• 【現場のDX推進】3D計測データ処理ソフトGalaxy-Eye 製品画像

    【現場のDX推進】3D計測データ処理ソフトGalaxy-Eye

    PR3D計測データを利用したシミュレーションや部材セミオートCAD化機能で…

    プラント施設、建築現場などでこのようなご要望はございませんか? 「現場にある配管やダクトなどを素早く簡単にCAD化したい」 「設計図が無い現場を3Dデータ化して管理したい」 「設備を新たに導入するための搬入ルートを検討したい」 「既存設備のレイアウト変更を検討したい」 『Galaxy-Eye』は3Dレーザー計測器から得た大規模点群データを軽快に処理するソフトウェアです。 3Dレ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社富士テクニカルリサーチ

  • 【6/19~6/21】設計・製造ソリューション展2024に出展! 製品画像

    【6/19~6/21】設計・製造ソリューション展2024に出展!

    PR盤設計・製造工程の生産性向上をご提案いたします。

    2024年6月19日(水)〜6月21日(金)に東京ビッグサイトで開催されます「設計・製造ソリューション展」に出展いたします。 本展示会では、電気設計専用CAD「ECAD DCX」と日東工業のキャビネット穴加工図面作成Webシステム「キャビスタ」との連携、盤製造支援システム「WIRE CAM DX」と各種加工機の実機を展示し、お客様の盤設計・製造工程の生産性向上をご提案いたします。 皆さまのご来...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ECADソリューションズ

  • 【パターンウェハ】3D ILD Pattern 製品画像

    【パターンウェハ】3D ILD Pattern

    CMP研究・開発用途に大変有用! 対応膜種はご希望によりご相談ください…

    アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像は、HDP、SiN on Si の例になります。 200mm、300mmにて対応可能です。 対応膜種はご希望によりご相談ください。 高段差のパターンもご用意があります。 CMP研究・開発用途に大変有...

    メーカー・取り扱い企業: アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

  • 【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer 製品画像

    【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer

    CMP研究・開発用途に大変有用! 高段差のパターンも用意あり

    アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はHDP、SiN on Si の例です。 200mm 300mm にて対応可能です。 対応膜種はご希望によりご相談ください。 高段差のパターンもご用意があり、 CMP研究・開発用途に大変有用です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

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