• シリコン(Si)粉末 製品画像

    シリコン(Si)粉末

    PRSi純度2N~4N、粒度分布50nm~3mmに対応。ニーズに合わせカス…

    当社は、用途に応じた純度や粒度分布のカスタマイズに対応可能な 『シリコン(Si)粉末』を提供しています。 Si純度は2N(Si>99.0%)、3N(Si>99.9%)、4N(Si>99.99%)、 粒度分布は微粉末(100nm~)、粉末(1.0μm~)、粒体(1~3mm)に対応。 プラズマアーク合成により50nmまでの微粉化を実現した『超微粉末』もあり、 超微粉末はSi純度2Nに...

    メーカー・取り扱い企業: 日本NER株式会社

  • N-typeなど新型高効率太陽電池にも対応したI-V計測器! 製品画像

    N-typeなど新型高効率太陽電池にも対応したI-V計測器!

    PR各種新型太陽電池の計測に対応したI-Vカーブトレーサー!計測結果を約1…

    PVアナライザ『イプシロン1000・1500』は 新型の高効率太陽電池も計測可能なI-Vカーブ計測器です。 PVシステムの竣工点検・定期点検にお使いいただいています。 【特徴】 ■最大30 [A]まで計測可能  N-type、ハーフカットセル、両面受光太陽電池など近年の高効率太陽電池も計測可能 ■短時間計測(結果表示まで約1秒・日射や影の急変の影響を受けにくい) ■シンプルな操作性(事前設定が必...

    • イプシロン1500測定.png
    • 1500計測ソフト画面.JPG
    • (新)Viewメイン画面.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 日本カーネルシステム株式会社 本社

  • 【受託開発事例】光学式膜厚計(OEM製品) 製品画像

    【受託開発事例】光学式膜厚計(OEM製品)

    被測定物からの反射光を測定する光学式膜厚計の受託開発事例をご紹介!

    品) ■特長 ・被測定物からの反射光を測定可能 ・プリズムの角度を制御しスペクトルを分析し、コーティング厚を算出 ・ハードウェア要素はSH3−DSP、PPMCソフトウェアはOSにμITRO Nを使用 ・VCCI基準に適合 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アンペール 友部事業所/産業機器部

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