• 【展示会出展】SONY製センサ採用 InGaAsカメラシリーズ 製品画像

    【展示会出展】SONY製センサ採用 InGaAsカメラシリーズ

    PR400~1700nmの近赤外線領域に高い感度を有するInGaAs(イン…

    2021年6月より大幅なプライスダウンを実現! UVC・カメラリンク接続タイプも新登場!大好評販売中です! 【用途】 ◆シリコンウェハー観察 ◆製品パッケージなどの欠陥検査 ◆樹脂透過による内部の検査 ◆水分の検出 ◆美術品の検査 ◆異種材料の識別 ◆近赤外線ビームの観察、検査 ◆太陽光パネルのEL発光検査 【特長】 ◆高画素タイプの130万画素(1280×1024)タ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アートレイ

  • 非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』 製品画像

    非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

    広い範囲で優れた測定直線性!三次元グラフィックマップとしてPCモニター…

    事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてシート抵抗を測定します。 【特長】 ■探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を解決 ■多数枚を迅速に計測処理する事が可能 ■0...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』 製品画像

    非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』

    様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能!マイウロウェーブ反射による非…

    1610シリーズ』は、移動度、キャリア濃度、シート抵抗など様々な 半導体キャリア輸送特性の測定が可能な非接触移動度測定装置です。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてキャリア移動度、シート抵抗、シートチャージ密度が 測定できます。 【特長】 ■マイウロウェーブ反射による非接触移動度測定 ■高周波...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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