SCHOTT　電子部品向け薄板ガラス製品

PRSCHOTT(ショット）の薄板ガラスは半導体・電子部品向けアプリケーシ…

SCHOTTは、30umの超薄板ガラスをはじめ様々な種類・板厚のガラス材料や精密な孔開け加工を施した製品を提供することにより半導体および電子部品、例として通信技術の核となるRFフロントエンド向け用途など各種センサーの小型化を可能にします。 3Dイメージングやセンシングコンポーネント（CMOS、WLP、WLO、IRカットフィルター等）向け薄板ガラスにD263シリーズ、MEMpax、TEMPAX F...

メーカー・取り扱い企業： ショット日本株式会社

『真空成型 立体POP』※年賀状サンプル進呈

PR平面のPOPに浮き出る立体感を加え、より一層印象的に。型作りから一気通…

当社では、入稿いただいた2Dデータをもとに、 立体感があり視覚効果や触感の良い『真空成型 立体POP』を製作しています。 店内POP、販促ツール、イベントのディスプレイ、商品パッケージ、ハガキ、 DMなど様々なツールに、立体ならではの表現力を加えることが可能です。 型作りから印刷ズレの修正まで一気通貫で自社対応しており、 最短3日の短納期を実現しているほか、高品質・低価格も追求し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ランスロットグラフィックデザイン

【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

8nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能 ■408nmレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

真円度／円形度計測

真円度・円形度を評価したいというご要望にお応えします！

軸や成形した穴が設計値通りであるか、評価にお困りではありませんか？ 当社では、KEYENCE社製の「VR-6200」の電動回転ユニットにサンプルを取り付け、 360度回転させることで3Dデータを取得し、プロファイルより真円度を測定。 また、画像処理ソフト「WinROOF2021」を用いて、円形度を測定します。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD（CDM）試験受託サービス

デバイス帯電モデル（Charged　Device　Model）のESD…

■ 各規格波形　JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC　に対し 　ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） 　の両方に対応します...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

結露サイクル試験

協力会社様で実施！試験サンプルに結露を強制的に発生させ結露状態を再現

返し 発生させ結露に対する評価を実施。 また結露試験前後における経時変化の観察対応もできますのでご用命の際は お気軽にお問い合わせください。 【試験槽仕様】 ■型式：TSA-203D(ESPEC) ■内寸：W650×H460×D670 ■温度範囲 ・高温さらし：-10℃～+100℃ ・低温さらし：-40℃～+10℃ ■湿度範囲：40～95％RH(高温さらし) ■試験...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

信頼性保証サービスのご紹介

JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製…

耐ホットオイル評価試験 ■絶縁抵抗連続モニター評価 ■導通抵抗連続モニター評価 ■エレクトロマイグレーション連続モニター評価 ■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面（研磨）観察サービス（環境試験前後の評価も可能です） ■太陽電池（結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜など）EL発光現象...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD(CDM)試験受託サービス

印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…

『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct CD...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス

ガラス、ITOなどの透明素材に！各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除いた 拡散透過率DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご対応いたします。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【装置仕様】 ■装置：日本電色工業株...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

低分子シロキサン定量分析

低分子シロキサンの確認手法！どの程度の発生量であるかなども分析可能

シリコーン系粘着剤を使用しているテープをバイアル瓶に封入 ■130℃で30分加温した後、発生したアウトガスをヘッドスペースGCMSにて分析 ■検出された低分子シロキサンについては、環状シロキサンD5換算にて 　定量を行った 　 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります。 SiC MOSFET裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-（D,S）間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多数の 発光を検出。 発光箇所をTEM観察したところ、SiO2膜の破壊、SiC結晶にダメージが 認められました。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス