Enovasense Field Sensor

PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約１１万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 　・非接触で下記が測定できます。 　　　☆不透明体の厚みマッピング...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

エルコメーター456 膜厚計＆ウルトラ・スキャンプローブ

PR膜厚の超高速読み取り機能とBluetooth(R)による測定データの転…

「エルコメーター456 膜厚計＆ウルトラ・スキャンプローブ」は、 広い面積、多くの測定箇所で膜厚管理を要求される工事仕様で 素早く膜厚を測定し、データ編集・作成することができる膜厚計です。 毎分140回の速度で膜厚を測定することが可能で、測定値は膜厚計本体に保存。 保存されたデータはBluetooth(R)を使って、モバイル端末、PCに リアルタイムで転送、測定数値を編集アプリで管理することが...

メーカー・取り扱い企業： Elcometer株式会社 エルコメーター

デュアルスコープ MP0R-BTA&MP0R-FP-BT

持ち運びに便利なポケットサイズで、Bluetooth搭載のデュアル式小…

デュアルスコープMP0R-BTAおよびMP0R-FP-BTは、Bluetoothを搭載した小型膜厚計！プローブを一体化し取扱いを容易にし、シンプルな操作性で簡単に測定ができます。ポケットに収まる小型サイズの非破壊式の膜厚計です！ 　 PCと測定器をBluetooth接続して、都度測定器をデ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

破壊式膜厚計『COULOSCOPE CMS2』

アノード溶出による電解式(電量分析式)に沿って測定！取り扱いがシンプル…

『COULOSCOPE CMS2』は、あらゆる素地(下地材料)にある、多層を含む 金属皮膜の厚みを測定できる電解式(電量分析式)の破壊式膜厚計です。 大型で高解像度のカラーディスプレイを搭載。 多様な言語と測定単位が選択可能です。 また、DIN EN ISO2177およびA...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

膜厚測定　総合カタログ

フィッシャーの製品ラインは、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。

【DELTASCOPE FMP10】 ○鋼や鉄を下地とする例えばCr、Cu、Znのような非磁性の金属皮膜の測定 ○ペイント、ラッカー、エナメルまたはプラスチックの皮膜の測定 【FISCHERSCOPE XANシリーズ】 ○非破壊式で材料分析と膜厚測定を行うための、極めて高度な要求に対応する蛍...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『膜厚測定早見表』無料プレゼント!

【180通り以上】膜厚測定したい下地材と皮膜の組み合わせから測定できる…

株式会社フィッシャー・インストルメンツは60年以上に及ぶ経験と実績をもとに⾼品質・⾼精度な測定機器を提供している専⾨メーカーです。 本資料では当社が測定可能な下地材と皮膜の組み合わせを示し、 その組み合わせの膜厚の測定方式をわかりやすくまとめております。 〈下地材と皮膜の組み合わせの例〉※全187通り掲載 ・鉄xアルミ ・銅×錫 ・ニッケル×金　等 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』

簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です…

『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能…

『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

マルチ測定システム『FISCHERSCOPE MMS PC2』

膜厚測定と材料試験を1台で測定することが可能なマルチ測定システム

『FISCHERSCOPE MMS PC2』は、様々な測定方式による膜厚測定を 1台で可能とし、品質管理が重視されるあらゆる分野で使用されている 卓上型マルチ測定システムです。 膜厚、伝導率、フェライト組織量などに測定に関して、高精度で 繰り返し精度の高い...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』持ち運び可能！

高精度かつ高い検出感度！現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光…

『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！プリン…

V-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。 試料(サンプル)との距離が約1...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

フィッシャージャパン　製品カタログ

ハンディータイプ、卓上型などの膜厚測定と材料試験機を多数掲載！

『フィッシャージャパン　製品カタログ』は、膜厚測定器、素材分析器、 微小硬さ試験機、材料試験器の販売・保守サービス等を行う、 株式会社フィッシャー・インストルメンツの製品カタログです。 電磁式、渦電流式で非破壊方式で膜厚を測定するハ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線方式膜厚測定器 XULM

測定チャンバの下にＸ線源と検出器を配置しており、測定物を簡単かつ直接ポ…

X線源と検出器が測定チャンバ―の下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計されています。 コンパクトな設計ですが、量産品の測定用に設計されており、大きなサンプルを測ることもできます。...詳しくは、お問い合わせもしくはカタログダウンロードから詳細がご覧いただけます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』

非破壊で膜厚測定と素材分析ができる！品質管理や生産管理における測定にも…

『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です！ また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』

集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と 部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された 集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。 革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな 測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。 ま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ