オーダーメイド型スパッタリング成膜装置

PR難しい材料、様々な基板形状、用途にも！非常に幅広い基板サイズに対応可能

当社では、研究・試作から量産まで対応可能な「オーダーメイド型 スパッタリング成膜装置(PVD)」を取り扱っております。 フレキシブルエレクトロニクス、光通信技術、薄膜太陽電池や バッテリー等の薄膜デバイスの研究開発から量産まで装飾や 表面保護のためのコーティングにも対応。 サンプルサイズ、成膜対象マテリアル、バッチプロセス等、お客様の 用途に応じて組み立てることが可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社

超硬ボーリングバー

PRヘッド接合部はV字カットのロー付けにより高強度な接合を実現！

当社で取り扱う『超硬ボーリングバー』をご紹介いたします。 CCチップ用「C-SCLCR型」とTPチップ用「C-STUPR型」をラインアップ。 クランプスクリューとトルクスレンチを付属しております。 その他、機内スペースが狭いNC旋盤などにおいて有効スペースを 確保できる「ボーリングバースリーブ」もご用意しております。 【ラインアップ】 ■CCチップ用「C-SCLCR型」 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社丸石

RoHS/ELVスクリーニング分析の受託サービス｜JTL

ED-XRFによるRoHS/ELVスクリーニング分析を実施します。

ELVとは自動車・廃自動車及び部品・材料の鉛(Pb)、水銀(Hg)、カドミウム(Cd)、六価クロム(Cr6+)の4物質を規定値以下にする欧州連合の指令です。 RoHSとは電子・電気機器における鉛(Pb)、水銀(Hg)、カドミウム(Cd)、六価クロム(Cr6+)、ポリ臭化ビフェニル(PBB)、ポリ臭化ジフェニルエーテル(PBDE)の6物質を使用を制限する欧州連合の指令です。 （※新たに4種類のフ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

元素分析の受託サービス｜JTL

製品や材料の主成分を特定することで、お客様の研究開発をサポート致します…

様々な製品や材料等に含まれる元素の種類と構成比率を特定することで、お客様の課題解決に繋がる情報をご提供します。 手法としては、EDX、WDX、XRF、ICPから材料の分析を実施します。...【特徴】 ●SEM-EDX：多元素同時分析 試料を観察しながら分析することで、100μm以下の異物を狙って分析できます。分析深さは1μm程度で、表面分析に適しています。 ●WDX（FE-EPMA）：...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【分析事例】核融合炉用バナジュウム合金

低放射、高温強度、耐照射性！大同分析リサーチは新材料の開発をお手伝いも…

核融合炉用バナジュウム合金の製造についてご紹介します。 主成分はV-4Cr-4Ti。低放射、高温強度、耐照射性（耐中性子脆化）の 特長を有しており、EB,VAR溶解による極低O, N, C 溶製材で大型溶解による 世界標準試験材となっております。 大同分析リサーチは新材料の開発をお手伝いします。 お客様の目的に合わせた成分の提案も可能です。 【特長】 ■EB,VAR溶解に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【事例紹介】Li-S電池用のグラフェン材料調査

『Materials Studio』はバッテリー特性計算ができます【事…

カソードには窒素と金属がドープされたグラフェンを使用することで、多硫化リチウム中間体に対する金属部分への吸着エネルギーを解析しています ◎計算モデル 『Materials Studio』量子力学計算でのDMol3モジュールを使用 ・構造のエネルギー計算を行うことで吸着エネルギーを求めました ・複数のポリスルフィドやグラフェン上の金属原子のパターンに対して同様の計算を行い比較することで、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ウェーブフロント 本社

【分析事例】Siウエハベベル部の汚染評価

金属成分と有機成分を同時に評価可能です

半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点から、ウエハの裏面の清浄度向上に加え、ウエハのベベル部に残留する物質を除去することが求められています。今回、ベベル傾斜面のTOF-SIMS分析を行い、汚染の分布を評価しました（図2）。また、付着物と正常部・汚染源のマススペクトルを比較し、付着物は汚染源の金属（Cr）成分・有機物成分と一致していることがわかりました。 TOF-SIMSにてベベル部（端面...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価

波形解析・Arスパッタによる結合状態の深さ方向分布評価

XPSでは酸化成分（酸素と結合している成分）・金属成分（金属と結合している成分）などの結合状態の評価が可能です。また、アルゴンイオンスパッタリングを併用することにより、深さ方向の結合状態の評価も可能です。 ※ ステンレス表面の不動態皮膜（厚さ数十nm～数百nm程度）について、上記測定を行った結果、（1）表面側にFe酸化成分が多い、（2）Cr酸化成分がFe酸化層の下側に存在、（3）Ni酸化成分はほ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ISCEF(アイセフ)「高速・大規模対応ソルバー」

大規模モデル・高度な問題にも対応！アイセフのソルバーをご紹介

くために様々なソルバーを備えております。 マルチコアにも対応しておりますので、大規模問題に対して 大きな効果を発揮します。 【ISCEFのソルバー】 ■反復法ソルバー（MRTR,BいCR） ■直接法スカイラインソルバー ■直接法スパースソルバー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： センチュリテクノ株式会社