原料自動計量装置『Recipe（レシピ）』

PR製菓・製パンなどの計量ミス、入れ忘れ、二度入れを解消。FOOMA JA…

『レシピ』は、粉体材料の計り間違いや入れ忘れなどを解消する自動計量装置です。 予めデータを登録しておけば自動演算ができ、 面倒な配合計算やボタン操作は不要。 また、各材料を順次、自動的に切り出すことができるため、 オペレーターはその場を離れることができ、時間・労力の削減につながります。 計量データはSDカードに保存でき、表計算ソフトを使った管理も可能です。 【特長】 ■1...

メーカー・取り扱い企業： 伊藤工機株式会社 本社

全方向360°！先端可動式工業内視鏡　ビデオインスペクター3D

PR【デモ機対応可能】先端可動式工業用内視鏡ビデオインスペクター3D　手の…

『先端可動式ビデオインスペクター3D』は、全方向（水平）360度、湾曲（垂直）最大210度、直感ジョイスティック操作で自在に先端カメラを操り、手の届かない場所をフレキシブルに確認・撮影できる工業用内視鏡です。 【特長】 ■カメラヘッドは全方向（水平）360°、湾曲（垂直210°）直感ジョイスティック操作 ■IP68完全防水カメラには7段階輝度調整可能なセラミックLEDを搭載。最大約20,...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社阪神交易

パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』

狙った欠陥を確実にキャッチ！パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で…

『CI4000』は、全6面検査自動化により、目視検査レスを実現した パワーデバイス用チップ外観検査装置です。 上面・下面検査は、マルチアングル照明＋複数枚撮像で 様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込みます。 また、側面検査ではXYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、 ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■全6面の微細欠陥を自動検査 ■最...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

外観検査装置　Prestige V

８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。 ...● 高解像度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

【鏡面ワーク表面の欠陥を見逃さない！】表面欠陥検査ユニット

「SSMM-1R」は第32回中小企業優秀新技術・新製品賞において優秀賞…

『SSMM-1R(スリットシフト Min Max-1R)』は、塗装品(ツヤ有り)・ メッキ品・フィルム・ガラスのように、光を反射又は透過する製品の 表面の傷・異物の検出を行う検査ユニットです。 ユーザー様のご要望に応えて「SSMM-1」をリニューアルしました。 特殊スリットパターンを使うことで検出能力を高めたほか、 その特殊パターンを1周期シフトさせながら輝度差を取る事で、 曲面を...

メーカー・取り扱い企業： バイスリープロジェクツ株式会社

ワンショット画像チェッカー 「Focus6500IA」

1400万画素FAカメラ搭載！FAカメラ搭載により長寿命な画像チェッカ…

ワンショット画像チェッカー（TASCAL）Focus6500IAは、予め登録しておいた参照画像と被検査基板の検査画像を比較検査（パターンマッチング）を行う装置です。 1400万画素のFAカメラ搭載により、長寿命です。 検査内容は、部品の有無、極性、部品ズレ、色違い、半田有無、異物検査、カラーコード確認・色比較（オプション）、文字確認・長さ面積測定（オプション）、部品ズレ量計測（オプション）とな...

メーカー・取り扱い企業： 協立テストシステム株式会社

Cマウントデジタルラインセンサ

ビデオカメラ用Cマウントレンズが使える小型・ローコストタイプの白黒ライ…

ビデオカメラ用Cマウントレンズが使える 小型店ローコストタイプの白黒ラインセンサです。 3.5μｍの素子により解像度がUP。 また、Cマウントレンズが使用できるので安価に多くの種類をご提供できます。 【特長】 ●画素数　2,048および4,096の2機種が揃っています。 ●2/3インチサイズのCマウントレンズが使用できます。 ●画素サイズはPCL02MC（2kタイプ）が7...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ピコ

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属エッチング加工製品では、目...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人