• 熱応答性・柔軟性に優れた薄型発熱体『シリコンラバーヒーター』 製品画像

    熱応答性・柔軟性に優れた薄型発熱体『シリコンラバーヒーター』

    PR【1枚から製作可能】柔軟性があるので軽量化、小型化が実現!さまざまな形…

    オーエムヒーターが取り扱う標準タイプの「シリコンラバーヒーター」を ご紹介します。 丸型、三角、台形、穴あきなど複雑な形状も、手ごろな価格で1枚から 製作でき短納期にも対応。 ヒーター厚はわずか1.5mmなので熱応答性に大変優れています。 今までの金属ヒーターに代わる柔軟性のある薄形の面状発熱体です。 【特長】 ■複雑な形状も、手ごろな価格で1枚から製作でき短納期にも対応...

    メーカー・取り扱い企業: オーエムヒーター株式会社

  • 脱墨・脱積層 - プラスチック・リサイクルの革新技術 - 製品画像

    脱墨・脱積層 - プラスチック・リサイクルの革新技術 -

    PRKEYCYCLE DEINKING

    脱墨技術 - KEYCYCLE DEINKING - は、フィルム表面に印刷されたインクを完全に除去することが可能です。この技術は世界でも類を見ないものであり、この技術を応用してフィルムやシート表面に塗工された物質の除去にも活用され、金属箔やMLCC離型フィルムの脱積層(シリコンやセラミックの除去)も可能です。 工程は、特殊なソルベントフリーの洗浄液に破砕した対象物を投入し、一定時間攪拌し、...

    • KCD3.PNG
    • KCG2.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 双日マシナリー 株式会社 環境・生活産業システム本部

  • 分光エリプソメーター GES5E 製品画像

    分光エリプソメーター GES5E

    薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

    パネル自動測定 ○ロールツーロール測定 ○FTIRオプション ○光学式細孔率 ○細孔分布測定 などあらゆる製品をご提案可能 【薄膜太陽電池向け分光エリプソメーター】 ○アモルファスシリコン ○微結晶シリコン ○GIGS ○CdTe ○DSSC ○有機物等の、光学特性の測定が可能 ○ITO膜 【測定可能な物理特性】 ○膜厚と光学屈折率(n,k) ○屈折率の勾配と材料組...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • FLAME マルチチャンネルスペクトロメーター 製品画像

    FLAME マルチチャンネルスペクトロメーター

    スリット交換により1台の分光器で目的に応じた複数の測定が可能な分光器

    【特長】 ・ユーザーによるスリット交換が可能 ・検出部:2,048 素子リニアシリコンCCDと3,648 素子リニアシリコンCCDの2タイプ ・電源:USB インターフェースから供給(USB2.0対応 / Micro-USB)...

    メーカー・取り扱い企業: ビー・エー・エス株式会社

  • ダブルビーム紫外可視分光光度計 製品画像

    ダブルビーム紫外可視分光光度計

    長い光路長設計による安定性かつ精度の高い測定方法により信頼性の高い測定…

    nm, 360nm プリンターポート パラレルポート(専用プリンター別売) ディスプレイ 320 x 240ドットLCDディスプレイ 光源 タングステンーハロゲン及び重水素ランプ 検知器 シリコンフォトダイオード コンピューターインターフェース USB ポート (PC接続用) 電源 AC100V, 50/60Hz 寸法(W×D×H) 630x490x205mm (S:620x425x...

    メーカー・取り扱い企業: オガワ精機株式会社

  • 可視近赤外透過測定用分光測定システム 製品画像

    可視近赤外透過測定用分光測定システム

    異なる波長域を持つ2台の分光器を組み合わせた広帯域分光透過測定システム…

    『OP-SpecWide-TR』は、可視から近赤外域(400~1650nm)までの 幅広い測定範囲をカバーした安価型の広帯域分光透過測定システムです。 シリコンCCDディテクタ搭載のFLAME-S分光器で可視域の測定に、またInGaAs ディテクタ搭載のFLAME-NIRで近赤外域の測定に対応し、付属の分光測定用 標準ソフトウェアOPwave+で2つ...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • ハンディー色差計/品番 M2700CD-100T 製品画像

    ハンディー色差計/品番 M2700CD-100T

    色測定分析用の感光測色装置です。操作が簡単なハンディタイプ測定器です、…

    8~127 測定時間 約3秒 測定間隔 約2秒 測量孔径 φ8mm 自動電源オフ 5分間 メモリ 自動保存(PCに接続せずに) 視野 10° (CIE規定) 光源 C光源 センサ シリコンフォトダイオード 画面種類 バックライト付きLCD 電源 単三電池*2個、 DC/5V (1.5A) 使用環境温度 0℃~+40℃ 使用環境湿度 5%以下 対応OS Windows 7 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シロ産業

  • 自動楕円偏光解析装置 レーザーエリプソメータMARY-102 製品画像

    自動楕円偏光解析装置 レーザーエリプソメータMARY-102

    小型・低価格・高精度・使い易さを追求した自動楕円偏光解析装置。

    レーザーエリプソメータMARY-102はレーザー光による偏光解析法を用いてシリコンやガラス基板の光学特性、又はそれらを基板上の薄膜の膜厚や光学特性(屈折率など)を測定します。MARY-102は、ファイブラボ株式会社の光計測技術を基に、小型・低価格・高精度・使い易さを追求して開発...

    メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社

  • 液体計測専用近赤外分光アナライザ「A8860」 製品画像

    液体計測専用近赤外分光アナライザ「A8860」

    食用油・飲料・石油などの液体試料を対象に、最適な透過測定を実現する近赤…

    0 Abs 400-700nm <50μAbs 700-2500nm <30μAbs データ間隔 0.5nm スキャン速度   2スキャン/秒 検出器 400-1100nm Si(シリコン) 1100-2500nm PbS(硫化鉛) 計器間波長精度 NIST標準に対して ±0.075nm以内 電源入力 単相AC 100V-240V 50/60Hz 消費電力 最大200W ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニレコ

  • 可視近赤外反射測定用分光測定システム 製品画像

    可視近赤外反射測定用分光測定システム

    異なる波長域を持つ2台の分光器を組み合わせた広帯域分光反射測定システム…

    『OP-SpecWide-RF』は、可視から近赤外域(400~1650nm)までの 幅広い測定範囲をカバーした安価型の広帯域分光反射測定システムです。 シリコンCCDディテクタ搭載のFLAME-S分光器で可視域の測定に、またInGaAs ディテクタ搭載のFLAME-NIRで近赤外域の測定に対応し、付属の分光測定用 標準ソフトウェアOPwave+で2つ...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

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