超小型・軽量サーモクーラー　baby SAMOL SL-1F

PR驚きの冷却機能を搭載した手乗りサイズの電子冷却装置！サーモ・クーラー

baby SAMOL SL-1Fは手乗りサイズのサーモ・クーラーです。 こんな小ささで、－５℃を作れます。つまり凍るんです！（外気２０℃） 完全電子部品ですので、高精度の温度調節にも好適です。 ◆極めて高い冷却能力。 冷却できる温度は標準品で周囲の温度から約３０℃下げる事が可能。 特注品では５０℃まで冷却できるものも製作可能です。 また、冷却能力は、入力電力の約40%と高い効率です。 ■用途...

メーカー・取り扱い企業： 日本ブロアー株式会社

金属溶接／接合でお困りではありませんか？※溶接手法の説明資料進呈

PR電子ビーム溶接、TIG溶接・真空ろう付け・トーチろう付け・マイクロTI…

電子ビーム溶接、ろう付お任せください！ 電子部品などの精密溶接のほか、通常溶接のご依頼も大歓迎です！ 第2工場稼働により生産能力増強しました。少量～大量まで、小物～大物まで承ります！ ヘリウムリーク検査、マイクロスコープで高信頼性溶接に対応しています。 【こんなお困りごとはありませんか？】 ■金属溶接の依頼が初めてで、適した加工方法が分からない… ■精密でなく、通常の溶接を依頼したい… ★そ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社太陽イービーテック

【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT（High Electron Mobility Transistor）」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層（2DEG）が得られ、電子移動度が...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価

Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能

GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT（High Electron Mobility Transistor）」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層が得られ、電子移動度が高くなります...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

透過電子顕微鏡での電子回折法は、試料への電子線の入射の仕方によって3つに分類されます。それぞれの特徴とデータ例を示します。評価対象物のサイズや分析目的に応じて、適切な手法を選択する必要があります。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

破面分析に　走査型電子線マイクロアナライザ

分析試料の表面状態をリアルタイムに映像化する走査型の電子顕微鏡

【走査型電子線マイクロアナライザ　主な特長】 ●細く絞った電子線を分析試料に照射し、その部分から発生する「特性X線」を収集します。特性X線は元素によって波長が異なることを利用し、X線検出器で波長分析を行うこと...

メーカー・取り扱い企業： 日本カタン株式会社

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

ても、ご相談承ります。 『測定法』 ○質量分析法 SIMS　二次イオン質量分析法 TOF-SIMS　飛行時間型二次イオン質量分析法 ICP-MS　誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS　X線光電子分光法 UPS　紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES　オージェ電子分光法 SEM　走査電子顕微鏡法 EBIC　電子線誘起電流法 ほか ○振動分光...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

発熱解析による電子部品の故障箇所特定

故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇…

、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画…

当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得るこ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信タ...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

電子基板・部品の解析

高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決！電子基板の解析事例をご紹介

「電子基板・部品の解析」は、お客様の”知りたいレベル”に応じて 表面分析手法をご提案します。 FT-IR(反射法・ATR法)をはじめ、XPS表面分析や、AES深さ分析など 電子基板配線パターンの...

メーカー・取り扱い企業： イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部

[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM（Automated Crystal Orientation Mapping）-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界（対応粒界）の観察が可能 特定結晶方位の抽...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

走査電子顕微鏡-X線分析

試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。

走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察す...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察

GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観…

GaNなどのパワー半導体において、原子レベルの欠陥は性能の劣化に影響を及ぼします。EBSD検出器を用いた前方散乱電子の評価により、転位に加えてステップ(微小な段差)や微小方位差の観察が可能となります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

電子機器の加速劣化試験サービス

お客様の製品に適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施！加速劣化試…

電子機器の軽薄短小化により配線の狭ピッチ化、ファインパターン化が 加速し、さらには使用環境の過酷化に伴い、より一層、マイグレーションを 代表とした絶縁劣化などのリスクが高まっています。 当社は、各種公的規格に準拠した試験は勿論、長年、各種電子機器の 品質保証で培ってきた試験・ノウハウを ベースに、お客様のご要望に 即した加速劣化試験を実施いたします。 製品の使われ方やお悩み事項等の...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

ハイスピードカメラ出張撮影サービス

高速動作をハイスピードカメラで撮影/解析

視認不可能な高速動作をハイスピードカメラで撮影/解析いたします。 原因不明な不具合の解決に貢献いたします。 お気軽にお問い合わせください。...【使用設備】 KEYENCE VW-9000...

メーカー・取り扱い企業： 東部電子工業株式会社