【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA＆QC

PRナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大５…

attocube(アトキューブ)社のレーザー干渉式変位センサは、物体のリニア運動の変動量を測定する装置です。 さまざまな材料や形状をもつ対象物の変位を、数ミリメートルから数メートルまでの広い範囲で測定できます。 小型モジュール式で、3軸まで構成可能です。 位置信号はクローズドループ位置決めシステムのフィードバックシグナルとして利用できます。 回転の振れ測定、振動測定、工作機械の校正など、高度な...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

電子機器トータルソリューション展2024出展のご案内

PR高品位微細印字で幅広い素材にも対応できる「新型基板マーキング装置」と「…

「最先端クラスのプリント基板製造に提供する新たなソリューション」をテーマに 三菱電機株式会社様ブースにて「新型基板マーキング装置」と「基板分割機」の 実機を展示いたします。 「新型基板マーキング装置」はプリント基板のトレーサビリティに必要な二次元コードや 文字の高速微細印字および多様な素材に対応した高精細印字をご提案いたします。 　※ブースにご来場いただいたお客様へ先着順で記念品をプレゼント！ ...

メーカー・取り扱い企業： 名菱テクニカ株式会社 三菱電機グループ

光ファイバ端面検査装置

光ファイバの端面品質を検査し、切断工程最適化する高精度干渉計

クラッド径: 125 – 1200 µm、ファイバコーティング: 250 – 1500 µm、3D画像生成対応モデルもご用意。 ※詳しくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

可視光-中赤外レーザー･スペクトラム･アナライザ 771シリーズ

1台で波長測定＆スペクトル分析が可能。可視光(VIS)～中赤外(MIR…

μm,IR: 1 – 5 μm,MIR: 1 – 12 μm】 ■高速スペクトル測定：2秒 (VIS, NIR) or 1秒 (IR, MIR) ■CW, パルス両用 ■プリアライメント済みファイバ入力コネクタ付き（VIS, NIR ver） ■フリースペース入力を補助するアライメントビーム出力（IR, MIR ver） マイケルソン干渉計ベース。CWレーザー測定対応。パルスレーザー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー