• プローブピンセーバー(異方性導電シート) 製品画像

    プローブピンセーバー(異方性導電シート)

    PR半導体パッケージの電気検査のプローブピンへの半田転写、先端摩耗及び半田…

    『Probe Pin Saver(プローブピンセーバー)』(PPS)は、半導体パッケージの電気検査時に発生するプローブピンへの半田転写、ピンの先端摩耗及び、半導体パッケージの半田ボールダメージを抑制する異方性導電シートです。 半導体パッケージとプローブピン間へ挟んでご使用頂くことで、半田ボールとプローブピンのハードな接触を回避しますので、半田ボールに与えるダメージを軽減すると同時に、プローブピン寿...

    • PPS2.jpg

    メーカー・取り扱い企業: ユナイテッド・プレシジョン・テクノロジーズ株式会社 本社

  • 『光半導体・オプトエレクトロニクス製品』 製品画像

    『光半導体・オプトエレクトロニクス製品』

    PRオリジナル半導体メーカー認定。正規販売代理店および製造メーカーとして、…

    当社は、70社を超える半導体メーカーから認定を受けており、 正規販売代理店として製品の提供を行い、製造メーカーとして製品の継続供給も行っております。 東芝、ams OSRAM、京都セミコンダクターなど様々なメーカーの オプトエレクトロニクス製品を豊富に在庫保有しており、 安定した継続供給を実現する体制を整えています。 【特長】 ■フォトカプラ、可視光LEDなど幅広い製品の在庫を保有 ■複数のパ...

    メーカー・取り扱い企業: Rochester Electronics, Ltd.

  • プローバー用導電性ナノプローブ 製品画像

    プローバー用導電性ナノプローブ

    プローバー用導電性ナノプローブ

    マイクロおよびナノスケールでの多探針を用いたサンプル表面へのプロービングは、半導体デバイスの故障解析のための表面電気特性測定等、半導体デバイスの研究開発および生産の分野で活用されています。近年、デバイス構造の微細化に伴い、検査用プローブの先鋭化、表面酸化膜の抑制などプローブに要...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニソク

  • 4プローブ表面電気特性測定装置 製品画像

    4プローブ表面電気特性測定装置

    走査型電子顕微鏡(SEM) 観察下でのナノ/マイクロマニピュレーション…

    ブが独立したアクチュエータとして、X、Y、Zの3軸ともに ナノメートルオーダーで制御できます。 超高真空中で使用できます。 【特徴】 各プローブがアクチュエータとしてXYZ軸の制御が可能 半導体表面の任意位置で電気特性測定に最適です 小型、軽量で市販のSEMにも取り付け可能 超高真空、超低温環境でも動作可能 接触検知機能を追加いたしました (オプション設定、ピエゾ抵抗型カンチレバ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニソク

  • XYZ 3軸 ナノマニピュレータ/プローバ  製品画像

    XYZ 3軸 ナノマニピュレータ/プローバ

    SEM、FIB、光学顕微鏡観察下でのナノ/マイクロ マニピュレーション…

    格はお問い合わせください) ・市販のSEM/FIB/光学顕微鏡に組み合わせ可能 ・大気中~超高真空、常温~極低温までの広範囲な動作環境 ・マルチプロービングにも対応 ・マニピュレーション、半導体ナノデバイスのIV測定、抵抗測定、EBIC測定など幅広い用途に対応...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニソク

1〜3 件 / 全 3 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 修正デザイン2_355337.png
  • 4校_0513_tsubakimoto_300_300_226979.jpg

PR