JECA FAIR2024「第72回電設工業展」出展のご案内

PR情報化社会のリスク管理に好適な製品ラインアップ！出展情報のご紹介

株式会社昭電は、東京ビッグサイトで開催されるJECA FAIR2024「第72回 電設工業展」に出展します。 当展示会では、新製品の「電源・通信用SPD」、「サンダーブロッカーPro」、 落雷検出装置「TMZ-1000」などの雷害対策製品・サービスを出展予定。 また、5月30日(木)15：30-16：00に「最新SPDとアプリケーションの紹介」 をテーマにした出展者プレゼンテーシ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社昭電

サーボアンプ　CA350-011シリーズ

PR安定した高速駆動　高精度な制御を実現　

■特徴 CA350-011は、直動サーボ弁駆動用サーボアンプです。 指令入力電圧に比例して、サーボ弁のスプール位置を変位制御します。 出力にはPWM方式を採用し、安定した高速駆動が可能です。 サーボ弁のスプール部に設置したLVDTセンサによる変位信号を、電圧値でフィードバックすることにより高精度で制御します。 基板本体は100×139mmの樹脂製ケースに収められ、コンパクトかつ軽量に仕上がっていま...

メーカー・取り扱い企業： ピー・エス・シー株式会社

SMファイバ出力安定化LD光源

SMファイバ出力安定化LD光源

指定のLDでの製作も承っております。 ■特長 ●光出力：1mW ●波長選択：375、406、445、473、635、650、670、785、808、830、850、904、980、1060、1310、1480、1550、1640nm ●高い安定性：APC機能により±1%の安定度(一定温度下) ●SMファイバ出力：波長に合せたSMファイバ出力により、空間的に安定した円形ビーム ●小型軽量...

メーカー・取り扱い企業： プレサイスゲージ株式会社

マイクロレンズ用透過波面収差測定検査装置

マイクロレンズの評価を行う際に形状は問題なく出来ているようでも、実際に…

います。弊社は、独自の技術を用いマイクロレンズの透過波面収差測定を行い、マイクロレンズ評価を行うシステムをご提供いたします。干渉計を用い、対応レンズ径範囲30μｍ〜500μｍ、対応波長633nm／1310 nm／1550 nmでのユーザカスタマイズを行い、システムを設計・製作いたします。 1310 nm／1550 nmを用いることにより、通信分野マイクロレンズの評価も可能となります。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプトデザイン

断層画像撮影システム【SS-OCT】

HIGH SPEED SWEPT SOURCE を用いたプローブ型OC…

深さ：5～10nm、分解能：4～13μm (深さ方向) ■ リアルタイム2D画像の観測で位置決め、シームレスに3D画像計測へ 　 数秒で1ボリュームの撮影が可能 ■ 中心波長は1060nm・1310nm・1550nmから選択可能 　 MEMSタイプ・VCSELタイプが選択可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング

光損失測定装置

プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

●633nm、830nm、1310nm、1550nm等、最大4つのレーザーを同時搭載可能 ●低価格、一年間のメーカー補償付 ●TL-9000、ISO-9001保有 ●サンプルを送付頂けましたら、デモ測定致します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

膜厚-光屈折率-光伝搬損失　測定装置

プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

●633nm、830nm、1310nm、1550nm等、最大4つのレーザーを同時搭載可能 ●低価格、一年間のメーカー補償付 ●TL-9000、ISO-9001保有 ●サンプルを送付頂けましたら、デモ測定致します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー