「失敗しない"ものづくり企業"の成長戦略」セミナー開催のご案内

PR3D設計データ活用によるものづくり改革のヒントが満載！DXに惑わされな…

大興電子通信株式会社は、TKP市ヶ谷カンファレンスセンターにて 「失敗しない"ものづくり企業"の成長戦略」のセミナーを開催します。 当セミナーでは、DXの本質を捉え、企業変革及び成長の実現に向けた 重要な考え方とアプローチ方法をご紹介。 多くの企業が見落としている"変革の本質"、DXを含めた変革が失敗する 主要な要因と対策、変革実行の優先順位や注意ポイントを解説します。 皆...

メーカー・取り扱い企業： 大興電子通信株式会社

『JPCA Show 2024』に出展のご案内

PR電子回路業界及び関連業界全体の発展に寄与する展示会に出展します！

株式会社アインは、東京ビッグサイトで開催される『JPCA Show 2024』に 出展します。 当展示会は、様々な電子・情報通信・制御機器に使用される 電子回路・実装技術や、新しいコンテンツとソリューション等を展示。 当社はパワーデバイス用の厚銅セラミックス基板「AMB基板」及び、 メッキ法を用いたセラミックス配線基板「DPC基板」を展示予定です。 皆様のご来場を心よりお待...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイン 本社工場

【分析事例】セラミックス表面における洗浄成分の分布評価

洗浄成分の分布の可視化や深さ方向の分布の評価が可能

セラミックスは日用品から電子部品まで幅広く利用されている無機化合物材料です。その表面状態は日用品や電子部品などの材料の性質・性能に大きく影響しています。そのため、セラミックスの機能を判断するうえで、表面状態を適切に評価すること...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

ています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流（EBIC）を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより、起電流の分布と結晶粒との対応をとりました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価

任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察

関連性についての知見が得られますが、情報の深さが異なります。EBIC分布測定で電気的性質が特徴的であった箇所について、直交断面を作製し、奥行き方向のSTEM像観察を行いました。また、各結晶粒について電子回折を測定しました。これにより、電気的性質と結晶粒・結晶粒界の関係がより一層、明らかになりました。STEM観察および電子回折測定を行うことにより、特定箇所の結晶粒について局所的な情報を得ることが可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別

TEM-EELSにより、微小領域の元素同定・化学状態分析が可能です

電子材料・触媒材料・紫外線吸収剤・光触媒などに用いられる酸化チタン（TiO2）には組成が同じで結晶構造の異なるアナターゼ型とルチル型が存在します。Si基板上に成膜した厚さ20nmの多結晶TiO2試料（写真1）について電子線プローブを約1nmΦ(FWHM)まで絞って測定を行いました。試料から取得したEELSスペクトルは、Ti, Oともにアナターゼ型TiO2の標準スペクトルと一致しています（図1, 2）。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

製造ツールの設計・製作・フレキシブル基板・フレキ基板・FPC

プリント基板周辺部材の設計・製作・調達までお受けし、開発担当者様のお手…

・高耐熱メンブレンスイッチ ・製造工程内で使用する各種ツールの調達 ・電子部品調達 ・実装治具設計及び調達（検査冶具/パレット等） ・樹脂及び金属ケースの設計及び調達（切削/3Dプリンタ） ・JTAGバウンダリスキャンテストシステム提案販売 ・メンブレンスイッチ製...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サーテック 　　フレキ基板（FPC）ソフトウェア ハードウェア

［XAFS］X線吸収微細構造

XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する…

とEXAFSを合わせた領域をXAFS（=X-ray Absorption Fine Structure）と呼びます。 XANESとEXAFSは発生起源がそれぞれ異なります。 XANESは内殻電子の非占有準位及び準連続準位への励起に起因し、EXAFSはX線照射によって放出される光電子波と隣接原子による散乱光電子波の干渉に起因します。そのためXAFS解析を行うことで、物質中の着目元素の電子状態...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術資料『表面分析の概要』

代表的な表面分析であるEPMAやAESなどを解説した技術資料

【掲載内容概要】 ■はじめに 　・表面分析方法について ■表面分析の種類と特徴 　・各表面分析の特徴 　・EPMA（電子プローブマイクロアナライザー） 　・AES（オージェ電子分光法） 　・XPS（X線光電子分光法） 　・SIMS（二次イオン質量分析法） 　・TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニケミー

【分析】RoHS指令

お客様のリスクを軽減、品質を改善、信頼を構築するため、お手伝いさせてく…

“EU（欧州連合）域内において、コンピュータ、通信機器、家電等の電気・ 電子機器について有害な化学物質の使用を禁止する指令です。 廃棄電気・電子機器のリサイクルを容易にするため、また、最終的に埋立てや 焼却処分されるときに、ヒトや環境に影響を与えないように電気・電子...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社JTC

【受託サービス】腐食環境診断／対策

ワンストップで提供！腐食環境ソリューションでお客様の課題解決をサポート

用した腐食環境診断から、 環境改善コンサルティングまで、腐食対策ソリューションを ワンストップで提供し、環境改善や機器の安定運用をサポートします。 データセンターやマシン室、交換機室などの電子機器設置環境だけでなく、 汚水処理施設や工場などの電気・電力設備設置環境、生活環境など、 さまざまな分野の環境診断にご活用いただいています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 ...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

［Slice&View］三次元SEM観察法

FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、走査イオンSIM(Scanning Ion Microscope)の観察が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

固体試料にイオンビームを照射すると二次電子が発生します。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じます。この像を走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope： SIM）像といいます。 電子線照射によってもこ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

RoHS/ELVスクリーニング分析の受託サービス｜JTL

ED-XRFによるRoHS/ELVスクリーニング分析を実施します。

ELVとは自動車・廃自動車及び部品・材料の鉛(Pb)、水銀(Hg)、カドミウム(Cd)、六価クロム(Cr6+)の4物質を規定値以下にする欧州連合の指令です。 RoHSとは電子・電気機器における鉛(Pb)、水銀(Hg)、カドミウム(Cd)、六価クロム(Cr6+)、ポリ臭化ビフェニル(PBB)、ポリ臭化ジフェニルエーテル(PBDE)の6物質を使用を制限する欧州連合の指令です...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析

金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こ…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では 【EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 を紹介しています。 EBSDで2相ステンレスにおいて、α 相とγ 相の分布割合と結晶方...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

SEM-ECCI法による転位観察

金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた…

金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM（透過電子顕微鏡法）が用いられてきましたが、近年ではSEM（走査電子顕微鏡法）による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ