半導体/FPD検査顕微鏡　MX63/MX63L

半導体・FPDなどの検査をより快適に、より効率的に

MX63/MX63Lは最大300mmサイズのウエハーや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。さまざまなアプリケーションに対応するモジュールを組み合わせることで、お客様に有益なシステムを提供することができます。 さらに、PRECiV画像解析ソフトウェアと組み合わせることで、観察からレポート作成までのシームレスなワークフローを提案します。...従来の観察方法では見つけにくか...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ナガタ

レンズ高さ測定装置

レンズ先端部と基板部の段差を同時に測定可能！全自動型インラインにも対応…

『レンズ高さ測定装置』は、高速高解像度カメラと顕微鏡を用いてレンズ 焦点法によりキャリア上に搭載されている部品の3次元測定を自動で行います。 レンズ先端部と基板部の段差を同時測定。 インジェクションで基板に成形したレンズの高さ測定が可能です。 従来の顕微鏡目視高さ測定に比べ、高精度CMOSカメラにより圧倒的な 高精度、高再現性を短時間で実現いたします。 また全自動型インライ...

メーカー・取り扱い企業： ソフトワークス株式会社

低価格 高性能 分子間相互作用解析装置

3t-analytik社 QCM-Dリはアルタイムで質量変化と粘弾性、…

○ポンプ送液のフロー測定タイプ ○独特の負荷フリーセンサーセル設計により、低ノイズ測定 ○加熱・冷却温度制御付きのフローセル ○内部で対流が極めて起こりにくいユニークなフローセル設計 ○耐ケミカル仕様で、ほとんどの試料溶液に対応 ○共通のユーザー・インターフェースで全自動運転 ○全センサにID番号が振り分けられており、実験を一括管理 ○5秒でセンサー取り付け ○低価格 QCM...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

『コンタミネーション解析システム』※デモ機貸し出し

汚れをキレイに見分けます！自動車や産業機器など厳密な定量化を必要とする…

『コンタミネーション解析システム』は、フィルター上に捕集した夾雑物 (コンタミネーション)を顕微鏡法により観測し、画像解析装置にて 自動的に測定を行います。 人因によるバラツキを抑えながら短時間に計測することが可能。 マンパワーを軽減し作業コストの削減に役立ちます。 ISO162...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニレコ

ゼータ電位・粒径分布測定装置『ZEECOM(ZC-3000)』

見える粒子計測で微粒子1個1個のゼータ電位測定！ブラウン運動による粒径…

『ZEECOM(ZC-3000)』は、微粒子の泳動を画像処理によって、 リアルタイムに自動追尾するゼータ電位・粒径分布測定装置です。 溶媒によって変化する表面の帯電状態を計測。 pHに対するゼータ電位の応答性から等電点を測定します。 また、粒径とゼータ電位の測定でコロイド粒子を多角的に評価します。 【特長】 ■顕微鏡電気泳動法に先進の画像処理をプラス ■ブラウン運動自動追...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マイクロテック・ニチオン

【技術資料】鋼中のアルミナ非金属介在物と空孔の弁別検出

超音波による鋼中のアルミナ非金属介在物と空孔の弁別検出

最近の超音波探傷法の進歩は著しく、特に高周波でかつ収束型の探触子に よる高感度探傷技術を使用すれば鋼中の微少な非金属介在物の検出も 可能である。 この方法では材料内部の検査が可能であり、この点では光学顕微鏡検査 よりも優れていると言える。また、反射パルスの位相（波形）を解析 すれば、反射体の音響インピーダンスからある程度の反射体の材質の 測定が可能である。 ⇒続きはカタログダウン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社KJTD