の形状やコストなどの条件に応じた 処理方法の選定が求められます。 フッ素薄膜処理をご検討中の方は、ぜひ本資料をご覧ください。 【掲載内容】 ・フッ素薄膜処理とは ・真空蒸着法、スプレー法とは ・真空蒸着法...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社カツラヤマテクノロジー T&K事業部

  • Enovasense Field Sensor 製品画像

    Enovasense Field Sensor

    PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

    フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約11万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長  ・非接触で下記が測定できます。    ☆不透明体の厚みマッピング...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • フォトレジストの研究開発用露光ツール  製品画像

    フォトレジストの研究開発用露光ツール 

    フォトプロセス解析用露光装置シリーズ

    フォトレジストの研究開発用露光ツール! フォトプロセス解析用露光装置シリーズ ■□■ラインナップ■□■ ■UVES-2000(g/h/i/248nmおよびブロード光対応解析露光装置) ■UVES-2500 (g/h/i/248nmおよびブロード光対応レジスト感度評価露光装置) ■ArFES-3500LP(193nm対応解析露光装置) ■VUVES-4500mini(248・193n...

    メーカー・取り扱い企業: リソテックジャパン株式会社

  • 光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』 製品画像

    光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

    電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

    『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 超高分解能・高速スキャニングAFM/SPM Cypher S 製品画像

    超高分解能・高速スキャニングAFM/SPM Cypher S

    高精度なのに、操作は驚くほど簡単!材料科学やライフサイエンスの研究分野…

    ドループ原子分解能  →3軸にセンサを使用していても原子分解能を実現する低ノイズ特性 ○自動レーザーアライメント機能 SpotOn  →極めて使い易い機能  →完全モーターによるレーザーとフォトダイオードの位置決め機能に   より、マウスクリック操作だけで、カンチレバーの上にレーザー   スポットをアラインし、フォトディテクタを中心に合わせます ○レーザースポットサイズが3 μm ...

    メーカー・取り扱い企業: オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

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