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    産業用生産設備向け各種制御盤・操作盤等の設計・製作

    PR筐体製作から盤の組立・配線・検査までを自社工場で対応!QCDにこだわっ…

    ■製作事例 ・某衛生用品メーカ様向け各種制御盤、操作盤設計・製作 ・某塗工機メーカ様向け制御盤の設計・製作 ・某成形機・搬送装置様向け制御盤等設計・製作 等々、産業用設備メーカ様向けに数多くの実績を有しております。 また、某太陽光設備メーカ様向けに商用向け太陽光接続箱の製造で 約1500台の出荷実績を有しており、再生可能エネルギー分野にも 積極的に進出してまいります。 ...※...

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    メーカー・取り扱い企業: 石田テクノプロダクツ株式会社 本社

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    光学デバイス『ファイバーカプラー』

    PR独自の光学設計による専用のファイバーカプラを製作!光軸調整用マイクロメ…

    『ファイバーカプラー』は2本の異種ファイバーを接続する専用光学機器です。 マイクロメータ付きによる調整機構の為、光軸調整時は調整値の履歴を 残すこともでき、再現も可能なほか、専用治具により光軸調整済みにて出荷し、 現地ではファイバー挿入によるプラグアンドプレイにて使用できます。 高価なフィーディングファイバー破損対策や、レイアウト変更時もカプラ後の 装置側を動かすのみといった導入...

    メーカー・取り扱い企業: エイチアールディー株式会社 本社・大阪第一支店・大阪第二支店・名古屋支店・豊田支店・東京支店・HRD-THAI

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    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 形状記憶合金の変態温度測定 製品画像

    形状記憶合金の変態温度測定

    物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

    形状記憶合金は、変形させても固有の温度以上にすると元の形状に戻る という特性を持つ合金であり、形状記憶性の発現は、 相変態(マルテンサイト変態)によるものです。 変態時の熱エネルギー変化をDSCにて捉える事で、3種類の形状記憶合金 製品の変態温度を測定し、元素分析によって組成との関係を調べました。 変形した針金をお湯に漬けると一瞬で元の形状に戻ります。 【DS...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    【EELS分析とEDS分析との比較】 <EELS> ■分析に使用するパラメータ:エネルギー損失電子 ■エネルギー分解能:1eV以下 ■長所:状態分析軽元素分析(Li,B) ■短所:広範囲の元素を同時分析が困難 ■測定時間:5s ■TEM試料厚:約50nm以下 <EDS> ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター> 製品画像

    促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター>

    自動車、塗料、建築、プラスチック、印刷物、繊維など!様々な分野で試験と…

    が行えます。 本試験は、協力会社様で実施するサービスとなっております。 【特長】 ■使用するフィルタの組み合わせで、屋外の直射日光、屋内の窓ガラス越しの  日光などを再現 ■強エネルギー型の試験機では太陽光の約3倍の高照度で照射し、より短時間で  耐光性の評価が可能 ■自動車、塗料、建築、プラスチック、印刷物、繊維などの様々な分野で、  試験として採用されている ※...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 表面分析ガイド 製品画像

    表面分析ガイド

    様々な表面分析手法!異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役…

    S」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が 可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【分析手法】 ■EDX(EDS):エネルギー分散型X線分析 ■AES:オージェ電子分光分析 ■XPS(ESCA):X線光電子分光分析 ■TOF-SIMS:飛行時間型二次イオン質量分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • XPSによるバンドギャップの簡易測定 製品画像

    XPSによるバンドギャップの簡易測定

    XPSを使用して簡易的に測定することが可能!酸化物系以外の半導体もお問…

    の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能。 β-Ga2O3のバンドギャップをO1sのピークを使用して測定を行った際は、 O1sのピーク位置とバンドギャップによるエネルギー損失の端部との差より このβ-Ga2O3のバンドギャップは、約4.9eVと測定されました。 【特長】 ■XPSを使用して簡易的に測定できる ■バンドギャップの広いSiON等の薄膜の簡...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 赤外分光法とラマン分光法の比較 製品画像

    赤外分光法とラマン分光法の比較

    2つの分析を⾏うことによってより詳細で正確に得ることが可能!

    赤外分光法とラマン分光法の比較について、各分光法と得られる スペクトルの特長を紹介します。 赤外分光法とラマン分光法はどちらも分子の振動エネルギーを調べる 振動分光法ですが、各分光法で得られるスペクトルの形状は同⼀物質を 測定しても互いに異なります。 ⾚外分光法とラマン分光法は相補的であり、どちらか単独の分析では得られない 情...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FIB-SEMによる半導体の拡散層観察 製品画像

    FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

    他手法より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実…

    M観察によって半導体の拡散層を可視化、 形状評価を行いました。 SEMのInlens 検出器によって内蔵電位の違いを可視化した事例では 内蔵電位によりN型とP型領域で発生する二次電子のエネルギーに差が発生。 それによって生まれる軌道の差をSEMの検出器で検出します。 【特長】 ■FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施することが可能 ■他手法より短納期で対...

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