• 『光半導体・オプトエレクトロニクス製品』 製品画像

    『光半導体・オプトエレクトロニクス製品』

    PRオリジナル半導体メーカー認定。正規販売代理店および製造メーカーとして、…

    当社は、70社を超える半導体メーカーから認定を受けており、 正規販売代理店として製品の提供を行い、製造メーカーとして製品の継続供給も行っております。 東芝、ams OSRAM、京都セミコンダクターなど様々なメーカーの オプトエレクトロニクス製品を豊富に在庫保有しており、 安定した継続供給を実現する体制を整えています。 【特長】 ■フォトカプラ、可視光LEDなど幅広い製品の在庫を保有 ■複数のパ...

    メーカー・取り扱い企業: Rochester Electronics, Ltd.

  • 新規次世代パワー半導体の研究開発拠点を開所 製品画像

    新規次世代パワー半導体の研究開発拠点を開所

    PR低損失化、高耐圧化、小型化の面で優位性を持つ、GeO2半導体の製膜事業…

    株式会社クオルテック(本社:大阪府堺市、以下「クオルテック」)は、 「滋賀県立テクノファクトリー」内に、新規半導体材料を使用した パワー半導体の製膜における研究開発拠点を開所しました。 開所式にはクオルテックが本研究開発に関して資本業務提携し、 「琵琶湖半導体構想(案)」を推進する立命館大学発ベンチャー、 Patentix株式会社(本社:滋賀県草津市)も出席し、開所式を行いました。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』 製品画像

    厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』

    非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用…

    LR』と異なる新ディテクタを採用し、約2倍の厚み測定範囲、かつより高精度に測定できるようになりました。インラインでも適用可能で、CHRocodile 2LRは多くのお客様へ実績があります。Si等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。 【特長】  ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応    豊富...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • CHRocodile 2 SX 光学式広範囲厚み測定センサ 製品画像

    CHRocodile 2 SX 光学式広範囲厚み測定センサ

    光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高…

    非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。 新製品『CHRocodile 2 SX』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。最大5kHzと高速サンプリングが可能なため、インラインでも...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 高精度非接触厚さ測定器【半導体用ウエハー】 製品画像

    高精度非接触厚さ測定器【半導体用ウエハー】

    高分解能の形状測定を実現。センサプローブの種類が豊富。平坦度や厚みのイ…

    当社は色収差共焦点・干渉を原理とした非接触タイプの測定器を取り扱っています。 膜厚測定、形状測定、粗さ測定、変位測定、外観検査に適用でき、加工中の インプロセス測定やインラインでの高速検査、オフライン測定が可能です。 各種インターフェースを用意しており、組み込み用途にも対応。 高分解能(最小XY分解能1μm~、最小Z分解能0.02μm~)で測定が行え、 製品品質の向上、製造プロセ...

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    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 厚み測定 - 光学センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』 製品画像

    厚み測定 - 光学センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』

    ドープウエハに適切な光源波長を使用し、難しいドープウエハ厚み測定に対応

    2DWシリーズ』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。ドープウエハ測定にも対応でき、インラインでも適用可能で、多くのお客様へ実績があります。サファイア、Si、SiC等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。 【特長】  ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応    豊富...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 厚み測定 - 光学センサ『CHRocodile 2ITシリーズ』 製品画像

    厚み測定 - 光学センサ『CHRocodile 2ITシリーズ』

    多種多様な材料の厚み測定、広い測定レンジから加工中と加工前後を1台で対…

    の測定も可能です。 その他の特長は、幅広い測定範囲 、大きな許容角度、様々な材質に対応できることです。 稼働ステージによるスキャンをせずに、面での測定が可能なエリアスキャナもあります。 半導体製造装置への搭載実績も多数あり、LCD製造装置、フィルムの厚みモニタリング/In-Situ/インライン検査でも使用されています。 また、スタンドアロンなどの卓上機の組み込み用センサとしても利用さ...

    • IPROS39141432144901430068.jpeg

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 小型光学式厚み/距離測定用センサ『CHRocodile C』 製品画像

    小型光学式厚み/距離測定用センサ『CHRocodile C』

    コスト重視におすすめな安価なタイプ。厚み測定、距離測定用センサ。ウエハ…

     ■高分解能(サブミクロン Zは最小8nm~)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 不透明体の非接触厚み測定 レーザフォトサーマルセンサ 導入事例有 製品画像

    不透明体の非接触厚み測定 レーザフォトサーマルセンサ 導入事例有

    不透明体の厚み高精度測定なら、Enovasenseの レーザフォトサー…

    ・1~3%以下の高精度測定が可能。   精度が不足している方にお勧め。  ・母材に依らず様々な材料の組み合わせで測定可能。 ■アプリケーション  自動車業界、航空業界、日用品、産業品、医療業界、半導体など多岐にわたる分野にて、  コーティング厚み、金属メッキ厚み、塗装膜など様々なアプリケーションで使用されています。 *現在、Enovasense社は、ドイツの光学センサメーカーのPrecite...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 3次元測定 - ラインセンサ『CHRocodile CLS』 製品画像

    3次元測定 - ラインセンサ『CHRocodile CLS』

    サブミクロン精度で高速・広範囲を3次元形状測定。エッジや斜面にも対応で…

    ° エッジや急斜面に対応可能  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    コンパクトなユニット、装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

    • IPROS74508732381755543861.jpeg

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • エリアスキャンセンサー『Flying Spot Scanner』 製品画像

    エリアスキャンセンサー『Flying Spot Scanner』

    XYステージ不要!分光干渉原理による厚みと距離(変位)測定が可能!ウエ…

    【アプリケーション】 ■家電(スマートフォン) ・等角のコーティングの厚み ・トポグラフィー ■半導体 ・高速BGA計測 ・高速基板検査 ・高速ウェハー厚み計測 ・高速反り計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

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