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コネクタ形状を間違えた！→【光アダプタ/変換プラグ】で解決します
PR「短くて繋げない」「コネクタ形状が違う」ケーブルの緊急トラブルを解決し…
様々な場面で必要になる「ケーブル」について、こんなトラブルはありませんか？ 「ケーブルが明日必要なのに、ケーブルが短い！」 「コネクタの形が違うため接続が出来ない！調達する時間もない！」 ★データコントロルズの光アクセサリで、こんな緊急トラブルを解決します★ 中継アダプタ、変換プラグ、光パッチパネルなど常時在庫多数なため 15時までのご注文で最短翌日に納品可能です！ 【トラブル解決事例】 ケ...
メーカー・取り扱い企業： データコントロルズ株式会社
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PR約１秒で結果を表示する短時間計測が可能！発電システムの竣工点検・定期点…
『イプシロン1500V』は、高圧化する太陽光発電システムの メンテナンスに対応したI-Vカーブトレーサーです。 PVアナライザ「イプシロン400/1000」の特長を引き継ぎながら、 1500[V]計測を実現しました 【特長】 ■短時間計測（結果表示まで約1秒・日射や影の急変の影響を受けにくい） ■シンプルな操作性（事前設定が必要なくワンボタンで計測可能） ■本機と計測ユニット...
メーカー・取り扱い企業： 日本カーネルシステム株式会社 本社
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キャリア分布を二次元的に可視化
SCM/SNDMは、導電性の探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手 法です。 ・SCM：1015～1020cm-3, SNDM：1014～1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある ・半導体の極性（p型/n型）の識別が可能 ・キャリア濃度に相関した信号が得られるが、定量評価は不可 ・AFM像の取得も可能...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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簡易プレス打点カウンタ『SCM-024P』特許第6985772号
フットプレスの打点カウンターをご紹介します。今まで有効な管理方法がなく…
テムで監視します。 IPDで蹴とばしプレスのシリンダの衝撃力（加速度）を感知し、一定以上で加圧OKと判断します。ヘッド位置も同時に監視し、ヘッド位置が加工位置にあり、衝撃力が設定以上でOK信号をSCM-024Pへ送り打点を管理します。溶接カウンタで培われた技術で、誤カウントを防止機能を持つ簡易プレスカウント専用機です。 IPD-01Aは、衝撃方向（正・負・両方向）の選択・衝撃センサ感度切替（...
メーカー・取り扱い企業： ラムテクノロジーズ合同会社
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SiC試料の顕微鏡画像をカメラで撮影、リアルタイムLCD出力
『SCM-100』は、あらかじめプログラムされた電流をSiC試料の トランジスタの内蔵ダイオードに印可する機能を持った SiC顕微観察装置です。 電流印可時に電流が流れない箇所（欠陥）は発光しな...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトサイエンス
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溶接打点を監視し、打点不足の流出ゼロを目指す！溶接打点監視モニタの開発…
しました。 結果、検査の工程の見直しを余儀なくされ、検査工数が上がってしまいました。 そこで、打点数と生産数をリアルタイムで表示が出来て、作業者毎の 管理が可能な溶接打点監視モニタ『SCM-044A』が開発されました。 【開発の発端】 ■問題発生 ・溶接作業者のミスで、1個の打点不足の不良品が発生し客先へ流出 ■問題対応 ・納入済みの製品を、客先倉庫にて全数検査 ■...
メーカー・取り扱い企業： ラムテクノロジーズ合同会社
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溶接打点監視モニタ『SCM-044A』特許第7176746号
打点管理・製品制作数の管理や、加工機・作業者毎の管理も可能です！
『SCM-044A』は、溶接打点不足の対策に好適な溶接打点監視モニタです。 簡単設置・簡単操作な為、現場負担は最小限で打点・生産数管理が可能。 溶接機との信号配線が不要なので、現場の溶接機に直ぐに...
メーカー・取り扱い企業： ラムテクノロジーズ合同会社
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８本までの温湿度センサケーブルを接続できる、多点計測に適したロガー。 …
製品名：8ch小型温湿度ロガー 型式：SCM-TH8 サイズ：46×30ｍｍ（基板のみ） メモリ：16,000/１ch 接続可能なセンサ：SHT45、HYT939 測定項目：温度、湿度 ...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）
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コンクリート養生における用途例に併せた製品の導入実績をご紹介します。 …
載のセンサで、水濡れや屋外など過酷な環境でも測定ができます。 各種ロガー、無線システムに接続してお使いいただけます。 ：実績例：埋め込み測定、コンクリートの乾燥過程の研究 ■マルチ温湿度ロガー SCM-TH8 最大8本の温湿度センサケーブルを接続できるため、広い現場での多点計測に最適です。 接続できるセンサケーブル長は、10ｍまでご用意可能。 ：実績例：トンネルの施工現場、コンクリート養生管理...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）
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冷蔵庫内の多点温湿度測定における導入実績のある製品をご紹介致します。
。 耐圧性もあるため、過酷な環境でも実力を発揮します。 ※温湿度センサケーブルは、ユーザー様それぞれの測定環境に応じて、1～10ｍまでから、お選びいただけます。 ■８ch多点小型温湿度ロガー SCM-TH8 上記の温湿度センサケーブルを、最大8本接続できるロガーです。 16000ポイント×8chの大容量メモリ。 時間予約測定だけでなく、有線であれば、リアルタイムモニタリングも可能。 ■小型...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）
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試料解体から測定まで一貫して対応します
本資料では、スマートフォン搭載のイメージセンサ拡散層に関して評価した事例をご紹介します。 半導体のp/n型を判定可能なSCM（走査型静電容量顕微鏡）を用い、拡散層がどのような分布となっているかを評価しました。今回、断面と平面のSCM結果を組み合わせることで、相補的かつ広範囲の情報が得られました。 SCM は、イメージ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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測定流体の比重、圧力、温度、粘度の影響を受ける事無く流量を測定する事が…
電磁流量計は、水処理、排水設備、化学、製紙、食品、電力、製薬、石油化学等様々な業種に納入実績があります。 測定流体の比重、圧力、温度、粘度の影響を受ける事無く流量を測定する事が可能です。また可動部品が無い為、付着物の清掃が容易で、耐食性、耐摩耗性に優れております。...＜仕様＞ １ Type ModMAG M1000 (低価格モデル) ・配管径：DN6～DN200 ・流量レンジ：0...
メーカー・取り扱い企業： サニー・トレーディング株式会社 営業本部
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断面イメージングSIMSにより面内分布のある不純物評価が可能
表面に凹凸のある太陽電池について、凹凸の影響を避けて面内分布評価を行う方法として、断面加工試料をイメージングSIMSにより評価した事例を紹介します。断面SCMによりp+ Si層と判定された領域では、BとAlが高濃度存在することが分かりました。さらに、ラインプロファイルを用いてドーパント分布を濃度変換し、面内の不均一の度合いを数値化しました。太陽電池以外...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析
デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供
の配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必須となります。本資料では不良箇所の特定をEMS(エミッション顕微鏡法)を用いて行い、不良要因解析をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)とSEM（走査型顕微鏡法）で評価した事例をご紹介します。 測定法：EMS,SCM,SEM 製品分野：パワーデバイス 分析目的：故障解析・不良解析 詳しくは資料...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…
IR フーリエ変換赤外分光法 Raman ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD X線回折法 SAXS X線小角散乱法 XRR X線反射率法 ○SPM関連 AFM 原子間力顕微鏡法 SCM 走査型静電容量顕微鏡法 SSRM 走査型広がり抵抗顕微鏡法 ○その他の測定法 白色干渉計測法 TG-DTA-MS,DSC 熱分析 EMS エミッション顕微鏡法 『加工法・処理法』...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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自動車の心臓部であるエンジンは、温度管理が重要です。 そういった基礎…
■SCM-TC4（近日リリース予定） ４chタイプの熱電対温度ロガー。 冷接点補償法を用いた測定で、補償温度センサには、最新のSHT4ｘを搭載。 Ｋメスコネクタ付属で、その他コネクタを取り換えれば、Ｅ／Ｊ...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）
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図面指示あるいはJIS規格通りのものとなっているかを"確性試験"により…
【例】 ■対象機械部品：ギヤ ■材質、熱処理：SCM420（表面部：浸炭焼入れ） ＜金属組織観察＞ ・短評：表面では、（低温）焼戻しマルテンサイト組織を呈しており、特に問題無い ・判定：合格 ＜硬度(分布)測定＞ ・短評：表面では7...
メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社
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【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価
製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です
す。 本資料では、ノーマリーオフ型のGaN HEMTデバイスを解体・評価しました。 分析手法を複合的に活用し、試料の総合的な知見を収集した事例をご紹介いたします。 測定法：SIMS・TEM・SCM・SMM 製品分野：パワーデバイス 分析目的：微量濃度測定・形状評価・膜厚評価・構造評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ｐｎ判定を含む拡散層の構造を明瞭に観察可能
市販LSI内のNPNバイポーラトランジスタについて全景からエミッタ部の拡大まで詳細に観察が可能です。 エミッタ電極の中心を通る断面を露出させ、AFM観察、SCM測定を行った事例です。 AFM像と重ねることで、配線との位置関係がはっきりします。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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表面凹凸のあるサンプルでのキャリア拡散層の均一性評価
BSF型結晶Si太陽電池について、表面側テクスチャ部および裏面側BSF部のキャリア拡散層分布をSCMにて評価した事例を紹介いたします。テクスチャ部では表面凹凸に沿ってpn接合が形成されているのに対し、BSF部ではキャリア分布に途切れがあり不均一であることが確認できます。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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太陽電池（ＰＶ）の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価など…
下での前処理および深さ方向分析が可能 →測定法：TOF-SIMS・雰囲気制御下での処理 ○結晶Si太陽電池の拡散層評価 →ドーパントの定量評価およびキャリアの分布評価 →測定法：SIMS・SCM・研磨・解体 ○CIGS薄膜の組成分布分析 →薄膜の組成定量、面内分布、深さ方向分布の評価が可能 →測定法：SIMS・ICP-MS・XRF・エッチング ○CIGS薄膜太陽電池へテロ接合界面...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ペーパーレスを実現。現場の出荷ミスの撲滅、生産性向上に貢献します！
【その他の特長】 ■豊富なバリエーション ■歩行動線短縮 ■マルチヒットデータ抽出 ■渋滞回避 ■ラベルプリンタ搭載 ■配送ラベル・SCMラベルの発行可能(C1サイズ対応) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イシダテクノ
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二軸押出機パラレルタイプよりさらに混練性の強い高トルクタイプの押出機！
） 回転方向：異方向外回り シリンダー形状：ツインコニカル型 内径：前部２０ｍｍ 後部３０ｍｍ 圧力（温度）検出２ヶ所（プラグ付き） スクリュー：高混練ベントスクリュー（2ＳＣR型） 材質SCM435 定量フィーダー：F3R型 ※別途１００V ４A（別電源になります） 付属ダイ：型式ST3 ストランドダイ３ｍｍ ３本取り 圧力（温度）検出孔１ヶ所（プラグ付き） 水：工業用水など 約...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東洋精機製作所
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混練・押出成形評価試験装置ラボプラストミル用の単軸押出機。熱可塑性樹脂…
CM645 窒化処理 圧力（温度）検出孔 ４ヶ所 内径 20ｍｍ 空冷機能付 ■スクリュー：フルフライト 緩圧縮径L/D＝20 圧縮比2.5 材質SCM435 硬質クロムメッキ その他仕様はカタログをご覧ください。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東洋精機製作所
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洗浄環境徹底管理宣言！
音圧だけでなく周波数も測定可能で、また各パラメーターは最大値・最小値・平均値を測定できます。シリアルポート内蔵で、測定したデータをお手持ちのパソコンへ出力でき、データ管理も簡単に行えます。...洗浄槽内の超音波キャビテーションの強さを測定し、最大値・最小値・平均値などを基に洗浄環境の管理をお手伝い致します。...
メーカー・取り扱い企業： 日本アレックス株式会社
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【分析事例】SiC Planer Power MOSのSCM分析
SiC デバイスの拡散層構造を可視化できます
SCMでは半導体のp/n極性を識別し、拡散層の形状を可視化することができます。 本手法はSiデバイスに活用されてきましたが、SiCデバイスにおいてもキャリア濃度が十分高い箇所では評価を行うことができます。 本資料では、SiC Planer Power MOSの断面を製作し、SCM分析を行った結果をご紹介します。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】SiCPlanerPowerMOSFETの拡散層評価
SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます
SiC Planer Power MOSFETの断面を作製し、拡散層のp/n 極性分布をSCM（走査型静電容量顕微鏡法）で評価し、キャリア濃度分布をSMM（走査型マイクロ波顕微鏡法）で定性的に評価しました。 いずれのデータからも、n+型のSource層の周囲に、p型のBody層が二層構造...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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活性層の形状とドーパントを評価
紹介します。 SiC MOSFET製造プロセスでは、イオン注入と活性化熱処理、エピタキシャル層形成などによってチャネル形成します。活性層形成プロセスにおいて、TEM観察からデバイス構造を把握し、SCM測定からｐ型/ｎ型の断面の拡散層分布やエピタキシャル層、SIMS測定からドーパント元素（N,Al,P）の深さ濃度分布を評価しました。 測定法：SIMS・SCM・TEM 製品分野：パワーデバイス...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます（拡散層構造の高感度評価）
SNDM (走査型非線形誘電率顕微鏡)では半導体のp/n極性を識別し、拡散層の形状を可視化すること ができます。本手法は、従来から用いられているSCM（走査型静電容量顕微鏡）の機能を包括しており、 SCMでは評価が難しいSiCを代表とする次世代のパワーデバイスにおいても、低濃度から高濃度まで十分に評価を行うことができます。高感度を特徴とし、あら...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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