• 【サーキットブレーカー】CBXM-200シリーズ 製品画像

    【サーキットブレーカー】CBXM-200シリーズ

    PRシンプルな構造で海外などの過酷な環境に好適!

    『CBXM-200シリーズ』は、バイメタルを利用した熱動式の サーキットブレーカーです。 直接電流を流すことにより、過電流が流れたときに回路を遮断させ、 ボタンを押すことによって回路がつながり再度電流を流せます。 大型で頑丈に出来ていますので、振動の多い所や環境変化の厳しいところ での使用にも耐えられます。 【特長】 ■高耐久 ■温度差に強い ■大電流対応 ■シンプ...

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    メーカー・取り扱い企業: 電波精器株式会社

  • 真空機器用 電流導入端子『MSコネクター』※真空展に出展します 製品画像

    真空機器用 電流導入端子『MSコネクター』※真空展に出展します

    PRMS(MIL-C-5015)規格のプラグに勘合するガラスハーメチックシ…

    当社では、D-subをはじめ、MS(MIL-C-5015)規格のプラグに勘合する ガラスハーメチックシールの製造販売をしております。 フランジへの溶接等も行っておりますので、お好みのサイズで 真空容器の電流導入端子として使用して頂けます。 芯数のバリエーションは3・4・10・14・19・24・48と一般的なものからカスタム品まで対応可能です。 【特長】 ■MS(MIL-C-5015)規格のプ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フジ電科

  • 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS X線光電子分光法 UPS 紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES オージェ電子分光法 SEM 走査電子顕微鏡法 EBIC 電子線誘起電流法 ほか ○振動分光 FT-IR フーリエ変換赤外分光法 Raman ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD X線回折法 SAXS X線小角散乱法 XRR X線反射率法 ○SPM関連...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】受託分析サービス 非破壊観察 製品画像

    【資料】受託分析サービス 非破壊観察

    半導体や電子部品の不具合箇所の特定や、新素材の電流分布の測定に有効!

    当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス 非破壊観察」について詳しく解説しております。 磁場顕微鏡で行うプリント基板配線パターン内の電流経路観察や、 超音波顕微鏡でのウェーハ貼り合わせの密着性観察(反射法)などの 事例を多数掲載。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【掲載内容】 ■磁場顕微鏡 ■超音波...

    メーカー・取り扱い企業: 東芝ナノアナリシス株式会社

  • ノイズ測定・診断・対策 製品画像

    ノイズ測定・診断・対策

    EMC指令に加え、低電圧指令・機械指令の支援も対応!ノイズに関する相談…

    ・機械指令の支援も承ります。 ご用命の際は、お問い合わせください。 【産業機器、情報処理装置、家電のエミッション試験】 <試験項目> ■電源端子妨害電圧 ■放射電界強度 ■雑音妨害電力 ■高調波電流妨害 ■電圧変動(フリッカ)妨害(定格16A以下) ※オンサイトテスト 7チーム体制に増設を予定。スピーディな対応可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 双信電機株式会社 東京本社

  • パワーデバイスのHAST試験 製品画像

    パワーデバイスのHAST試験

    パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!…

    モン・保護抵抗110kΩ)  試験数量 :最大30個 (正極側)  対応モジュール :TO-247、TO-220 等 (その他のパッケージは要相談:ソケット調達可)  測定内容 :漏れ電流のモニタリング  試験装置 :温度制御範囲 105.0℃~142.9℃ 湿度制御範囲 75%RH~100%RH        圧力範囲 0.020~0.196MPa(ゲージ圧) ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 車載電子機器の環境試験 製品画像

    車載電子機器の環境試験

    お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法のご提案や、正確なデータを…

    近年の車載環境は、温度、湿度、振動などの条件が過酷にも関わらず、 高電圧・大電流をより微細化(軽量化)されたデバイスでコントロール しなければいけません。 クオルテックでは、車載環境を忠実に再現した信頼性試験を提供するだけでなく、 JNLAの登録試験所として、お客様の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • リチウムイオン電池向けのソリューションならコネックスシステムズ 製品画像

    リチウムイオン電池向けのソリューションならコネックスシステムズ

    コネックスシステムズは電池開発における、専門的な知見でお客様の目的や用…

    LFPセルを採用し、長寿命・安全・温度範囲が広い ・エネルギー密度が高い・コンパクト・軽量・環境にやさしい ・効率が高い・充電が速い ・制御装置(BMS)内蔵で、安心安全・信頼性が高い(電圧・電流・温度の保護機能付き) ・鉛蓄電池(VRLAバッテリー)と同じサイズで置き換えが簡単 ・メンテナンスフリー ...

    メーカー・取り扱い企業: CONNEXX SYSTEMS株式会社

  • 『設備校正サービス』 製品画像

    『設備校正サービス』

    ◆◆メーカーでしか出来ないと思っていませんか? 現地校正なら是非大王電…

    主な対応機種】 ○電気計器 →直流電圧電流発生器、直流校正装置、変成器、  抵抗器、デジタルマルチメータ ○高周波計器 →レベル計、雑音電圧計(ノイズメータ)、高周波電力計、  ノイズフィギュアメータ、モジュレーションアナライザ ...

    メーカー・取り扱い企業: 大王電機株式会社

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器に入射すると、 特性X線のエネルギーに相当する数の電子-正孔対が生成。 この数(電流)を測定することで特性X線のエネルギーを知ることができ、 エネルギーは元素により異なるため、物質の元素情報を調べることが可能です。 【EDSによる分析(一部)】 ■金属間化合物の定性分析(...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーモジュール部品の抵抗値・発熱温度値測定サービス 製品画像

    パワーモジュール部品の抵抗値・発熱温度値測定サービス

    製品測定時に発生しうる不具合を未然に防ぐために!

    通電容量が大きくなるほど接触抵抗値による発熱リスクが高まります。 サンケイエンジニアリングでは、大電流通電中の発熱温度や抵抗値を測定する通電実験サービスをご提供しています。 モジュール部品の抵抗値を正確に把握し、接触抵抗値を低く安定させるコンタクトプローブを選ぶことで、測定中の不具合の発生を減...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンケイエンジニアリング 本社

  • 得意技術『MENS微細加工』 製品画像

    得意技術『MENS微細加工』

    フェロ&ピコシステム研究部の得意とするMENS微細加工技術をご紹介!

    ・海外アセスメント ■磁石材料全般の分析、試験 ・FE-SEM/SEM-EDS ・FE-EPMA ・プリセッション回折TEM ・FIB ・ICP-AES ・SPM(AFM、MFM、電流像) ・温度可変パルスBHカーブ測定装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社KRI

  • 発熱解析による電子部品の故障箇所特定 製品画像

    発熱解析による電子部品の故障箇所特定

    故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…

    【装置仕様】 ■観察視野サイズ:9.5x7.5mm~1.2x0.96mm ■検出波長領域:3.7um~5.1um ■最大印加電圧、電流:1.5kv/120mA 3kV/20mA ■ロックイン周波数:0.1Hz~83Hz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 短絡耐量試験の概要および特長 製品画像

    短絡耐量試験の概要および特長

    パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

    scより十分短い時間で、保護回路が動作するように設計します。 【試験の全景】 ■デバイスは破裂してパッケージが飛び散る場合があるため、  厚さ10mmのアクリルケース内で試験を実施 ■大電流を供給する大容量のコンデンサとDUTは低インピーダンスで接続する  必要があり、特殊構造によりこれを実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル受託試験のご案内 製品画像

    パワーサイクル受託試験のご案内

    ご希望の条件に沿った形でパワーサイクル試験機をカスタマイズ!お求めのデ…

    ワーサイクル試験」は、チップの自己発熱と冷却を、短時間で繰り返す 熱ストレスへの耐久性を評価するために、重要性が増しています。 例えば"異なるTj(ΔTj)で同時に試験がしたい""異なる印加電流で同時に試験したい" など、このようなご要望に対し、クオルテックでは、試験機を一から作製し試験を実施。 試験機をカスタマイズする事により、既存の試験機では対応できないきめ細かな ご要望にも...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM 製品画像

    【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM

    誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化

    合わせることで、温度変化に伴う誘電体材料の絶縁劣化を可視化した事例を紹介します。 測定法:SSRM(走査型拡がり抵抗顕微鏡) 製品分野:誘電体材料、コンデンサ、MLCC 分析目的:抵抗値分布、電流分布、絶縁劣化評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 高調波簡易診断 製品画像

    高調波簡易診断

    異常・劣化が診断可能!設備機器の困りごとを解決いたします

    当社の故障劣化予知診断では、『高調波簡易診断』が可能です。 測定対象はモーター、機械。異常・劣化が診断できます。 診断対象は(A・B1・B2・B3・C)の5段階診断です。 また、電流不平衡・負荷モードも測定基準に含み、 モーターから一番近い制御盤で測定します。 【測定対象 モーター部】 ■回転軸・軸受・据付 ■巻線の絶縁・振動 ■軸受・ハウジングの損傷 ■エアギ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本メカトロン株式会社 大阪事業所

  • 分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析 製品画像

    分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析

    デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供

    パワーデバイスは高電圧・大電流のスイッチとして電力/省エネの観点で注目されています。パワーデバイスでは、高電圧がかかるゆえの配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必須となり...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定 製品画像

    【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

    ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

    半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているS...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析 製品画像

    【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析

    Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析

    ってしまうという問題があります。そこで、高周波数側から低周波数側に測定条件を振っていき、発熱信号が得られ始める周波数を見際めることが重要となります。 本事例では円筒状のパッケージ品において、リーク電流に伴う発熱箇所を非破壊で特定した事例をご紹介します。このように液晶法では難しい立体構造の試料でも発熱箇所の特定を行うことが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査 製品画像

    【分析事例】バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査

    高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

    常を確認可能です。また、エミッタ電極の遮光により、発光が検出できない場合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 2000Vまで印加可能な高電圧電源を用い、高耐圧で低リーク電流のパワーデバイスを動作させ、エミッション顕微鏡で故障箇所を特定する例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価 製品画像

    【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

    実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

    近赤外VCSEL(面発光レーザー)の実装品を解体して微小なチップを取り出し、断面加工の後にSMM計測を実施しました。 VCSELの開口部を取り囲むように、高抵抗の電流狭窄層が観察されました。また、活性層近傍では材質の異なる膜が積層しており、この組成を反映したコントラストとして計測されました。同一組成の層内にもコントラストが確認され、これはキャリア濃度差やバンドの...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiCSchottkyDiodeのブレークダウン観察 製品画像

    【分析事例】SiCSchottkyDiodeのブレークダウン観察

    前処理から発光箇所特定まで一貫解析

    00V耐圧のSiC Schottky Diodeを動作させ、逆方向に高電圧まで印加することで、ブレークダウンを発生させました。カソード電極を研磨で除去後、エミッション顕微鏡観察を行い、ブレークダウン電流発生箇所を特定した事例をご紹介します。測定には市販品を用いています。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法

    導結合プラズマ(ICP)を励起源として用いた無機元素分析の手法です

    ICP-MSは特定の質量/電荷比(m/z)のイオン強度を測定する手法です。イオン源としては一般的にアルゴンプラズマが用いられます。 アルゴンプラズマは、高周波電流の流れる誘導コイルを巻いた石英3重管にアルゴンを流すことで得られ、非常に高いガス温度、電子温度を持つため、多くの元素に関して90%以上のイオン化が可能です。 多くの金属は+1価のイオンとして質量分析...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 東京都立産業技術研究センター 車載電子機器向けEMC試験の支援 製品画像

    東京都立産業技術研究センター 車載電子機器向けEMC試験の支援

    測定から対策まで一括サポート!多摩テクノプラザのEMC支援

    ■10m法電波暗室 ・車載放射エミッション測定システム ・車載伝導エミッション測定システム(電圧法・電流法) ■3m法電波暗室 ・放射エミッション測定システム ・伝導エミッション測定システム ・放射イミュニティ試験システム ■電波ノイズ試験室(3m法) ・車載放射イミュニティ試験システム ...

    メーカー・取り扱い企業: 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

  • WDXによる元素分析サービス|JTL 製品画像

    WDXによる元素分析サービス|JTL

    材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

    ていますので、B~Uまでの元素の高精度な定量が可能です。 【微小領域(サブミクロンオーダー)の分析空間分解能】 FE-EPMAは電解放射(FE)型電子銃を採用しており、低加速電圧、WDX分析電流範囲 (10~100 nA) でも微小プローブが得られるため、低加速電圧を用いた高いX線空間分解能の分析が可能です。 サブミクロンオーダーまで分析領域が絞れるため、30,000倍程度でのマッピング...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法 製品画像

    [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法

    ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

    ■広がり抵抗とは 試料にバイアス電圧を加えて、探針直下に存在するキャリアを探針に流入させ、その電流を対数アンプで増幅して、抵抗値として計測します。このとき、印加したバイアス電圧は、探針の直下で急激に減衰します。そのため、探針に流入できるキャリアは、探針の極近傍に存在するものに限られ、これを抵抗値...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    [SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    の範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能(装置による) ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能  EDX検出器による元素分析が可能  電子線誘起電流(EBIC)を測定し、半導体の接合位置・形状を評価  電子後方散乱回折(EBSD)法により、結晶情報を取得可能  FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能(Slice ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • FE-EPMAによる受託サービス|JTL 製品画像

    FE-EPMAによる受託サービス|JTL

    電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)による微少領…

    にSEM像の撮影(二次電子像、反射電子像他)も可能です。 【微小領域(サブミクロンオーダー)の分析空間分解能】 FE-EPMAは電解放射(FE)型電子銃を採用しており、低加速電圧、WDX分析電流範囲 (10~100 nA) でも微小プローブが得られるため、低加速電圧を用いた高いX線空間分解能の分析が可能です。 サブミクロンオーダーまで分析領域が絞れるため、30,000倍程度でのマッピング...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • ロックイン発熱解析法 製品画像

    ロックイン発熱解析法

    ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

    ・IR-OBIRCH機能も合わせ持ち、発熱箇所特定後、IR-OBIRCH測定により、故障箇所をさらに絞り込むことができます。 ・赤外線を検出するため、エッチングによる開封作業や電極の除去を行うことなく、パッケージのまま電極除去なしに非破壊での故障箇所特定が可能です。 ・ロックイン信号を用いることにより高いS/Nで発熱箇所を特定でき、Slice & Viewなど断面解析を行うことができます。.....

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 中古太陽電池パネル リユース測定サービス 製品画像

    中古太陽電池パネル リユース測定サービス

    中古パネルのリユース

    測定とEL検査には、国内外の太陽電池パネル生産メーカー様にもご使用いただいているデンケン製の検査装置を使用します。 ・IV測定 擬似太陽光を太陽電池パネルに照射しながら、パネルが発生する電流と電圧を測定します。 測定装置:太陽電池モジュールテスター/DKSMTシリーズ ・EL検査 目視では検査が出来ないマイクロクラック(割れ)を検査します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社デンケン

  • 株式会社WADOWのシミュレーション受託 製品画像

    株式会社WADOWのシミュレーション受託

    世界最小のものから宇宙で使われるものまで!経験と実績のシミュレーション…

    ーン共振、電磁放射、EMIルールチェック、他 →使用ツール:DEMITAS NX、EMIアドバイザー、  ハイパーリンクス、ALLEGRO、他 ○電磁界シミュレーション →Sパラメータ抽出、電流分布、IRドロップ、他 →使用ツール:HFSS、SIwave、他 ○熱シミュレーション →基板温度分布 →使用ツール:ANSYS ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードし...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社WADOW

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