ノイズ伝導を阻止、吸収！ビーズコア『MBCA series』

PR低周波対策用の高透磁率MnZnコアを使用！基板への自動実装が可能【資料…

『MBCA series』は、低周波対策用の高透磁率MnZnコアを使用している ビーズコアです。 ノイズの伝導経路に直列に挿入すると、抵抗成分によりノイズの 伝導を阻止、吸収。CISPRJ 15規格 EMC対策に。 また、アキシャルテーピングにより基板への自動実装が可能です。 【特長】 ■低周波対策用の高透磁率MnZnコアを使用 ■ノイズの伝導経路に直列に挿入すると、抵抗成分によりノイズの ...

メーカー・取り扱い企業： 竹内工業株式会社

電磁式/渦電流式両用 膜厚計『SWT-NEOシリーズ』

PR【膜厚計の基礎知識集進呈中】専用プローブにより測定素地金属を自動認識！…

サンコウ電子研究所の『SWT‐NEOシリーズ』は、塗装／ライニング／メッキや アルマイトなどの絶縁性皮膜に用いることが出来る、膜厚計です。 測定用途に合わせ、鉄素地用プローブまたは非鉄金属素地用プローブ、 鉄・非鉄素地両用から接続プローブの選択が可能になっています。 スリムなボディ設計で手持ち作業の疲労低減。 分かりやすいガイド表示画面で操作も簡単です。 【特長】 ■専用...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンコウ電子研究所

ウェハ外観検査装置『ED-Scope』

ウェハ検査の常識を変える！誰でも簡単且つ定量的に目視検査・評価すること…

なかった欠陥を可視化 ■欠陥検査時間を大幅に短縮 ■広視野で観察可能(視野H：136mm) ■AIソフトで自動欠陥検出機能を搭載可 ■誰でも簡単且つ定量的に目視検査・評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 伊藤忠マシンテクノス株式会社

ウェハ膜厚・表面粗さ測定機　SemDex A32, M1, M2

完全自動化！マルチセンサ技術を備えた高速ウエハ計測・選別システムをご紹…

等は、単一の測定ランにおいてsub-μm精度で測定 ■ミニバンプ等のパラメータも同様に測定することが可能 ■モジュールオプションとして、多様なセンサ・測定ステージなど選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 伊藤忠マシンテクノス株式会社

ウェハ欠陥検査装置

ウェハ搬送ロボから自動外観検査装置まで、半導体用各種装置をご紹介！

【ウェハ裏面 欠陥検出内容】 ■バックグラインド工程による加工時の欠陥 ■ハンドリング時の欠陥 ■薄型ウェハ、貼り合わせ工程の欠陥 ■ウェハ裏面メタル工程による欠陥 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 伊藤忠マシンテクノス株式会社