『緩み防止ボルト』　※ボルトのダウンサイジングで軽量化を実現

PRボルトのダウンサイジングで軽量化を実現！コンタミ発生知らずで、温度変化…

アートスクリューが開発した『モーションタイト』は、 ボルト・ねじの緩みのお困りごとを解決する「緩み防止ボルト」です。 高い軸力と疲労強度でダウンサイジングを実現し、緩み止めが不要なため、 ボルト・ねじの”軽量化”を実現し、コストダウンに貢献します！ また、温度変化にも耐える、優れた機能性を有しています。 【ボルトのダウンサイジングを可能にするための条件】 ◆ゆるまないこと ◆...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社アートスクリュー

自律移動ロボット向けソフトウェアパッケージ『@mobi』

PR直感的に操作可能なインタフェース！自律移動ロボットシステムの開発コスト…

『@mobi』は、自律移動ロボットの機能を実現するソフトウェアパッケージで、自律移動ロボットの開発コストを低減します。 様々な形状・サイズ・駆動方式のロボットに適用可能で、屋内外・不整地での高精度制御を実現します。 標準仕様のパッケージ以外にも、お客様の搬送台車へのキッティングも可能です。例えば、無人搬送車(AGV)に組み込むことで、自律移動型搬送ロボット(AMR)を開発することができます...

メーカー・取り扱い企業： パナソニック アドバンストテクノロジー株式会社

〈研究支援〉今抱えている課題を一緒に解決しませんか？

様々な研究支援アプリケーションを取り揃え、研究ステージに応じたアプロー…

〈株式会社ファスマックの強み・特長〉 ■世界水準の検査、製造技術 　ISO17025認証、ISTA認証、ISO9001認証 ■研究開発への取り組み 　GM食品標準分析法、GM種子スクリーニング技術、他多数 ■充実したインフラ、販売ルート 　各種DNA解析装置、技術者多数在籍 　各種研究機関への販売ネットワーク構築済 〈研究開発の実績※一部〉 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ファスマック

技術資料『VOCの試料をメスフラスコで希釈してみたら…』

VOC分析を正確に・もっと簡単に！不可能を可能にするための検証

有機化合物（VOC：Volatile Organic Compounds）について ■測定方法と試料の希釈 　・ガスクロマトグラフ－質量分析法 ■希釈の方法 ■特製メスフラスコの検証 　・標準原液の作成 　・評価基準用標準液の調製 　・希釈方法検証用試料の調製 　・測定条件 　・検証結果 ■おわりに ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニケミー

【分析事例】核融合炉用バナジュウム合金

低放射、高温強度、耐照射性！大同分析リサーチは新材料の開発をお手伝いも…

造についてご紹介します。 主成分はV-4Cr-4Ti。低放射、高温強度、耐照射性（耐中性子脆化）の 特長を有しており、EB,VAR溶解による極低O, N, C 溶製材で大型溶解による 世界標準試験材となっております。 大同分析リサーチは新材料の開発をお手伝いします。 お客様の目的に合わせた成分の提案も可能です。 【特長】 ■EB,VAR溶解による極低O, N, C 溶製材...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

パワーサイクル試験と特性評価

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分…

chのデバイスを同時に試験 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■最高200℃まで対応した冷却プレートを装備 ■TOパッケージ用の治具も標準で装備 ■水冷式のモジュールにも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステム

50MHz～6GHz帯の20～40MHz BWをノートPCに連続収録・…

収録には厳選したSSDを使用することで、極力データ落ちのない収録を行います。 複雑な操作は不要。 ソフトを起動し周波数を設定しボタンを押すだけの3ステップで収録開始。再生も3ステップで。標準添付のデータビュアーソフトを使えば波形の確認や切り出しも簡単です。 狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステムは、ノートPCとUSRPで構成されています。 50-6GHz帯を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ドルフィンシステム

【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価

TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価

大気下におかれた金属銅（Cu）の表面は自然酸化膜で覆われており、このような銅表面は大別して「Cu」「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」の状態にわけられることが知られています。 市販の標準品である「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」粉末をTOF-SIMSにより深さ方向分析を行うことで、各状態に応じて特徴的な分子イオンの取得が可能であることがわかりました。 これらの分子イオンを...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】FeCoNi合金の不純物分析

GDMSを用いて77元素を同時に分析することが可能です。

金属材料に不純物が混入すると、元素の組み合わせによっては靭性や耐食性の低下に影響を与えます。したがって、品質を管理するうえで、金属材料中の不純物量を把握することは重要です。GDMSは、標準試料なしで77元素を同時に分析することができるため、マトリックスに関わらず含有元素が不明な試料の不純物分析に有効です。本資料では、GDMSを用いてFeCoNi合金の不純物分析を行った事例をご紹介しま...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】極浅ドーパント分布の高精度分析

高い再現精度で評価可能

次イオンビームを用いたSIMS分析が必要になります。今回、B+を低エネルギーでイオン注入したSiウエハを1keVの酸素イオンビームを用いて、日をまたいで、6回測定した結果から算出したBの面密度の相対標準偏差は3%以下であり、極浅い不純物分布評価においても通常のSIMS分析と同様に高い再現精度が得られることが示されました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】半導体基板中軽元素の高感度分析

SIMS分析によりH, C, N, O, Fなどを1ppm以下まで評価…

cm3)以下の濃度まで検出可能です。実際のFZ-Si中における測定例（図1）とIII-V族半導体のバックグラウンドレベルを紹介します（表2）。III-V族半導体以外にも、金属膜・絶縁膜など各種材料で標準試料をとりえ揃えており、高感度な定量分析が可能です。半導体基板など各種材料のバルク分析や半導体プロセス中のガス成分の混入評価などに最適です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価

ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

ル部から500umの範囲で裏面に残留する金属濃度分布を調査するため、TOF-SIMSを用いて評価を行いました。TOF-SIMSはベベル部近傍のみの金属成分を検出する空間分解能を有しており、濃度既知の標準試料を用いることで濃度を定量的に算出することが可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

に起因するか調査することは、歩留まり向上に有効です。 液晶パネルの異物・汚れを評価した事例を紹介します。TOF-SIMSではμm～cmオーダーの洗浄残渣をイメージとして捉えることが可能です。また、標準スペクトルとの比較により、成分の推定が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別

TEM-EELSにより、微小領域の元素同定・化学状態分析が可能です

膜した厚さ20nmの多結晶TiO2試料（写真1）について電子線プローブを約1nmΦ(FWHM)まで絞って測定を行いました。試料から取得したEELSスペクトルは、Ti, Oともにアナターゼ型TiO2の標準スペクトルと一致しています（図1, 2）。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SRAの濃度換算について

SRA：広がり抵抗測定法

１. 斜め研磨した試料面に2探針を接触させ直下の広がり抵抗（Ω）を測定する ２. 標準試料の測定より校正曲線＊）を作成し、それを用いて抵抗を比抵抗（Ω・cm）に換算するまた、必要に応じて体積補正による分布の補正を行う ＊)校正曲線は導電型(p型/n型)、および面方位によって異なりま...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202303-02 イオンモビリティ質量分析計

東レリサーチセンターで導入したイオンモビリティ質量分析計の特徴と、ジス…

に ２．分析法の概要 ３．分析実例 ４．おわりに 【図表】 図１　TIMSデバイスの概略図 図２　断片化された抗体のヒンジ部 図３　ペプチド2種類のモビログラム 図４　同一質量の糖鎖標準品2種類の混合物のモビログラム 図５　クリーンナップ処理によるバックグラウンドの低減...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［SRA］広がり抵抗測定法

SRA：Spreading Resistance Analysis

斜め研磨した試料面に2探針を接触させ、直下の電気抵抗を測定します。 校正用標準試料の測定値と比較する事で、測定した拡がり抵抗を比抵抗（Ω・cm）に換算します。 さらに、比抵抗とキャリア濃度の関係を示すThurberの曲線を用いてキャリア濃度（/cm3）を算出します。 なお、...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST