• TAITIEN社 水晶デバイス 製品画像

    TAITIEN社 水晶デバイス

    PR従来品の置き換え提案が可能!Crystal、SPXO、TCXOも従来仕…

    当社は、1976年創業の台湾のクロック発振器メーカーTAITIEN社の 正規代理店として、販売活動を行っております。 Crystal、SPXOの汎用水晶デバイスからTCXO、VCXO、OCXOの高精度 水晶発振器製品まで一貫生産し、⾧期供給も可能。 また、従来品の置き換え提案が可能な製品もございます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■Crystal...

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    メーカー・取り扱い企業: SUPREME COMPONENTS INTERNATIONAL

  • BGAボイド検査ソフト 製品画像

    BGAボイド検査ソフト

    PRデータファイルとの照合も簡単!実装基板のBGAボールの状態を数値化して…

    『BGAボイド検査ソフト』は、BGAボールのボイド領域の特長点を識別し、 目に見えにくいボイド領域を明確に表示する製品です。 検出精度は高精度で、CTデータで検証ずみ。また、検査結果画像と データをCSV形式で出力し、外部のパソコンでも確認が可能。 さらに、ボイド率を設定してOK・NG判定を出すことができ、 ビームセンスX線装置FLEXシリーズの座標登録機能を使えば一度の設定で自動検査も可能で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ビームセンス

  • 促進耐候性試験:サンシャインウェザメータ 製品画像

    促進耐候性試験:サンシャインウェザメータ

    JIS・ISOをはじめ多くの規格に規定!安定した分光放射照度分布で試験…

    【設備の特長】 ■上下4対のサンシャインカーボン灯を有した約78時間連続点灯可能な試験機 ■照射と照射+表面スプレのサイクルを全自動運転 ■様々な業界の評価試験に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル・過渡熱抵抗評価システム 製品画像

    パワーサイクル・過渡熱抵抗評価システム

    車載用デバイスに好適!試験のスピードアップと正確なデバイス性能の比較を…

    じめ各種規格へも対応可能 ■連続通電試験にも対応可能 ■K-factorの自動測定が可能 ■チップ温度(Tj)の正確な測定が可能 ■デバイスの完全破壊前に試験の停止が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • EMCコンサルティング 製品画像

    EMCコンサルティング

    ECUと車両の設計から評価でのお困りごとに対応!EMC対策は「プロ」に…

    子部品設計についての経験豊かな技術者 ■製品レベル~設計レベルのいかなるレベルにおいても、  適切なコンサルティング ■部品や電子機器のインターフェイス等の高周波計測に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ウィスカ・マイグレーション検査/プリント基板の品質評価 製品画像

    ウィスカ・マイグレーション検査/プリント基板の品質評価

    開発スピードアップに貢献!各種分析装置も取り揃えております!

    査を行います。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【このようなお悩みを解決】 ■手間暇のかかる作業に時間を取られる ■検査や評価の精度に疑問を持っている ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 温度サイクル試験(急速温度変化チャンバー) 製品画像

    温度サイクル試験(急速温度変化チャンバー)

    より市場再現性の高い評価方法が求められる!温度サイクル試験をご紹介

    ESPEC ■温度範囲:-40℃~+180℃ ■湿度:20~98%rh ■槽内サイズ:W600×H800×D600 ■温度変化速度:10℃/1min ■内容量:306L ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • カスタムメイドパワーサイクル試験機 製品画像

    カスタムメイドパワーサイクル試験機

    試験のプロが考えた設計開発者のためのカスタムメイドパワーサイクル試験機

    【特長】 ■K-factorの自動測定が可能 ■2in1モジュール 6in1モジュール対応 ■リアルタイムで熱抵抗測定が可能 ■デバイスの完全破壊前に試験の停止が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 有機材料、発光素子、薄膜・半導体の測定分析装置 製品画像

    有機材料、発光素子、薄膜・半導体の測定分析装置

    非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度…

    <顕微反射分光膜厚計> ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定(多層膜厚、光学定数) ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系(紫外~近赤外) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 超音波顕微鏡『Gen6』 製品画像

    超音波顕微鏡『Gen6』

    異なる複数の層の深さを同時スキャン可能!水温度コントロールユニット内蔵

    搭載 ■最大100層の計測が可能 ■最大走査範囲が60%拡大(面積比) ■トランスデューサー周波数がアップ(230MHz→400MHz) ■水温度コントロールユニット内蔵 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 固体電解質に適した交流インピーダンス測定治具と測定システムの開発 製品画像

    固体電解質に適した交流インピーダンス測定治具と測定システムの開発

    2台のインピーダンスアナライザ、切替装置を一括制御できるインピーダンス…

    び 測定システムの開発についてご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■背景 ■測定システムの開発 ■固体電解質の実測例 ■まとめ・今後の方針 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 酸化膜厚測定 製品画像

    酸化膜厚測定

    測定時間が短く、最大1000秒!酸化膜を種類別に測定が可能なSERA法…

    nO2の増加が顕著に認められました。 【SERA法での測定可能金属】 ■酸化膜厚:Sn, Ag, Cu, SnAgCu ■金属膜厚:Au, Cu, Ni, Ag, Sn ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル連続通電試験機 総合カタログ 製品画像

    パワーサイクル連続通電試験機 総合カタログ

    試験のプロが考えた、設計開発者のためのカスタムメイドパワーサイクル試験…

    ■パワー半導体の役割とは ■パワーサイクル試験の仕組みについて ■パワーサイクル試験機の特長 ■受託パワーサイクル試験サービス ■トータル・クオリティ・ソリューション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 平滑剤種による引張物性評価 製品画像

    平滑剤種による引張物性評価

    めっき皮膜物性が不十分、ピットが見られる、平滑剤種の検討などに!

    ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■めっき皮膜物性が不十分(引張伸びが不足) ■ピットが見られる ■平滑剤種の検討 ■界面活性剤種の検討 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 車載電子機器の環境試験 製品画像

    車載電子機器の環境試験

    お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法のご提案や、正確なデータを…

    に合わせたオリジナルな試験方法の ご提案や、正確なデータをご提供しています。 【特長】 ■温度条件への対応 ■振動への対応 ■EMCへの対応 ■その他(耐静電気) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内 製品画像

    高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内

    X線CTやプラズマFIB、EBSD等でサンプルを高精度に観察するソリュ…

    お問い合わせください。 【X線CT 特長】 ■CTデータをDVDにコピーしご提供 ■フリービュワーソフトによりお客様ご自身の  パソコン上で任意位置での状態確認が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法 製品画像

    STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

    極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…

    ■高面分解能画像観察により結晶欠陥を直接観察することも可能 ■極微小領域での元素・組成情報を得ることが出来る ■SEM-EDS法では検出できない微小領域や微量の分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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  • 短絡耐量試験の概要および特長 製品画像

    短絡耐量試験の概要および特長

    パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

    があるため、  厚さ10mmのアクリルケース内で試験を実施 ■大電流を供給する大容量のコンデンサとDUTは低インピーダンスで接続する  必要があり、特殊構造によりこれを実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【問題発生事例】信頼性試験におけるはんだクラック発生 製品画像

    【問題発生事例】信頼性試験におけるはんだクラック発生

    「信頼性試験中にはんだクラックが発生、早急な脆弱箇所の特定をしたい」と…

    BSDイメージ作成が可能です。 特急案件でもお待たせすることなくイメージマップをご提供します。 他にも観察・分析・解析提案・受託研究まで承ります。ぜひご相談ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル試験機 製品画像

    パワーサイクル試験機

    ハイパワーIGBT高電流に対応!K-factorの自動測定が可能なパワ…

    イムに表示 ■設計開発者のニーズに応じた試験が可能 ■デバイスの完全破壊前に試験の停止が可能 ■リアルタイムで熱抵抗測定が可能 ■2in1デバイス 6in1モジュール対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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