電子機器の受託開発・設計（ハードウェア、FPGA、ソフトウェア）

PR画像技研は、幅広くお客様の開発をお手伝いします。（一貫した開発から部分…

●ハードウェア・ファームウェア・ソフトウェアのすべてにわたって、幅広くお客様の開発をお手伝いします。 ●画像の処理、圧縮、高速伝送、認識などで豊富な経験を持っています。 ●FPGAを使用したハードウェア処理により、高速処理、リアルタイム処理を実現します。...●ハードウェア 仕様書の作成から回路図、部品リストの作成、基板アートワーク、生基板作成、部品手配、実装、評価、調整までお引き受けします...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社画像技研

【高周波基板】高速デジタル基板

PRそれぞれに適した高周波回路基板設計を実施！お客様にご満足して頂ける製品…

SDKが取り扱う『高速デジタル基板』をご紹介します。 お客様から頂いた仕様条件を元に、アナログ及びデジタルの高周波特性を 満たす基板材料を選定。 それぞれに適した高周波回路基板設計を行い、お客様にご満足して頂ける 製品を提供致します。また部品実装・調達までワンストップで実行することで御社の工程管理負担を代行いたします。 【仕様概略（一部）】 ■CPU：PEZY-SCプロセッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＳＤＫ

蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！プリン…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることがで...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ