• UWBレーダー方式センサー 製品画像

    UWBレーダー方式センサー

    PRミリ単位以下の微小な変化を検知!医療機器・電子機器への干渉、影響はあり…

    株式会社日本ジー・アイ・ティーは、UWBをはじめとする先端技術の 開発・設計・製造・販売を専門とする企業です。 当社が取り扱う『UWBレーダー方式センサー』は、1mm以下の微小な 変化を検知します。 医療機器・電子機器への干渉、影響がなく、プライバシー保護にも寄与。 バイタルセンサーや、工程内異物検知などにも応用が可能です。 【特長】 ■1mm以下の微小な変化を検知 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本ジー・アイ・ティー

  • 高分子材料 形態観察・物性評価サービス 製品画像

    高分子材料 形態観察・物性評価サービス

    多彩な機器を用いた高分子材料の形態観察・物性評価を提供!

    【主な機器】 ■核磁気共鳴装置(固体NMR) ■動的粘弾性装置 ■溶融粘弾性装置 ■示差走査熱量測定装置(DSC) ■示差熱分析計(DTA) など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社UBE科学分析センター 名古屋営業所

  • 受託分析評価サービス 製品画像

    受託分析評価サービス

    長年培ってきたノウハウを活かし好適な分析手法をご提案します!

    【装置原理】 ■構造解析  ・集束イオンビーム装置  ・集束イオンビーム加工観察装置  ・走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分析  ・透過電子顕微鏡 ■表面解析  ・表面分析の種類と特徴  ・オージェ電子分光法  ・X線光電子分光分析法  ・飛行時間型二次イオン質量分析法  ...

    メーカー・取り扱い企業: メルコセミコンダクタエンジニアリング株式会社

  • ネッチ・ジャパン本社『アプリケーションラボのご案内』 製品画像

    ネッチ・ジャパン本社『アプリケーションラボのご案内』

    熱分析の最先端を体感!熱分析、熱量測定、熱物性測定のプロダクツ

    ード熱量計 MMC 274 Nexus [高分子ソリューション] ○動的粘弾性測定装置 DMA 242 E Artemis ○高感度差動型示差熱天秤 STA 2500 Regulus ○示差走査熱量計 DSC 214 Polyma [エレクトロニクスソリューション] ○調湿型熱機械分析装置 HC-TMA ○熱拡散率(熱伝導率)比熱測定装置 LFA 467 Hyperflash [金...

    メーカー・取り扱い企業: ネッチ・ジャパン株式会社

  • 『FE-SEM(EDS/EBSD付)観察』 製品画像

    『FE-SEM(EDS/EBSD付)観察』

    細く絞った電子線を試料に照射!結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微…

    『FE-SEM(電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡)』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解...

    メーカー・取り扱い企業: コベルコ溶接テクノ株式会社

  • 『走査型電子顕微鏡(SEM)観察』 製品画像

    走査型電子顕微鏡(SEM)観察』

    難電導性試料の無蒸着観察可能!繊維等の表面観察に最適な走査型電子顕微鏡…

    走査型電子顕微鏡(SEM)』は、細く絞った電子線を試料に照射、走査し、 二次電子や反射電子を検出してその強度をモニター上に映像として表示する ことによって対象物の拡大像などを得る装置ですです。 ...

    メーカー・取り扱い企業: コベルコ溶接テクノ株式会社

  • 示差熱天秤-質量分析装置(TG-MS)による熱分析のご案内 製品画像

    示差熱天秤-質量分析装置(TG-MS)による熱分析のご案内

    新しい物質や材料の研究開発や品質管理を行う上で、それらの物性を概観でき…

    【保有装置】 ■TG-MS(示差熱天秤-質量分析) ■TG-DTA(熱重量-示差熱分析) ■DSC(示差走査熱量分析) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター

  • 超高真空極低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム 製品画像

    超高真空極低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム

    市販品で最も多機能、高性能な多探針SPMシステムでナノテクノロジー研究…

    JST先端計測開発事業の委託により、世界初ユニソクの総力を挙げて開発された最新鋭の多探針プローブ顕微鏡システムです。4探針独立にプローブ顕微鏡走査で、極低温領域から広い温度範囲でマイクロ・ナノスケールの表面電気伝導測定やナノデバイスの評価に使用されます。 独自に開発された多機能プローブを使用して高分解能を実現し、広範囲の応用計測が可能と...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニソク

  • 分析装置『ESCA』 製品画像

    分析装置『ESCA』

    当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます!面分析も可能です。

    『ESCA』は、X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能な X線光電子分光分析装置です。 X線を走査しながら照射することによって発生する二次電子像 (SXI:Scanning X-ray Image)により測定場所を特定して、局所的な 組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 示差走査熱量計Discovery X3 DSC 製品画像

    示差走査熱量計Discovery X3 DSC

    世界初!3検体同時測定可能なDSCのご紹介です。

    ニーであり続けています。信頼性の高いデータを提供し、ラボでのワークフローと生産性を向上させます。 材料の特性解析は、製品の設計、製造、加工、そして応用-すべてのステージにおいて必要不可欠です。示差走査熱量計/DSCはポリマー、医薬品、食品、生体物質、有機化合物、無機化合物、および複合材料などの幅広い材料の物性評価のために、もっとも普及している熱分析装置です。...

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    メーカー・取り扱い企業: ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社 (TAInstruments)

  • 分析事例:テンパリングしたチョコレートの熱分析・粘弾性測定 製品画像

    分析事例:テンパリングしたチョコレートの熱分析・粘弾性測定

    分析のスペシャリストによる食品の分析事例のご紹介です。今回はチョコレー…

    今回TA Instrumentsがご紹介するのは「DSC」と呼ばれる示差走査熱量計と「レオメーター」と呼ばれる粘弾性測定装置です。本記事では、身近な食品であるチョコレートの美味しさについて、テンパリングに着目した測定のイメージモデルとともに分かりやすくご紹介していきます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社 (TAInstruments)

  • 【特集号】バッテリー・電子部品・半導体の分析事例集 製品画像

    【特集号】バッテリー・電子部品・半導体の分析事例集

    電池、電子部品・半導体の製造・評価には熱分析装置、粘弾性測定装置がおス…

    【装置ラインナップ/主な評価項目】 <DSC 示差走査熱量計> 融解熱,温度/ガラス転移温度/結晶化,融解/反応熱,温度/酸化 <TGA 熱重量測定装置> 熱分解温度/複合材料組成の定量/残存溶媒量/分解反応の速度論解析 <TMA 熱膨張率測定...

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    メーカー・取り扱い企業: ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社 (TAInstruments)

  • 【特集号】バッテリー・電子部品・半導体の分析事例集 製品画像

    【特集号】バッテリー・電子部品・半導体の分析事例集

    電池、電子部品・半導体の製造・評価には熱分析装置、粘弾性測定装置がおス…

    【装置ラインナップ/主な評価項目】 <DSC 示差走査熱量計> 融解熱,温度/ガラス転移温度/結晶化,融解/反応熱,温度/酸化 <TGA 熱重量測定装置> 熱分解温度/複合材料組成の定量/残存溶媒量/分解反応の速度論解析 <TMA 熱膨張率測定...

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    メーカー・取り扱い企業: ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社 (TAInstruments)

  • 油膜検知器(非防爆型)『ODL-1600A型』 製品画像

    油膜検知器(非防爆型)『ODL-1600A型』

    水面変動が大きい場所でも対応が可能!床面への漏水、漏油に対する検知器と…

    【その他の特長】 ■レーザー光の走査により、検知を妨げる異物や泡の存在、油膜の分散、油膜面の  湾曲などに対して検知信頼性を高めている ■モーターなど回転部や摺動部のある部品を使用せずにレーザー走査をおこなっている ■レーザー走...

    メーカー・取り扱い企業: 東亜ディーケーケー株式会社 本社、営業所(札幌・仙台・千葉・名古屋・大阪・広島・四国・北九州)、事業所(狭山、東大和)

  • 分析装置『ESCA』 製品画像

    分析装置『ESCA』

    当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます!

    『ESCA』は、X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能な X線光電子分光分析装置です。 X線を走査しながら照射することによって発生する二次電子像 (SXI:Scanning X-ray Image)により測定場所を特定して、局所的な 組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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