• 【開発例】ジャストべベラー(パイプ材のカイサキとメッキ剥がし) 製品画像

    【開発例】ジャストべベラー(パイプ材のカイサキとメッキ剥がし)

    PRパイプ溶接のカイサキとメッキ剥がしを簡単に加工する為の装置。ジャストベ…

    日商テクノ株式会社様より、製品に対してのニーズがあり、 共同開発を行って欲しいとの依頼を頂きました。 そこで当社は、設計、部品製作をすることで試作開発のお手伝いを致しました。 試作機を通して、製品の使用条件、価格低減などを詰めて行くことで 製品にまでする事が出来ました。 【製品概要】 ■ジャストべベラー(パイプ材のカイサキ加工とパイプ材のメッキを剝がす装置) ■加工機寸法...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社波多製作所

  • 高周波大電流スリップリング 製品画像

    高周波大電流スリップリング

    PR高周波で大電流通電可能なスリップリングのご紹介

    従来のスリップリング、水銀式などで対応できなかった高周波大電流、13.56MHz,25Aを通電可能な1極のスリップリングです。 転動式のスリップリングは弊社独自の構造の製品です。 接触抵抗が低く安定しており、また惰性で回転する程度に回転が軽いのも特徴です。 また、高周波電流の振る舞いが複雑で予測することが困難な面もあります。 弊社ではこれまでユーザーとの情報交換で多数の不具合を解決してきた実績...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒサワ技研

  • 蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』 製品画像

    蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』

    ポリキャピラリX線光学系を採用。微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの…

    。 当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・ 素材分析に適した測定器です。 【特長】 ●最小10µmの集光レンズを搭載可   従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性能のSDDを採用   SDD(シリコンドリフトディテクタ―)を搭載したことにより、   短時間で高精度の測定が可能になりました...

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    メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

  • 蛍光X線式 膜厚測定器  汎用測定器『 XDLM 237 』 製品画像

    蛍光X線式 膜厚測定器  汎用測定器『 XDLM 237 』

    汎用性が高く、電子部品やさまざまな形状のめっき加工品などの膜厚測定や素…

    電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。 『XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や...

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    メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

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