小型真空蒸着装置『HVE-100』【クリーンな成膜を実現！】

PRクリーンな成膜が可能な小型真空蒸着装置！シャッタを具備しているので安定…

『HVE-100』は省スペースな小型蒸着装置です。基板成膜面は下向きで 設置、抵抗加熱源からの蒸発で上向きに成膜する配置（デポアップ）です。 シャッタを具備しているので安定した状態で蒸着が可能です。 【特長】 ■高真空排気系：<10^-4Paの到達真空度でクリーンな成膜が可能 ■チャンバはメンテナンスしやすいようにSUS製で内部に防着板を配置 ■省スペース/小型化：W500×D39...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハイブリッジ 東京営業所

ハイパースペクトルカメラ Hyspex Classic

PR可視から近赤外（～2500nm)に対応。高感度・低ノイズでリモートセン…

HySpexシリーズのハイパースペクトルカメラはフィールド・ラボ・航空システムのアプリケーションにご使用いただくことが可能です。 ■高いS/N比 ■高い空間解像度、フレームレート ■可視、近赤外の波長範囲に対応した製品ラインナップ （400～1000nm/930～2500nm/960～2500nm) ■撮影条件に応じた豊富なアクセサリー 　航空機用、ラボ用、フィールド用システムでの...

メーカー・取り扱い企業： ケイエルブイ株式会社

形状記憶合金の変態温度測定

物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

形状記憶合金は、変形させても固有の温度以上にすると元の形状に戻る という特性を持つ合金であり、形状記憶性の発現は、 相変態(マルテンサイト変態)によるものです。 変態時の熱エネルギー変化をDSCにて捉える事で、3種類の形状記憶合金 製品の変態温度を測定し、元素分析によって組成との関係を調べました。 変形した針金をお湯に漬けると一瞬で元の形状に戻ります。 【DSCによる変態温...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

校正(キャリブレーション)サービス -NI認定の校正手順-

測定器も健康診断が必要です。ペリテックの校正サービス

計測器に使用されている電子部品の精度は自然に時間の経過とともに変動します。 また、メーカーは一定期間毎に計測器を校正することを推奨しています。 (株)ペリテックでは、測定器単体(PXIモジュール、箱型計測器等)からシステム(装置)としての校正も承りますので、是非ご相談下さい。現在御使用中のものが誤使用中とならないためにも校正をお勧め致します。 ●NI認定の校正手順を使用して測定性能を検証...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所

USRP計測・開発ソリューション

NI USRP（Universal Software Radio Pe…

　NI USRP（Universal Software Radio Peripheral）は、NI(ナショナルシンスツルメンツ社)より提供されているソフトウェア無線向けハードウェアです。 　標準のPCを高性能な無線試作プ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所

狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステム

50MHz～6GHz帯の20～40MHz BWをノートPCに連続収録・…

狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステムは、50MHz～6GHz帯の20～40MHz BWをノートPCに連続収録・再生することができます。 NI-USRPとノートPCを使用することで従来品よりも数分の一の価格を実現。データ収録には厳選したSSDを使用することで、極力データ落ちのない収録を行います。 複雑な操作は不要。 ソフトを起動し周波数を設定しボタンを押すだけの3...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ドルフィンシステム

【分析事例】プラスチック製グリル表面の欠陥調査

何らかの原因でCuメッキが異常成長！その上にNiメッキが施されたと推察…

当社で行った、プラスチック製グリル表面の欠陥調査についてご紹介します。 表面観察では、欠陥の一部は表面から伸びており、その伸張した突起物が もげたと思われる跡が認められ、その跡の中心はCuでありその周囲にNiを検出。 断面観察では、Cu部内の空孔は大きく、欠陥直下および欠陥の極近傍の Cu/プラスチックに間隙があり、この間隙部からC（Mg,Si）が検出されました。 結果、欠陥...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析

Slice＆Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可…

裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについてSlice＆Viewを行い、破壊を確認した箇所で拡大観察とSEM-EDX分析を行いました。反射電子像で明るいコントラストが見られる場所では、SiやNiの偏析が確認されました。リークによる破壊に伴い、SiやNiなどが一部偏析しているものと考えられます。 測定法：Slice＆View・SEM-EDX・EMS 製品分野：パワーデバ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】めっき試料の脱ガス評価

Ni/Auめっきの昇温脱離ガス分析（TDS）

めっき膜にガスが含有されている場合、はがれや膨れ、膜中の気泡など不良の原因となる場合があります。めっき膜に含有されているガスについて調査するには、高真空中で試料を昇温させて脱離したガスを測定できるTDSが有効です。 SUS部材上にNi/Auめっきを施した試料について、TDS分析を行った結果を示します。めっき膜からH2, HCN, H2S, HClの脱離が確認できました。また、定量値の算出を行いま...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】はんだ合金中の添加物面内分布評価

ppmレベルの添加物の分布を高感度に評価可能

携帯端末などの電子機器に用いられる鉛フリーはんだの接合部には高い耐衝撃性が求められています。 この課題を解決するため、Niなどの元素を微量に添加したはんだ合金が開発されています。本資料ではSn-Ag-Cu系の鉛フリーはんだに、微量のNi、Geが添加された5元系はんだと、添加物無の3元系はんだについて、高感度分析を得意とするD-SIMSのイメージングにより面内分布を比較した事例をご紹介します。.....

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［IP法］Arイオン研磨加工

IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

IP法は、エネルギー及び方向を揃えたイオンビームを試料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス（MSTではAr）が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分（Ni,P）は検出下限以下でした。...カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【検査機器の新規導入】　発光分光分析機（成分分析機）

最短半日見積り／成分分析機を使用し、鋼材の確認や保証を致します。

〈機器詳細〉 機器名：発光分光分析機（成分分析機） 型名：SPECTROTEST メーカー：AMETEK社 導入年：2019年 こちらの測定器は、鋼材に含まれる元素の定量分析を行い材料識別などを可能にするものです。 ※基本的に「計測サービス」に於いて成分分析をさせていただいております。 ・生産現場での異材混入がないか確認する ・製品出荷前や材料受入時に材料が仕様と合致するか確認、保証する ・溶...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社　営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

【分析事例】二次電池正極活物質の構造評価

活物質の粒径・結晶方位評価、原子レベル観察が可能

リチウムイオン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入などで電極活物質に成分や結晶構造の変 化が生じます。正極活物質として用いられるLi（NiCoMn)O2（NCM）の構造評価として、EBSDにより一次粒子の粒径や配向性を評価しました。更に、方位を確認した一次粒子について高分解能STEM観察を行 い、軽元素（Li,O）の原子位置をABF-STEM像で、遷移金属（Ni,Co,Mn）の原子位置をH...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化

粉末X線回折データから結晶構造の精密化が可能です

本資料では、リチウムイオン二次電池の正極活物質として利用されているLi(Ni,Mn,Co)O2の粉末X線回折データに対するリートベルト解析事例を紹介します。シミュレーションによって実測の粉末X線回折データを再現するような結晶構造モデルを求めることで、格子定数・各サイトの占有率・カチオンミキシングの割合などの結晶構造パラメーターを精密に算出することが可能であり、これらを基に材料物性を考察することがで...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価

GD-OES（グロー放電発光分析）によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状…

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。 この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社では...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

室内中のコンタミ分析サービス

ご要望に合わせたコンタミ物質の評価方法を提案します！

生産現場ではさまざまな化学物質が使用されていますが、これらから 発生するガスや粒子状物質などは製品品質の高精度化・高純度化が進む 現在において汚染物質(コンタミ)として悪影響を及ぼすことがあります。 当社では、これらのコンタミ物質の高感度分析を提供します。 有機ガスなど、ご要望に合わせたコンタミ物質の評価方法をご提案。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【試験対象...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社環境アシスト

【FIB試料調整用試料台】Fine Gridシリーズ

高精度、極薄形状のグリッドにより高精度な試料分析をサポートします。

試料固定部が横方向に飛び出した独自形状を持つFine Gridシリーズは試料固定部の下方に空間を設けることで薄片化時のリデポジションの低減が期待できます。 ■FGシリーズ 　極め薄い試料固定部によりリデポジションの影響の低減による分析精度の向上を追求したグリッドです。 ■SGシリーズ 　多様な素材を揃えておりますので、分析対象に応じて最適なグリッドを選択頂けます。 ※詳しくは...

メーカー・取り扱い企業： ウインセス株式会社