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    SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

    PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

    【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 粘着テープ、接着剤等が付着しない!『プラズマコート』をご紹介 製品画像

    粘着テープ、接着剤等が付着しない!『プラズマコート』をご紹介

    PR様々な付着対策として効果あり!高い離型特性と耐久性で、製造ラインの課題…

    『プラズマコート(超非粘着処理)』は、金属、サーメット、セラミック等 の溶射皮膜の高硬度、耐久性とシリコーン樹脂の極度に高い非粘着性を有し、 高グリップの摩擦特性も持ち合わせています。 プラズマコートはアルミ、ステンレス、鉄などの金属系部品はもちろん、 CFRP部材へのコーティングも可能です。 ※※サンプルピースのご提供も可能です。お気軽にお問い合わせください※※ .....

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    メーカー・取り扱い企業: 大阪ガスケミカル株式会社 奈良表面加工センター

  • 蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』 製品画像

    蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

    新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能…

    『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』 製品画像

    蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』

    簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です…

    『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』 製品画像

    蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

    電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

    『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』持ち運び可能! 製品画像

    『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』持ち運び可能!

    高精度かつ高い検出感度!現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光…

    『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できます...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』 製品画像

    蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

    新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!プリン…

    V-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。 試料(サンプル)との距離が約12...

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  • 蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』 製品画像

    蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』

    非破壊で膜厚測定と素材分析ができる!品質管理や生産管理における測定にも…

    『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です! また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに当...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』 製品画像

    蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

    ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…

    『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』 製品画像

    ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

    新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!薄膜・…

    『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける...

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