超硬ボーリングバー

PRヘッド接合部はV字カットのロー付けにより高強度な接合を実現！

当社で取り扱う『超硬ボーリングバー』をご紹介いたします。 CCチップ用「C-SCLCR型」とTPチップ用「C-STUPR型」をラインアップ。 クランプスクリューとトルクスレンチを付属しております。 その他、機内スペースが狭いNC旋盤などにおいて有効スペースを 確保できる「ボーリングバースリーブ」もご用意しております。 【ラインアップ】 ■CCチップ用「C-SCLCR型」 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社丸石

電流導入端子

PR高真空、超高真空へ の電流導入端子です！

米国MPFプロダクト社の電流導入端子のご紹介です。 ■MIL丸型、C-Sub型のマルチピン、熱電対、高電流・高電圧タイプ、同軸タイプ等各種電流導入端子を取り扱っております。 ■電流導入端子と併せて使用するコネクタ、ケーブル等もお取り扱いがございます。 ■標準品のカスタマイズ（フランジの変更、ピン長さの変更等）にも対応しております。まずはお問い合わせ下さいませ。 ※詳しくはカタログを...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクサム

JIS C 60068-2-30　温湿度サイクル試験

弊社では、JIS C 60068-2-30 環境試験ー温湿度サイクル試…

１．JIS C 60068-2-30 試験の概要： ・JIS C 60068-2-30 では「高湿度環境下で温度変化が繰り返されて、部品、機器またはその他の製品の表面に結露が生じるような条件で使用、輸送または保...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

非破壊解析技術　C-SAM（2D～3D）

2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

非破壊解析技術である「C-SAM（2D～3D）」についてご紹介いたします。 超音波顕微鏡では、主にA-Scanデータを基にして、外観上では確認できない 内部領域の空隙やクラック等の有無を評価しています。 検出...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

コンパクトCT機器『Phoenix V|tome|x C』

低コストで生産工程向け堅牢かつ省スペース設計！信頼性のコンパクトCT

コンパクトCT機器『Phoenix V|tome|x C』は、生産工程管理向け320/450kV管球搭載コンパクトCT機器です。 3次元スキャニング範囲は最大 500mmØ x 1000mmで、欠陥の場所...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

JIS C 60068-2-27 衝撃試験方法

◤ 衝撃試験（正弦半波・台形波）◢　エラストマを装着して作用時間の長い…

JIS C 60068-2-27 (IEC 60068-2-27) の概要： ・JIS C 60068-2-27 (IEC 60068-2-27) は、輸送、保管中及び荷扱い中、又は使用中に、比較的頻度...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

受託不具合調査

色々な角度から評価可能！多数の試験装置をそろえております

【試験装置】 ＜電気性能試験＞ 絶縁耐力試験装置：JEC 0102 低圧短絡試験装置：JEM 1460 衝撃電圧発生装置：JIS C 2110-3 ＜環境試験＞ メタリングウェザーメーター 恒温恒湿槽：JIS C 60068-2-14他 振動試験装置：J...

メーカー・取り扱い企業： 関西電力送配電株式会社 技術試験センター

受託試験

企業や大学等、幅広いお客様を対象！様々な知見やノウハウが蓄積

【試験装置】 ＜電気性能試験＞ 絶縁耐力試験装置：JEC 0102 低圧短絡試験装置：JEM 1460 衝撃電圧発生装置：JIS C 2110-3 ＜環境試験＞ メタリングウェザーメーター 恒温恒湿槽：JIS C 60068-2-14他 振動試験装置：J...

メーカー・取り扱い企業： 関西電力送配電株式会社 技術試験センター

［C-SAM］超音波顕微鏡法

C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です…

C-SAMは、SAT：Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

数値解析（C.F.D.）の受託業務

CADデータの修正、解適合解析等を実例に基づくアニメーションでの説明！

という 問題をかかえている時、解析シュミレーションで事前に確認することが 出来ます。 費用、労力のコスト削減できればというご要望にお応えし、 お客様をアシストします。 【数値解析（C.F.D.）】 ■温度分布（熱拡散）解析 ■濃度分布（物質拡散）解析 ■ガス反応/流れ/燃焼解析 ■耐震強度解析 ■分析に基づくシュミレーションアニメ作成 ■三次元CAD図形作成 ■R...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社Ｔ＆Ｄソリューション

【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699

劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。

半導体を多く使う電子機器では各部品をはんだ付けにより実装しています。このはんだ接合部に不良が生じると電子機器に不具合が生じます。その為はんだに関して濡れ性を評価することは部品の信頼性を評価するうえで重要です。今回は疑似的に試料を劣化させ、はんだの濡れ性がどうなるかを検証しました。恒温恒湿試験後、電極表面の濡れ性が変化することが分かりました。 測定法：恒温恒湿試験,はんだ濡れ性試験 製品分野：パ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

PFAS(有機フッ素化合物)分析

「PFASの特徴と各国の規制について」 資料進呈中！

新任者の方の社内教育として、今後の対応を考えるために規制の流れをつかむ資料として、有機フッ素化合物を知るための資料としてなど、ぜひお手に取ってご活用ください！ PFHxS、PFOS、PFOA、C9-C14PFCAｓやC9-C21PFCAｓ等のPFAS（有機フッ素化合物）に対する規制は国内外で広がりを見せています。 弊社では、多数のPFAS（有機フッ素化合物）の分析を承っております。 ...

メーカー・取り扱い企業： 内藤環境管理株式会社

【分析事例】C60,GCIBを用いたアルカリ金属の深さ濃度分布

SiO2膜の不純物の評価

であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にC60（フラーレン）とGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動が抑えられることがわかりました。この測定を行うことで、SiO2...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

Leitz PMM-C「高速・高精度三次元測定」

高速・超高精度！大型の部品や治具の測定が可能です。

【仕様】 ［Leitz PMM-C 8.10.6］ ○測定範囲 (mm) X=800 , Y=1000 , Z=580 ○最大ギア (mm) 平歯車：750 / ヘリカル歯車：500 ○空間長さ エラー (μm) E = 0....

メーカー・取り扱い企業： 三ッ引興業株式会社

車両基礎特性測定装置（K&Cテスター） 受託試験

サスペンション及びステアリング系のパラメータを台上測定受託試験。各種シ…

オートマックスは、サスペンション及びステアリング系のパラメータを台上で測定する『車両基礎特性測定装置（K＆Cテスター）』のメーカーであり、この度、本装置を弊社福島工場に新設し、受託試験サービスも開始いたしました。 シミュレーション精度は、モデルの精度に左右されます。 本装置は、その中でも重要なパラメー...

メーカー・取り扱い企業： オートマックス株式会社 本社・工場

形状記憶合金の変態温度測定

物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

記憶合金は、変形させても固有の温度以上にすると元の形状に戻る という特性を持つ合金であり、形状記憶性の発現は、 相変態(マルテンサイト変態)によるものです。 変態時の熱エネルギー変化をDSCにて捉える事で、3種類の形状記憶合金 製品の変態温度を測定し、元素分析によって組成との関係を調べました。 変形した針金をお湯に漬けると一瞬で元の形状に戻ります。 【DSCによる変態温度...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】天然物の構造解析

13C-13C INADEQUATE測定により、13C-13Cの相関を…

13C-13C INADEQUATE測定は、13C-13Cの相関を直接観測する手法であり、 水素が結合していない炭素同士の繋がりを明らかにできる利点があります。 しかし、13Cの天然存在比が約1%...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社カネカテクノリサーチ 本社、東京営業所、名古屋営業所、大阪分析センター、高砂分析センター

トリビュート5Gドングル・無線ネットワークの評価解析サポート

お客様のローカル5G環境の構築および検証、導入に貢献致します。

CREATIVE 5が提供する「トリビュート5Gドングル」は専用ドライバや設定を行わずにセットアップが可能な為、5Gを用いた開発の工数を抑えることが可能です。端末を5G化することにより、新たなソリューション/ビジネスを実現します。 ラズベリーパイ等のLinuxシステム端末にも対応しているため、パソコンだけでなく、組み込みシステムやサーバにも使用できます。 87.5 × 38.9 × 21 mmと超小...

メーカー・取り扱い企業： 伯東株式会社 本社

考古学・地球科学・地質学に中性子放射化分析サービス

中性子放射化分析は多元素を同時に正確に定量分析できます。 土壌・鉱物…

４）分析元素の物理的形状や化学的状態に左右されない 同一のマトリックス組成の標準化が不要。 分析可能元素 A)　分析に長時間の照射が必要な元素： Ag, As, Au, Ba, Br, Ca, Ce, Cd, Co, Cr, Cs, Er, Eu, Fe, Ga, Ge, Gd, Hf, Hg, Ho, Ir, K, La, Lu, Mo, Nb, Nd, Os, Pd, Pr, P...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エナテック 東京本社

バレット洗浄システム

発電所熱交換器のトータル管理！

【ラインアップ】 ■C4S ■C3S ■C3X ■HBS ■HBX ■P ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 姫路エコテック株式会社

【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量

高分子フィルムの水酸基評価

の接着性や濡れ性といった特性を制御するにあたって、表面に存在する極性官能基(アルコール基)を定量的に評価することは非常に重要です。XPSは定量的な評価に最適ですが、ピーク位置が隣接している酸化状態(C-O-C)と水酸化状態(C-OH)を切り分けて定量することが困難です。 MSTではポリビニルアルコール（PVA）について化学修飾法を用いてアルコール基のみを選択的に反応させた後に、XPSにて定量す...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ESD(HBM・MM)試験受託サービス

DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去

表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

XPSは表面敏感な手法のため、大気等による有機付着物由来のCが主成分レベルで検出されます。こういった有機付着物由来のCの影響を減らすことは、膜本来の組成を評価する上で重要です。 通常、有機付着物の除去にはArイオンスパッタを用いますが、スパッタによるダメー...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価

断面マッピングにより、GaNの結晶成長の様子を評価可能

窒化ガリウムGaNは、熱伝導率が大きい点や高耐圧といった特性のため、LEDやパワーデバイスなどの材料として用いられます。それら製品の製造工程では、デバイス特性に影響を与える結晶欠陥の無い、高品質なGaN結晶の作製が求められます。 本資料では、c面上に形成したGaN基板（c-GaN基板）上に、c-GaN結晶を高速気相成長させたサンプルの結晶状態を評価した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

防水試験

国内最大級の試験設備！広範囲な規格試験や特殊条件にも対応可能

【対応可能な防水試験】 　■IP試験：JIS C 0920（IP1X～IPX9K） 　■防衛省：NDS C 0110E 　■自動車部品：JIS D 0203 　■日本電機工業会：JEM 1195 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

NMR分析サービス

NMRで有機物から無機物まで、組成や分子構造を幅広く分析！ 検討から…

○感度良く分析できます！ ・共鳴周波数600MHz (1H) での高感度測定により、不純物レベルでの分析が可能。 ・超低温プローブを用いることで、1H で約2 倍、13C で約3 倍の感度で測定可能。 ○固体でも液体でも分析できます！多核分析もお任せください。 ・一般的な核（H・C）以外も測定可能(Li・F・Na・Al・Si など)。 ・液体に溶けない物質...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

SCM/SNDMは、導電性の探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手 法です。 ・SCM：1015～1020cm-3, SNDM：1014～1020cm-3程度のキャ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

受託測定サービス　軟磁性材の素材やモータなどの磁気特性

磁気測定に必要な磁束密度波形制御装置、バイポーラ電源を準備！短期間に測…

性分布 ■熱的損失可視化装置 ・かしめ ・打ち抜き ・焼き嵌め ・溶接の影響 ・ステータコア損失分布 ■標準測定 ・磁気シールドルームの利用 ・微少部X線応力測定装置 ・JIS C 2550-1 エプスタイン試験 ・JIS C 2535 アモルファス磁気試験 ・IEC 60404-3 単板磁気試験器 ・JIS C 2501 永久磁石試験 ※詳しくはPDF資料をご覧...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ブライテック 本社／大分生産本部

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域（数n...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

故障劣化予知診断　高調波を使用して電気設備の不具合箇所を特定！

2次から40次までの高調波を使用して診断！　モーター、機械、インバータ…

細に分析・診断し、数値化し、評価する診断器です。 ■診断結果報告書 　取得した高調波成分からモーター部4か所・負荷部・4か所・インバータ部4か所、 　それぞれの診断結果をA・B1・B2・B３・C判定不平衡率と併せて総合判断します。 ■故障劣化予知・予測曲線 　定期的な診断を行う事で、故障予知劣化予測曲線を可能にし、設備機器の寿命延⾧に繋げます。 【検証結果　事例】 ＜診断結果＞...

メーカー・取り扱い企業： 日本メカトロン株式会社 大阪事業所

製造工程におけるアレルゲン管理の検証(イムノクロマト法）

拭き取り検査によるアレルゲンマップは見えないパーテーションとなり、製造…

「HACCPに基づいた衛生管理」では、「検証方法の設定」「文書化及び記録の保持」が含まれています。また、FSSC22000（カテゴリー：C.I.K）、JFS-B（セクター：E/L）、JFS-C（セクター：E...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハウス食品分析テクノサービス 千葉本社・大阪オフィス・関西事業所